[實用新型]一種改良的COC老化測試設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821370085.2
• 申請日: 2018-08-24
• 公開（公告）號: CN208752171U
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發(fā)明（設計）人: 李家桐
• 申請（專利權）人: 天津市菲萊科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及芯片檢測設備技術領域，尤其為一種改良的COC老化測試設備，包括箱體，箱體的上方設有功能區(qū)，功能區(qū)的一側設有測試區(qū)，測試區(qū)的下方設有備用區(qū)，備用區(qū)內部的上方設有隔板，隔板的一側設有拉門，拉門一側的兩端連接有翻轉箱，翻轉箱之間設置有方盒；隔板的中心處卡接有平臺，翻轉箱的頂端開設有齒輪腔，齒輪腔的內部設置有齒輪，翻轉箱的一側設置有齒條；該改良的COC老化測試設備，拉動拉門帶動齒條移動，使齒輪向后轉動，從而帶動與之嚙合的平臺向下翻轉，置于其上的芯片便滑入方盒中，此方式操作簡單便捷，維持了測試區(qū)內的溫度，節(jié)省了用電成本，且工作的連續(xù)性極好，從而大大的提高了工作效率。

技術領域

本實用新型涉及芯片檢測設備技術領域，具體為一種改良的COC老化測試設備。

背景技術

老化試驗主要是指針對橡膠、塑料產品、電子芯片及其他材料進行的熱氧老化試驗，或者針對電子零配件、塑化產品的換氣老化試驗，其中COC芯片的高低溫老化測試，能測試出它處在高低溫環(huán)境中的工作性能，讓廠家根據其測試結果來調試改進芯片，使其成熟穩(wěn)定，然而在進行高低溫測試結束時，需等待一段時間，讓設備內部溫度趨于正常時，才進行拿取，這樣浪費了等待時間，影響后續(xù)芯片的測試工作，嚴重影響了工作效率，鑒于此，我們提出一種改良的COC老化測試設備。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種改良的COC老化測試設備，以解決上述背景技術中提出的在老化測試設備測試完，需等待才取拿芯片，嚴重影響后續(xù)芯片測試工作問題。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術方案：

一種改良的COC老化測試設備，包括箱體，所述箱體的上方設有功能區(qū)，所述功能區(qū)的一側設有測試區(qū)，所述測試區(qū)的下方設有備用區(qū)，所述備用區(qū)內部的上方設有隔板，所述隔板的一側設有拉門，所述拉門一側的兩端連接有翻轉箱，所述翻轉箱之間設置有方盒；所述隔板的中心處開設有方孔，所述方孔的內部卡接有平臺，所述隔板的前端嵌設有若干磁鐵，所述隔板的底面開設有方槽，所述方槽的一側且位于所述方孔的內側開設有轉孔，所述翻轉箱的頂端開設有齒輪腔，所述齒輪腔的內部設置有齒輪，所述翻轉箱的一側且靠近底端處開設有齒條口，所述齒條口的一側設置有齒條，所述齒條的一端焊接有連接頭。

優(yōu)選的，所述隔板焊接于所述測試區(qū)與所述備用區(qū)之間，所述翻轉箱通過螺釘固定于所述備用區(qū)的兩側，所述方盒位于所述平臺的正下方。

優(yōu)選的，所述平臺的兩側中心處焊接有卡柱，所述卡柱的外端設有齒槽，所述轉孔與所述方槽和所述方孔均相連通，所述卡柱與所述轉孔插接配合，所述齒槽與所述齒輪嚙合。

優(yōu)選的，所述拉門與所述隔板通過磁鐵磁性連接，所述拉門的一側且靠近底端處焊接有連接塊，所述連接塊與所述連接頭鉸接。

優(yōu)選的，所述齒輪通過軸與所述齒輪腔連接，所述齒輪腔與所述齒條口相連通，所述齒輪與所述齒條嚙合。

與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的有益效果是：該改良的COC老化測試設備，拉動拉門帶動齒條移動，使齒輪向后轉動，從而帶動與之嚙合的平臺向下翻轉，置于其上的芯片便滑入方盒中，此方式操作簡單便捷，維持了測試區(qū)內的溫度，節(jié)省了用電成本，且工作的連續(xù)性極好，從而大大的提高了工作效率。

附圖說明

圖1為本實用新型的整體結構示意圖；

圖2為本實用新型中的A放大結構示意圖；

圖3為本實用新型中的隔板結構示意圖；

圖4為本實用新型中的平臺結構示意圖；

圖5為本實用新型中的拉門結構示意圖；

圖6為本實用新型中的翻轉箱結構示意圖。