[實用新型]LED燈珠老化測試的組合式半導體制冷溫度調控平臺

有效

• 申請號: 201821497738.3
• 申請日: 2018-09-13
• 公開（公告）號: CN208751992U
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發明（設計）人: 覃洪宇
• 申請（專利權）人: 廣州市奧冷電子科技發展有限公司
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 張澤鋒

1.LED燈珠老化測試的組合式半導體制冷溫度調控平臺，其特征在于，包括冷端水冷板、半導體制冷片、隔溫板、制冷片熱端散熱水冷板和殼體；所述冷端水冷板內部為中部空心結構，冷端水冷板設有冷端進水口和冷端出水口；所述隔溫板與殼體蓋合，隔溫板中設有冷端水冷板的卡槽；所述半導體制冷片由冷端水冷板和制冷片熱端散熱水冷板夾緊，半導體制冷片裝在殼體內；所述制冷片熱端散熱水冷板設有密閉的冷卻水腔，冷卻水腔設有熱端進水口和熱端出水口。

2.根據權利要求1所述的LED燈珠老化測試的組合式半導體制冷溫度調控平臺，其特征在于，還包括儲冷塊，所述儲冷塊夾在冷端水冷板、半導體制冷片之間。

3.根據權利要求2所述的LED燈珠老化測試的組合式半導體制冷溫度調控平臺，所述冷端水冷板的數目為兩個，所述儲冷塊的數目為兩個，所述半導體制冷片的數目為四個。

4.根據權利要求1所述的LED燈珠老化測試的組合式半導體制冷溫度調控平臺，其特征在于，所述殼體的形狀為長方體，殼體的一個側面設有手柄。

5.根據權利要求1所述的LED燈珠老化測試的組合式半導體制冷溫度調控平臺，所述殼體的側面還設有一個防水接頭。