[實(shí)用新型]數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821540237.9 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN208902843U | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-05-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張悅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京悅芯科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 王文紅 |
| 地址: | 100000 北京市海*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 集成電路 數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng) 數(shù)據(jù)接口板 控制板卡 本實(shí)用新型 計(jì)算設(shè)備 數(shù)據(jù)傳輸 通訊電纜 板卡 芯片 集成電路技術(shù) 測(cè)試成本 測(cè)試功能 測(cè)試效率 工藝難度 通信電路 有效通信 電連接 測(cè)試 應(yīng)用 | ||
本實(shí)用新型提供一種數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、集成電路ATE(Automatic Test Equipment,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)及系統(tǒng),涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域。數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)應(yīng)用與集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,所述系統(tǒng)包括:數(shù)據(jù)接口板卡、控制板卡和通訊電纜,所述數(shù)據(jù)接口板卡內(nèi)設(shè)置有用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐ㄐ烹娐罚鰯?shù)據(jù)接口板卡分別與所述控制板卡、所述集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試功能板卡以及計(jì)算設(shè)備,通過(guò)所述通訊電纜電連接,所述控制板卡用于控制所述數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)傳輸。本實(shí)用新型實(shí)施例實(shí)現(xiàn)了集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備所包括的板卡之間、以及集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與計(jì)算設(shè)備之間的有效通信,進(jìn)而確保了對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試的可靠性,提高了芯片的測(cè)試效率,降低了測(cè)試成本和工藝難度。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、集成電路ATE(Automatic Test Equipment,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展,各種各樣芯片的應(yīng)用越來(lái)越廣泛,而為了確保芯片的可用性和可靠性,需要通過(guò)集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備對(duì)該芯片進(jìn)行測(cè)試。
現(xiàn)有技術(shù)中,集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備中設(shè)置有測(cè)試功能板卡、第一接口和第二接口。其中,測(cè)試功能板卡為具有測(cè)試功能的集成電路板,第一接口用于接入待測(cè)芯片,第二接口用于與計(jì)算機(jī)連接。當(dāng)接入待測(cè)芯片和計(jì)算機(jī)時(shí),可以通過(guò)計(jì)算機(jī)上安裝的測(cè)試軟件對(duì)測(cè)試功能板卡進(jìn)行控制,進(jìn)而對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試。但由于在現(xiàn)有技術(shù)中,集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備可能會(huì)包括一個(gè)以上的測(cè)試功能板卡,各板卡之間缺乏有效的通信方式,從而導(dǎo)致芯片的測(cè)試效率低下、測(cè)試成本較高。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于,針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備及系統(tǒng),提高了芯片的測(cè)試效率,降低了測(cè)試成本。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型實(shí)施例采用的技術(shù)方案如下:
第一方面,本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng),應(yīng)用于集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,所述系統(tǒng)包括:數(shù)據(jù)接口板卡、控制板卡和通訊電纜;
所述數(shù)據(jù)接口板卡內(nèi)設(shè)置有用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐ㄐ烹娐罚鰯?shù)據(jù)接口板卡分別與所述控制板卡、所述集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試功能板卡以及計(jì)算設(shè)備,通過(guò)所述通訊電纜電連接;
所述控制板卡用于控制所述數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)傳輸。
第二方面,本實(shí)用新型實(shí)施例還提供了一種集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,包括第一方面中任一的數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)。
第三方面,本實(shí)用新型實(shí)施例還提供了一種集成電路測(cè)試系統(tǒng),包括第二方面中的集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和計(jì)算設(shè)備,所述計(jì)算設(shè)備控制所述集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備運(yùn)行。
本實(shí)用新型的有益效果是:
在本實(shí)用新型實(shí)施例中,應(yīng)用于集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)接口板卡、控制板卡和通訊電纜。數(shù)據(jù)接口板卡內(nèi)設(shè)置有用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐ㄐ烹娐罚瑪?shù)據(jù)接口板卡分別與控制板卡、集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試功能板卡以及計(jì)算設(shè)備,通過(guò)通訊電纜電連接,從而提供了各板卡之間能夠進(jìn)行通信的硬件條件,而控制板卡能夠?qū)υ摂?shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)傳輸進(jìn)行控制,也就能夠控制各板卡之間的數(shù)據(jù)交互過(guò)程,從而實(shí)現(xiàn)集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備中板卡之間能夠互相通信。另外,數(shù)據(jù)接口板卡分別與計(jì)算設(shè)備通過(guò)通訊電纜電連接,確保了集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與計(jì)算設(shè)備之間也能夠進(jìn)行有效通信,進(jìn)而確保對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試的可靠性。也即是,本實(shí)用新型實(shí)施例實(shí)現(xiàn)了集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備所包括的板卡之間、以及集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與計(jì)算設(shè)備之間的有效通信,進(jìn)而確保了對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試的可靠性,提高了芯片的測(cè)試效率,降低了測(cè)試成本和工藝難度。
附圖說(shuō)明
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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