[實用新型]一種芯片測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821402329.0
• 申請日: 2018-08-29
• 公開（公告）號: CN209148833U
• 公開（公告）日: 2019-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李曉龍;王連生;趙榮杰
• 申請（專利權(quán)）人: 中國神華能源股份有限公司;神華神東煤炭集團有限責任公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京邦信陽專利商標代理有限公司 11012
• 代理人: 崔華

本實用新型提出一種芯片測試裝置，包括：分壓電阻、輸出指示燈、電壓表、撥碼器、轉(zhuǎn)換開關(guān)、芯片測試座、電源和電源輸入接口；電源通過電源輸入接口輸入，電源分為兩路，一路電源連接芯片測試座，一路電源連接分壓電阻，分壓電阻為多個串聯(lián)的電阻，在分壓電阻的電阻中取高電位和低電位分別作為被測芯片的同相端和反相端，在高電位和低電位中間串接轉(zhuǎn)換開關(guān)以實現(xiàn)被測芯片的同相端和反相端的輸入電位進行高低切換。本實用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中沒有簡單有效的方法測試LM324N和LM224N元件的好壞，使得一旦出現(xiàn)故障就需要更換整個元件，造成礦企生產(chǎn)成本上升的技術(shù)問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及機電領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片測試裝置。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中，LM324N和LM224N四路運算放大器常用于煤礦QBZ-30、QBZ2-30真空電磁啟動，以及用在ZBZ-4.0煤電鉆綜保和ZBZ-4.0(M)照明綜保等保護插件關(guān)鍵元件上。上述元件由于井下供電環(huán)境復(fù)雜屬易損元件，但是目前沒有簡單有效的方法測試上述元件的好壞，使得一旦出現(xiàn)故障就需要更換整個元件，造成礦企生產(chǎn)成本上升。

實用新型內(nèi)容

基于以上問題，本實用新型提出一種芯片測試裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)中沒有簡單有效的方法測試LM324N和LM224N元件的好壞，使得一旦出現(xiàn)故障就需要更換整個元件，造成礦企生產(chǎn)成本上升的技術(shù)問題。

本實用新型提出一種芯片測試裝置，包括：

分壓電阻、輸出指示燈、電壓表、撥碼器、轉(zhuǎn)換開關(guān)、芯片測試座、電源和電源輸入接口；

電源通過電源輸入接口輸入，電源分為兩路，一路電源連接芯片測試座，一路電源連接分壓電阻，分壓電阻為多個串聯(lián)的電阻，在分壓電阻的電阻中取高電位和低電位分別作為被測芯片的同相端和反相端，在高電位和低電位中間串接轉(zhuǎn)換開關(guān)以實現(xiàn)被測芯片的同相端和反相端的輸入電位進行高低切換，輸出指示燈與撥碼器并接被測芯片的輸出腳，被測芯片在測試時安裝在芯片測試座上，電壓表一端與電源的負極連接，電壓表另一端連接撥碼器的公共觸點。

此外，所述分壓電阻為4個串聯(lián)的電阻。

此外，分壓電阻、輸出指示燈、電壓表、撥碼器、轉(zhuǎn)換開關(guān)、芯片測試座、電源和電源輸入接口焊接在PCB電路板上。

此外，所述電源輸入接口為USB接口，USB接口焊接在PCB電路板的邊緣處。

此外，所述輸出指示燈1與撥碼器并接被測芯片的輸出腳包括：撥碼器的每一個引腳對應(yīng)一個指示燈，共有4組引腳和指示燈，每組引腳和指示燈并聯(lián)接入被測芯片的一個輸出引腳。

此外，所述電源為5V電源。

通過采用上述技術(shù)方案，具有如下有益效果：

本實用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中沒有簡單有效的方法測試LM324N和LM224N元件的好壞，使得一旦出現(xiàn)故障就需要更換整個元件，造成礦企生產(chǎn)成本上升的技術(shù)問題。本實施例能夠簡單方便的檢測LM324N和LM224N中的芯片是否損壞，從而使其僅更換芯片即可。

附圖說明

圖1是本實用新型一個實施例提供的芯片測試裝置的電路原理圖；

圖2是本實用新型一個實施例提供的芯片測試裝置的示意圖。

具體實施方式

以下結(jié)合具體實施方案和附圖對本實用新型進行進一步的詳細描述。其只意在詳細闡述本實用新型的具體實施方案，并不對本實用新型產(chǎn)生任何限制，本實用新型的保護范圍以權(quán)利要求書為準。

參照圖1，本實用新型提出一種芯片測試裝置，包括：

分壓電阻2、輸出指示燈1、電壓表3、撥碼器6、轉(zhuǎn)換開關(guān)4、芯片測試座5、電源7和電源輸入接口8，