[實(shí)用新型]電場探頭

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821345647.8
• 申請日: 2018-08-21
• 公開（公告）號: CN208818764U
• 公開（公告）日: 2019-05-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃增鋒;萬峰;陳光勝
• 申請（專利權(quán)）人: 上海東軟載波微電子有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R1/04
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 李笑笑;吳敏

一種電場探頭，所述電場探頭包括：感應(yīng)探頭、同軸線和連接頭，所述感應(yīng)探頭包括：兩個(gè)線狀金屬導(dǎo)體和包裹所述金屬導(dǎo)體的絕緣材料，所述同軸線包括：芯線及其包裹所述芯線的絕緣材料、屏蔽層和絕緣外殼，所述連接頭包括：探針和外殼，其中：所述兩個(gè)線狀金屬導(dǎo)體之間呈90度夾角；所述芯線，耦接在所述金屬導(dǎo)體與所述連接頭的探針之間；所述屏蔽層，第一端口開路，第二端口與所述連接頭的外殼連接。應(yīng)用上述電場探頭，成本較低、性能較好。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及電磁場技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電場探頭。

背景技術(shù)

隨著無線電子技術(shù)的發(fā)展，無線電子產(chǎn)品的市場占有率越來越高。而無線電子產(chǎn)品容易存在輻射干擾等問題，必須要通過電磁干擾(Electro-Magnetic Interference，EMI)認(rèn)證才能進(jìn)行銷售。

現(xiàn)有的EMI認(rèn)證機(jī)構(gòu)主要通過各類標(biāo)準(zhǔn)天線進(jìn)行輻射泄漏的測試，在微波暗室中進(jìn)行遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場測量，可以準(zhǔn)確、定量地測試被測產(chǎn)品是否符合相應(yīng)的EMI認(rèn)證規(guī)范。但是，一方面，遠(yuǎn)場測試需要在特定的微波暗室環(huán)境進(jìn)行，而建造微波暗室需要的建造成本和維護(hù)成本都非常高，一般公司沒有這樣的條件；另一方面，遠(yuǎn)場測試只能得知產(chǎn)品是否通過認(rèn)證，無法確認(rèn)輻射干擾源來自于產(chǎn)品的具體位置。而近場測量則可以解決以上兩個(gè)問題：1、近場測量不需要在微波暗室進(jìn)行，在普通非屏蔽的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境就可以測量，故成本較低。2、近場測量可以定位干擾源的具體位置，方便工程師解決輻射干擾問題。

對于近場測試，性能良好的電場探頭，有助于提高通過認(rèn)證預(yù)測的效率，是EMI近場測試的重要組成部分。在現(xiàn)有的產(chǎn)品中，用于EMI近場測試的電場探頭要么實(shí)現(xiàn)過于復(fù)雜、成本較高，要么效率低、測試性能差。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型解決的技術(shù)問題是對于EMI近場測試，如何提供一種成本較低、性能較好的電場探頭。

為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種電場探頭，包括：感應(yīng)探頭、同軸線和連接頭，所述感應(yīng)探頭包括：兩個(gè)線狀金屬導(dǎo)體和包裹所述金屬導(dǎo)體的絕緣材料，所述同軸線包括：芯線及其包裹所述芯線的絕緣材料、屏蔽層和絕緣外殼，所述連接頭包括：探針和外殼，其中：所述兩個(gè)線狀金屬導(dǎo)體之間呈90度夾角；所述芯線，耦接在所述金屬導(dǎo)體與所述連接頭的探針之間；所述屏蔽層，第一端口開路，第二端口與所述連接頭的外殼連接。

可選地，所述金屬導(dǎo)體為以下任意一種形狀：線狀、螺旋狀、球狀。

可選地，所述同軸線為：柔性同軸線或者半鋼同軸線。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型實(shí)施例的技術(shù)方案具有以下有益效果：

本實(shí)用新型實(shí)施例提供的電場探頭，一方面，結(jié)構(gòu)簡單，成本較低；另一方面，屏蔽層第一端口開路，第二端口與連接頭的外殼連接，可以屏蔽外部干擾信號，提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。此外，由于金屬導(dǎo)體和同軸線外表面均包裹有絕緣材料，避免了短路風(fēng)險(xiǎn)，可以進(jìn)一步增強(qiáng)測試結(jié)果的可靠性。故上述電場探頭成本較低、性能較好、使用安全。同時(shí)，通過呈90度夾角的兩個(gè)線狀金屬導(dǎo)體，可同時(shí)接收互相垂直的兩個(gè)方向的電場感應(yīng)信號，提高檢測效率。

進(jìn)一步，采用柔性同軸線，彎折性好，便于感應(yīng)探頭伸入待測產(chǎn)品內(nèi)部的不同位置，具有方便靈活的優(yōu)點(diǎn)。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種電場探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種電場探頭的連接關(guān)系的示意圖。

具體實(shí)施方式

對于近場測試，性能良好的電場探頭，有助于提高通過認(rèn)證測試的效率，是EMI近場測試的重要組成部分。在現(xiàn)有的產(chǎn)品中，用于EMI近場測試的電場探頭要么實(shí)現(xiàn)過于復(fù)雜、成本較高，要么效率低、測試性能差。