[實用新型]一種測試MESH框好壞的設備

有效

• 申請號: 201821403091.3
• 申請日: 2018-08-29
• 公開（公告）號: CN208833855U
• 公開（公告）日: 2019-05-07
• 發明（設計）人: 李景潤;鄭修武;張俊華;江彬
• 申請（專利權）人: 福建新大陸支付技術有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 福州元創專利商標代理有限公司 35100
• 代理人: 蔡學俊

本實用新型提出一種測試MESH框好壞的設備，所述設備包括控制模塊、底座、MESH框限位機構、下壓托盤、測試模塊；所述MESH框限位機構設于底座上端面；所述測試模塊包括底座上的電路板和下壓托盤下部的測試頂針；當待測試的MESH框被MESH框限位機構限位固定，下壓托盤下移至測試作業位時，測試模塊的電路板與MESH框的第一測試位相接；下壓托盤的測試頂針與MESH框的第二測試位相接，使測試頂針、MESH框和測試模塊的電路板之間形成MESH框測試回路；本實用新型通用性強，可以對MESH框進行半自動測試。

技術領域

本實用新型涉及測試設備技術領域，尤其是一種測試MESH框好壞的設備。

背景技術

在目前，MESH框的物料檢驗領域，多采用人工目測或者用萬用表簡單測試方案，而原廠的MESH框測試設備價格昂貴，這就造成測試效率低且不能完全篩查出不良品，導致生產周期變成，成本提高等不利因素，為了實現高效的半自動化測試，就要求一種通用性強，可以半自動測試MESH框的方案。

發明內容

本實用新型提出一種測試MESH框好壞的設備，通用性強，可以對MESH框進行半自動測試。

本實用新型采用以下技術方案。

一種測試MESH框好壞的設備，所述設備包括控制模塊、底座、MESH框限位機構、下壓托盤、測試模塊；所述MESH框限位機構設于底座上端面；所述測試模塊包括底座上的電路板和下壓托盤下部的測試頂針；當待測試的MESH框被MESH框限位機構限位固定，下壓托盤下移至測試作業位時，測試模塊的電路板與MESH框的第一測試位相接；下壓托盤的測試頂針與MESH框的第二測試位相接，使測試頂針、MESH框和測試模塊的電路板之間形成MESH框測試回路。

所述MESH框測試回路內包括電阻表、電流表和高壓輸出設備。

所述設備對MESH框的測試作業包括框內線路斷路測試和框內線路短路測試。

當所述設備進行框內線路斷路測試時，所述電阻表與MESH框內被測試線的兩個測試點相接，當電阻表測知的兩測試點間電阻值大于閾值時，所述測試模塊提示線路斷路。

當所述設備進行框內線路短路測試時，所述高壓輸出設備與電流表相連形成高壓測試機構，所述高壓測試機構與MESH框內被測試位的兩個測試點相接形成高壓測試回路并輸出高電壓，當電流表測知的兩測試點間的漏電電流大于閾值時，所述測試模塊提示線路短路。

所述MESH框由人工放入MESH框限位機構，當下壓托盤下移至測試作業位時，測試模塊啟動測試作業。

所述測試模塊還包括用于顯示測試結果的LED指示燈。

所述底座上端面處設有豎向的支架，所述支架處設有電流表安裝位和電壓表安裝位。

本實用新型由于能對MESH框進行半自動測試，測試效率高，而且通過更換不同的MESH框限位機構、下壓托盤，可以適配多種MESH框進行測試，具備較強的通用性，從而解決了大批量生產中MESH框測試效率低，以及因MESH框不良而造成返工和客訴等傳統制造問題。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本發明進一步詳細的說明：

附圖1是本實用新型的示意圖；

附圖2是本實用新型的原理示意圖；

附圖3是本實用新型的另一原理示意圖；

附圖4是本實用新型的部分電路示意圖；

附圖5是本實用新型的另一部分電路示意圖；

圖中：1-底座；2-測試頂針；3-下壓托盤；4-MESH框；5-MESH框限位機構；6-電流表安裝位；7-電壓表安裝位。