[實用新型]一種二極管探針測試夾

有效

• 申請號: 201821431995.7
• 申請日: 2018-09-03
• 公開（公告）號: CN209070067U
• 公開（公告）日: 2019-07-05
• 發明（設計）人: 郟金鵬;王雙
• 申請（專利權）人: 江蘇佑風微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 常州市華信天成專利代理事務所(普通合伙) 32294
• 代理人: 何學成

本實用新型公開了一種二極管探針測試夾，包括第一塑料外殼和第二塑料外殼，所述的第一塑料外殼頂部表面且接近其背面的位置固定連接有第一轉動連接片，所述的第一塑料外殼頂部表面且接近其正面的位置固定連接有第二轉動連接片，所述的第一轉動連接片和第二轉動連接片重疊部位表面的中間位置均貫穿開設有轉動孔，本實用新型涉及二極管測試設備技術領域。該一種二極管探針測試夾，達到了有利于降低生產成本的目的，測試時形成四線開爾文接線方案，解決了大電流測試時的阻抗接觸測試精度問題，且徹底避免了編帶材料的浪費，以及返工工時浪費問題，降低了返編機臺的損耗，節約了編帶返工費用，同時縮短了訂單交期。

技術領域

本實用新型涉及二極管測試設備技術領域，具體為一種二極管探針測試夾。

背景技術

目前半導體分立器件的發展趨勢越來越微型化，伴隨著市場競爭的越發激烈，半導體芯片封測廠對于品質控制變得更加嚴格，半導體分立器件除在制程中的最后一道TMTT測試工序對有缺陷半導體器件進行挑選外，為了排除掉TMTT測試工序到出廠時這段流程中可能存在的對器件的損傷及缺陷品逃逸風險，在OQC出廠檢時增加了電性能抽測的動作作為應對，進一步提高半導體成品器件的出廠質量，消除半導體器件的早期失效率。現有的針對已編帶的成品抽檢，因產品密封在縫合的編帶內，因此品質人員需要將已編的編帶拆掉進行產品測試，對編帶材料產生了大量的浪費的同時，亦造成了人工工時的浪費，以及重新上機返編的機臺損耗。

實用新型內容

(一)解決的技術問題

針對現有技術的不足，本實用新型提供了一種二極管探針測試夾，解決了現有的針對已編帶的成品抽檢，因產品密封在縫合的編帶內，因此品質人員需要將已編的編帶拆掉進行產品測試，對編帶材料產生了大量的浪費的同時，亦造成了人工工時的浪費，以及重新上機返編的機臺損耗的問題。

(二)技術方案

實現以上目的，本實用新型通過以下技術方案予以實現：一種二極管探針測試夾，包括第一塑料外殼和第二塑料外殼，所述的第一塑料外殼頂部表面且接近其背面的位置固定連接有第一轉動連接片，所述的第一塑料外殼頂部表面且接近其正面的位置固定連接有第二轉動連接片，所述的第一轉動連接片和第二轉動連接片重疊部位表面的中間位置均貫穿開設有轉動孔，所述的第一塑料外殼和第二塑料外殼頂部表面設置有固定夾套，所述的固定夾套正面與背面的中間位置均貫穿開設有旋轉固定孔，所述的旋轉固定孔表面螺紋連接有固定螺母，所述的固定螺母遠離固定夾套正面的一端通過旋轉固定孔貫穿固定夾套背面且延伸至其外部，所述的第一塑料外殼和第二塑料外殼的內腔的中間位置從左至右依次縱向貫穿開設有第二導線通孔和第一導線通孔，所述的第二導線通孔和第一導線通孔內分別卡設有第二導線和第一導線，所述的第一導線和第二導線的底端均貫穿第一塑料外殼和第二塑料外殼的底部且延伸至其外部，且所述的第一導線和第二導線底端連接有探針，所述的第一導線和第二導線遠離探針的一端貫穿固定夾套的頂部且延伸至其外部，所述的第一導線和第二導線外表面且位于固定夾套的位置均套設有固定防護套，所述的固定防護套底部與固定夾套之間固定連接。

優選的，所述的第一導線和第二導線均由銅軸線制成。

優選的，所述的旋轉固定孔表面均開設有螺紋，所述的旋轉固定孔和轉動孔二者相對齊。

優選的，所述的第一塑料外殼和第二塑料外殼并排放置，所述的轉動孔表面與固定螺母的螺桿之間轉動連接。

優選的，所述的第一轉動連接片和第二轉動連接片分別與第一塑料外殼和第二塑料外殼之間通過一體式注塑成型。

優選的，所述的第一轉動連接片和第二轉動連接片規格相同，且所述的第一轉動連接片和第二轉動連接片頂部呈開口向下的弧形，且其頂部均與固定夾套頂部下表面之間存在一定的間距。

(三)有益效果

本實用新型提供了一種二極管探針測試夾。具備以下有益效果：