[實用新型]芯片檢測裝置有效
| 申請號: | 201821337023.1 | 申請日: | 2018-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN209296872U | 公開(公告)日: | 2019-08-23 |
| 發明(設計)人: | 鐘黨新 | 申請(專利權)人: | 深圳市匯浦工業設備有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 移動座 探針固定板 支撐板 底座 芯片檢測裝置 本實用新型 導軌 電子產品檢測 底座垂直 檢測裝置 控制按鈕 損壞率 置物板 彈簧 豎向 探針 顯示屏 芯片 檢測 | ||
本實用新型涉及電子產品檢測技術領域,特別涉及芯片檢測裝置,包括底座和設于底座上的支撐板,支撐板與底座垂直設置,其特征在于:所述支撐板上豎向設有導軌,所述導軌上設有移動座,所述移動座表面設有控制按鈕和顯示屏,所述移動座底部設有探針固定板,所述探針固定板上安裝有若干探針,所述底座上設有凹槽,所述凹槽內放置置物板,所述移動座和探針固定板之間設有若干彈簧;本實用新型的檢測裝置結構簡單,使用方便,能有效降低芯片的損壞率,降低檢測成本。
技術領域
本實用新型涉及電子產品檢測技術領域,特別涉及芯片檢測裝置。
背景技術
電子芯片是一種微型電子器件或部件,采用一定的工藝,把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上,然后封裝在一個管殼內,成為具有所需電路功能的微型結構。
半導體芯片檢測裝置主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發,旨在確保器件質量及可靠性,并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。現有技術中的芯片檢測裝置,在檢測過程中,芯片被放置在置物板上,探針與芯片接觸,施加一定的作用力,由于芯片體積小,受力小,容易造成芯片損壞,使產品良率下降,成本高。
實用新型內容
為了克服上述問題,本實用新型提出了一種生產效率高,檢測成本低等特點的芯片檢測裝置。
本實用新型解決上述技術問題提供的一種技術方案是:提供了芯片檢測裝置,包括底座和設于底座上的支撐板,支撐板與底座垂直設置,其特征在于:所述支撐板上豎向設有導軌,所述導軌上設有移動座,所述移動座表面設有控制按鈕和顯示屏,所述移動座底部設有探針固定板,所述探針固定板上安裝有若干探針,所述底座上設有凹槽,所述凹槽內放置置物板,所述移動座和探針固定板之間設有若干彈簧。
優選地,所述置物板上放置若干半導體芯片,與探針相對應。
優選地,所述底座上設有電源開關。
與現有技術相比,本實用新型具有以下有益效果:檢測裝置整體結構簡單,設計合理,通過移動座在導軌軌道上上下移動,帶動探針檢測置物板上的芯片,操作簡單;移動座與探針固定板之間設置彈簧,使探針檢測時,彈簧起到減震緩沖作用,不會使芯片損壞,降低使用成本。
附圖說明
圖1為本實用新型的主視結構示意圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白,以下結合附圖及實施實例,對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅用于解釋本實用新型,并不用于限定本實用新型。
如圖1所示,芯片檢測裝置,包括底座10和設于底座10上的支撐板20,支撐板20與底座10垂直設置,支撐板20上豎向設有導軌30,導軌30上設有移動座40,移動座40工作時沿著導軌30方向上下移動,移動座40表面設有控制按鈕50和顯示屏60,移動座40底部設有探針固定板70,探針固定板70上安裝有若干探針80,底座10上設有凹槽90,凹槽90內放置置物板100,置物板100上放置若干半導體芯片120,芯片120與探針80相對應,一個探針80檢測相對應的芯片120,移動座40和探針固定板70之間設有若干彈簧110,彈簧起到減震緩沖作用,保證檢測時芯片不會受壓力損壞,產品良率高,使用成本;底座10上設有電源開關130。
本實用新型的芯片檢測裝置在具體使用時,將半導體芯片放置在底座凹槽內的置物板100上,打開電源開關130,使移動座40向下移動,使移動座下部的探針80端部與芯片表面相接觸,并對芯片表面施加一定的作用力,此時,移動座40和探針固定板70之間的若干彈簧110發揮其作用,達到減震緩沖的效果,使芯片表面的作用力不會過大導致損壞,提高產品檢測良率,降低檢測成本。
以上所述僅為本實用新型的較佳實施例,并非因此限制本實用新型的專利范圍,凡是在本實用新型的構思之內所作的任何修改,等同替換和改進等均應包含在本實用新型的專利保護范圍內。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市匯浦工業設備有限公司,未經深圳市匯浦工業設備有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201821337023.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:半導體芯片檢測裝置
- 下一篇:檢測裝置及自動檢測設備





