[實用新型]半導體激光器數值孔徑自動測試設備

有效

• 申請號: 201821438158.7
• 申請日: 2018-09-03
• 公開（公告）號: CN208780433U
• 公開（公告）日: 2019-04-23
• 發明（設計）人: 文少劍;黃海翔;廖東升
• 申請（專利權）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王寧

一種半導體激光器數值孔徑自動測試設備，包括工作臺、功率檢測裝置、光纖移動裝置、及連接功率檢測裝置的數據處理裝置；功率檢測裝置包括光功率計探頭、安裝在光功率計探頭上的光闌、及連接光功率計探頭的功率采集器；數據處理裝置連接功率采集器，并讀取功率采集器的功率檢測數據；光纖移動裝置包括位移控制機構，位移控制機構包括導軌組件、滑動設置在導軌組件上的位移臺、及驅動位移臺相對導軌組件移動的驅動組件。通過光纖移動裝置對輸出光纖進行移動，及功率采集裝置對輸出光纖的輸出功率進行檢測，數據處理裝置根據輸出光纖與光闌之間的距離分析得出半導體激光器輸出的最大數值孔徑的具體大小，從而自動完成最大數值孔徑的測量。

技術領域

本實用新型涉及半導體激光器測試技術，特別是涉及一種半導體激光器數值孔徑自動測試設備。

背景技術

半導體激光器具有體積小、效率高、使用方便等特點，因而得到了廣泛的應用。半導體激光器在應用時，為方便調整輸出方向，一般通過輸出光纖將進行激光光線的輸出，半導體激光器光線一般通過聚焦透鏡以一定角度入射到輸出光纖，不同的激光光線入射輸出光纖的角度可能不一樣，半導體激光器輸出的最大數值孔徑是一項重要的參數，輸出的最大數值孔徑越小，則輸出光纖出射的激光光束越集中，對激光光束應用時的熔接效率產生較大影響。在對半導體激光器輸出的最大數值孔徑進行測量時，然而現有技術從輸出光纖的輸出端檢測半導體激光器的最大數值孔徑時，一般通過人工對測量操作，導致半導體激光器輸出的最大數值孔徑測量效率低下。

實用新型內容

基于此，有必要提供一種能自動測量出半導體激光器輸出最大數值孔徑具體大小的半導體激光器數值孔徑自動測試設備。

一種半導體激光器數值孔徑自動測試設備，包括：工作臺、安裝在所述工作臺上的功率檢測裝置、安裝在所述工作臺上的光纖移動裝置、及連接所述功率檢測裝置的數據處理裝置；所述功率檢測裝置包括光功率計探頭、安裝在所述光功率計探頭上的光闌、及連接所述光功率計探頭的功率采集器；所述光功率計探頭上設有感應面，所述光闌的通光孔與所述光功率計探頭的感應面對應；所述數據處理裝置連接所述功率采集器，并讀取所述功率采集器的功率檢測數據；所述光纖移動裝置包括位移控制機構，所述位移控制機構包括導軌組件、滑動設置在所述導軌組件上的位移臺、及驅動所述位移臺相對所述導軌組件移動的驅動組件；所述導軌組件的延伸方向與所述通光孔對應；所述驅動組件向所述數據處理裝置反饋所述位移臺相對所述導軌組件的移動距離。

上述半導體激光器數值孔徑自動測試設備，通過光纖移動裝置對輸出光纖進行移動，及功率采集裝置對輸出光纖的輸出功率進行檢測，當輸出光纖經過臨界位置時，功率采集裝置采集到的功率檢測數據在恒定狀態與漸變狀態之間發生變化，數據處理裝置根據功率檢測數據發生變化時，輸出光纖與光闌之間的距離及通光孔的直徑分析得出半導體激光器輸出的最大數值孔徑的具體大小，從而自動完成半導體激光器輸出的最大數值孔徑的測量，提高測量效率。

在其中一個實施例中，所述驅動組件包括連接導軌組件的驅動電機、轉動安裝在所述導軌組件上的絲桿軸、及安裝在所述絲桿軸上的絲桿螺母；所述驅動電機的輸出軸連接所述絲桿軸的一端，所述絲桿螺母連接所述位移臺。

在其中一個實施例中，所述位移控制機構還包括復位檢測組件，所述復位檢測組件包括連接所述位移臺的感應片、及與所述感應片對應的感應開關；所述感應開關與所述驅動電機的控制電路連接，所述感應開關安裝在所述導軌組件上。

在其中一個實施例中，所述光纖移動裝置還包括夾持機構，所述夾持機構包括安裝在所述位移臺上的承纖座、及轉動設置在所述承纖座上的壓片；所述承纖座上設有容纖槽，所述容纖槽與所述通光孔對應；所述壓片的內側與所述容纖槽對應。

在其中一個實施例中，所述夾持機構還包括安裝在所述位移臺上的延伸塊，所述承纖座通過所述延伸塊安裝在所述位移臺上。

在其中一個實施例中，還包括安裝在所述工作臺上的水冷板。