[實用新型]一種通止規校準裝置

有效

• 申請號: 201821500529.X
• 申請日: 2018-09-14
• 公開（公告）號: CN208818104U
• 公開（公告）日: 2019-05-03
• 發明（設計）人: 許小芳;黃博增;任金亮
• 申請（專利權）人: 山東普測檢測技術有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種通止規校準裝置，其特征在于，該通止規校準裝置包括止端（1）、止端卡套（2）、上通孔（3）、通止規（4）、通端（5）、下通孔（6）、支座（7）、第二臺階面（8）、第一臺階面（9）和通端卡套（10）；呈C型結構支座（7）上端設有一上通孔（3），下端設有一下通孔（6），且所述上通孔（3）、下通孔（6）兩者軸心重合，所述上通孔（3）內伸入一止端卡套（2），所述止端卡套（2）下端的第一臺階面（9）卡在所述上通孔（3）上端，所述止端卡套（2）內通孔為軸的最大極限尺寸，所述下通孔（6）內伸入一通端卡套（10），所述通端卡套（10）下端的第二臺階面（8）卡在所述下通孔（6）上端，所述通端卡套（10）內通孔為軸的最小極限尺寸，通止規（4）的通端（5）豎直向下插入所述止端卡套（2）的通孔。

2.如權利要求1所述的通止規校準裝置，其特征在于，所述止端卡套（2）、通端卡套（10）與所述上通孔（3）軸線重合。

3.如權利要求2所述的通止規校準裝置，其特征在于，所述止端卡套（2）與所述上通孔（3）采用間隙配合。

4.如權利要求2所述的通止規校準裝置，其特征在于，所述通端卡套（10）與所述下通孔（6）采用間隙配合。

5.如權利要求1所述的通止規校準裝置，其特征在于，所述止端卡套（2）、通端卡套（10）采用鋁鎂合金或大理石材料制成。

6.如權利要求1所述的通止規校準裝置，其特征在于，所述支座（7）上與所述第二臺階面（8）、第一臺階面（9）兩面配合面的平面度為0.005mm。

7.如權利要求4所述的通止規校準裝置，其特征在于，所述第二臺階面（8）、第一臺階面（9）兩面的平面度為0.005mm。

8.如權利要求1所述的通止規校準裝置，其特征在于，所述支座（7）采用大理石材料制成。