[實用新型]一種芯塊尺寸測量裝置有效
| 申請號: | 201821355280.8 | 申請日: | 2018-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN208606707U | 公開(公告)日: | 2019-03-15 |
| 發明(設計)人: | 凌云;何勇;楊學光;黃田;易茂麗;杜維誼;楊通高;閻秋;梁君 | 申請(專利權)人: | 成都術有云視覺科技有限公司;中核建中核燃料元件有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G01B11/26 |
| 代理公司: | 成都眾恒智合專利代理事務所(普通合伙) 51239 | 代理人: | 唐健玲 |
| 地址: | 610000 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電動平移臺 芯塊 尺寸測量裝置 幾何尺寸測量 一維直線運動 定位工裝 定位凸起 掃描支架 掃描裝置 定位架 線激光 料盤 種芯 位移測量傳感器 本實用新型 測量精度高 光學發射器 光學接收器 電動平移 中部芯塊 集成度 定位槽 光柵尺 調試 相抵 | ||
1.一種芯塊尺寸測量裝置,其特征在于,包括平臺(1)、一維直線運動裝置、芯塊定位工裝、特制料盤(12)、幾何尺寸測量結構和線激光掃描裝置;所述一維直線運動裝置包括設置在平臺上的電動平移臺(2),及設置在電動平移臺側面的光柵尺(3),所述芯塊定位工裝包括設置在電動平移臺上的定位架(4),及設置在定位架上方中部芯塊定位凸起(5),所述芯塊定位凸起上設有與待測芯塊相匹配的定位槽;所述特制料盤設置在平臺上、并與電動平移臺(2)前端相抵;所述幾何尺寸測量結構包括設置平臺上的光學發射器(6)和光學接收器(7),所述光學發射器與光學接收器對稱設置在電動平移臺(2)兩側;所述線激光掃描裝置包括設置在平臺上的掃描支架(8),及設置在掃描支架上并位于電動平移臺正上方的位移測量傳感器(9)。
2.根據權利要求1所述的一種芯塊尺寸測量裝置,其特征在于,所述位移測量傳感器(9)、光學發射器(6)和光學接收器(7)位于同一縱向平面上。
3.根據權利要求1或2所述的一種芯塊尺寸測量裝置,其特征在于,所述掃描支架(8)為門形掃描支架或L形掃描支架。
4.根據權利要求3所述的一種芯塊尺寸測量裝置,其特征在于,還包括設置在最外圍的長方體形防護罩(10),所述平臺(1)即設置在防護罩內底部,所述防護罩正面設置為平開門,防護罩兩側可拆卸安裝有檢修隔板。
5.根據權利要求4所述的一種芯塊尺寸測量裝置,其特征在于,所述防護罩(10)底部均勻設有至少三個支撐柱(11)。
6.根據權利要求1或5所述的一種芯塊尺寸測量裝置,其特征在于,所述特制料盤(12)呈長方體形,其上方均勻設有若干與待測芯塊相匹配的安裝槽。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于成都術有云視覺科技有限公司;中核建中核燃料元件有限公司,未經成都術有云視覺科技有限公司;中核建中核燃料元件有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201821355280.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種二次元測試系統
- 下一篇:基于CCD的通用型產品自動檢測結構





