[實用新型]光電經(jīng)緯儀光學(xué)系統(tǒng)變形測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821544393.2
• 申請日: 2018-09-20
• 公開（公告）號: CN208921103U
• 公開（公告）日: 2019-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙懷學(xué);周艷;田留德;趙建科;薛勛;潘亮;胡丹丹;劉藝寧;張潔;曹昆;李坤;賽建剛;昌明
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所
• 主分類號: G01C1/02
• 分類號: G01C1/02;G01C25/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211
• 代理人: 汪海艷

1.一種光電經(jīng)緯儀光學(xué)系統(tǒng)變形測試系統(tǒng)，其特征在于：包括目標(biāo)模擬器(1)及夾持機構(gòu)(2)，所述夾持機構(gòu)(2)用于將目標(biāo)模擬器(1)固定在待測光電經(jīng)緯儀(3)上，并使得目標(biāo)模擬器(1)位于待測光電經(jīng)緯儀(3)的視場范圍內(nèi)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電經(jīng)緯儀光學(xué)系統(tǒng)變形測試系統(tǒng)，其特征在于：所述目標(biāo)模擬器(1)通過夾持機構(gòu)(2)固定在待測光電經(jīng)緯儀(3)遮光罩(4)的入光口處。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電經(jīng)緯儀光學(xué)系統(tǒng)變形測試系統(tǒng)，其特征在于：所述目標(biāo)模擬器(1)焦面放置十字絲靶標(biāo)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光電經(jīng)緯儀光學(xué)系統(tǒng)變形測試系統(tǒng)，其特征在于：所述夾持機構(gòu)(2)包括環(huán)形支撐部(21)及均布在環(huán)形支撐部外壁的至少兩個固定臂(22)，固定臂(22)的一端固定在遮光罩(4)上。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光電經(jīng)緯儀光學(xué)系統(tǒng)變形測試系統(tǒng)，其特征在于：所述目標(biāo)模擬器(1)固定在固定臂(22)上。