[實用新型]環形磁芯阻抗測試裝置

有效

• 申請號: 201821602991.0
• 申請日: 2018-09-29
• 公開（公告）號: CN209311549U
• 公開（公告）日: 2019-08-27
• 發明（設計）人: 樊成強
• 申請（專利權）人: 飛磁電子材料(東莞)有限公司
• 主分類號: G01R15/00
• 分類號: G01R15/00
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 羅曉林

本實用新型公開了一種環形磁芯阻抗測試裝置，其包括測試臺，測試臺一側設置有驅動機構，測試臺上設置有下殼體，下殼體內設置有絕緣環片，絕緣環片內開設有環形卡槽，絕緣環片于卡槽兩側分別設置有第一導電柱及第二導電柱；驅動機構設置有上殼體，上殼體與下殼體匹配對接設置，上殼體內設置有對接環片，對接環片與絕緣環片對接設置，對接環片上設置有第三導電柱及第四導電柱。本實用新型通過在測試臺上設置下殼體，配合在測試臺上方設置上殼體，利用下殼體的絕緣環片與上殼體的對接環片對接，通過第一導電柱、第二導電柱、第三導電柱及第四導電柱的相互連接，完成對環形磁芯的多匝線圈的繞制測試，實現快速操作及避免人手長時間接觸環形磁芯而造成的影響。

技術領域

本實用新型涉及磁芯檢測技術領域，尤其是涉及一種環形磁芯阻抗測試裝置。

背景技術

如圖1所示，環形磁芯進行多匝繞線測試阻抗時，需要預先在環形磁芯上繞制匝數的導線，繞制過程繁瑣耗時長，特別是遇到很多匝數要求或者很小尺寸磁芯時，更加難繞。由于磁芯繞線依靠人手，經常會出現繞制匝數不正確，或者繞制力度太大，造成磁芯內部應力影響檢測結果。

同時，小尺寸磁芯繞制后，受到人手溫度的影響，需要重新恒溫靜置，浪費時間，檢測完畢的磁芯還需要對繞上去的導線進行拆解，更加耗時耗工，繞制的導線容易出現絕緣不良，不能回收利用，浪費嚴重。

實用新型內容

基于此，有必要針對現有技術的不足，提供一種環形磁芯阻抗測試裝置，無需對環形磁芯進行導線繞制，無需拆線，避免人手長時間接觸磁芯的影響。

為解決上述技術問題，本實用新型所采用的技術方案是：一種環形磁芯阻抗測試裝置，其包括測試臺，所述測試臺一側設置有驅動機構，所述測試臺上設置有夾具座，所述夾具座內卡持有下殼體，所述下殼體內設置有絕緣環片，所述絕緣環片內開設有環形卡槽，所述絕緣環片于卡槽兩側分別設置有第一導電柱及第二導電柱，所述第一導電柱下端部與第二導電柱下端部分別通過第一導電線連接；所述驅動機構設置有驅動架，所述驅動架上設置有驅動座，所述驅動座下方設置有驅動桿，所述驅動桿上連接有驅動板，所述驅動板上設置有上殼體，所述上殼體與下殼體匹配對接設置，所述上殼體內設置有對接環片，所述對接環片與絕緣環片對接設置，所述對接環片上設置有第三導電柱及第四導電柱，所述第三導電柱與第四導電柱通過第二導電線交錯連接，所述第一導電柱與第三導電柱匹配對接設置，所述第二導電柱與第四導電柱匹配對接設置。

在其中一個實施例中，所述第二導電線分別連接在第三導電柱上端部與第四導電柱上端部。

在其中一個實施例中，所述測試臺兩側分別設置有導向柱，所述導向柱貫穿驅動板設置。

在其中一個實施例中，所述第一導電線及第二導電線為銅導線構造。

綜上所述，本實用新型環形磁芯阻抗測試裝置通過在測試臺上設置下殼體，配合在測試臺上方設置上殼體，利用下殼體的絕緣環片與上殼體的對接環片對接，通過第一導電柱、第二導電柱、第三導電柱及第四導電柱的相互連接，完成對環形磁芯的多匝線圈的繞制測試，實現快速操作及避免人手長時間接觸環形磁芯而對測試結果造成的影響。

附圖說明

圖1為本實用新型傳統環形磁芯線圈繞制的結構示意圖；

圖2為本實用新型環形磁芯阻抗測試裝置的結構示意圖；

圖3為本實用新型對接環片、環形磁芯及絕緣環片的組合型結構示意圖。

具體實施方式

為能進一步了解本實用新型的特征、技術手段以及所達到的具體目的、功能，下面結合附圖與具體實施方式對本實用新型作進一步詳細描述。