[實用新型]利用千安級放電電流測量試品動態電阻的裝置系統

有效

• 申請號: 201821394550.6
• 申請日: 2018-08-28
• 公開（公告）號: CN208921786U
• 公開（公告）日: 2019-05-31
• 發明（設計）人: 王亮;邱凌;劉楠康;潘濤;邵華鋒;滕廣逸;李雄
• 申請（專利權）人: 武漢新電電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08
• 代理公司: 武漢維創品智專利代理事務所(特殊普通合伙) 42239
• 代理人: 余麗霞

1.利用千安級放電電流測量試品動態電阻的裝置系統，其特征在于，包括沖擊電流源(1)、電流導線(2)、被試品(3)、電流表(4)、試品電壓測量回路(5)、電磁感應電壓補償回路(6)和電壓表(7)；

所述沖擊電流源(1)、電流導線(2)、被試品(3)和電流表(4)串聯組成千安級放電回路，當沖擊電流源(1)產生的沖擊電流作用到被試品(3)時，在被試品(3)上形成一定幅值和時間長度的電壓降；

所述電磁感應電壓補償回路(6)是一個與試品電壓測量回路(5)空間耦合磁場面積和強度相等，且方向相同的耦合線圈，用于抵消試品電壓測量回路(5)空間耦合的電磁感應電壓，所述試品電壓測量回路(5)、電磁感應電壓補償回路(6)、電壓表(7)串接后并接到被試品(3)的兩端；

所述電壓表(7)，用于測量沖擊電流源(1)作用在被試品(3)上的電壓降，且所述電壓表(7)測量的電壓降，與被試品(3)上沖擊電流源(1)作用的電壓降在幅值和相位保持一致，從而得到被試品(3)的動態電阻。

2.根據權利要求1所述的利用千安級放電電流測量試品動態電阻的裝置系統，其特征在于，所述試品電壓測量回路(5)由第一信號線(51)和第二信號線(52)構成，所述電磁感應電壓補償回路(6)由第三信號線(61)和第四信號線(62)構成；其中所述第一信號線(51)和第二信號線(52)分別對應與第三信號線(61)和第四信號線(62)雙絞在一起，對應雙絞的信號線均用金屬網屏蔽構成兩芯屏蔽線(8)，所述金屬網構建的屏蔽層(8a)的一端與電壓表(7)內部參考電位短接。

3.根據權利要求2所述的利用千安級放電電流測量試品動態電阻的裝置系統，其特征在于，所述第一信號線(51)和第二信號線(52)在被試品的一端并聯在被試品(3)的兩端；所述第三信號線(61)和第四信號線(62)在被試品側的一端并聯在與被試品(3)相同路徑的導電體(9)的兩端；

所述第一信號線(51)和第三信號線(61)在電壓表(7)側的一端直接短接，所述第二信號線(52)和第四信號線(62)在電壓表(7)側的一端通過電壓表(7)串聯。