[實用新型]一種片式微波元件無損測試夾具

有效

• 申請號: 201821304975.3
• 申請日: 2018-08-14
• 公開（公告）號: CN208930053U
• 公開（公告）日: 2019-06-04
• 發明（設計）人: 張烽
• 申請（專利權）人: 福建毫米電子有限公司
• 主分類號: B25B11/00
• 分類號: B25B11/00
• 代理公司: 泉州君典專利代理事務所(普通合伙) 35239
• 代理人: 傅家強

一種片式微波元件無損測試夾具，包括有底座、活動設置于底座上的載物臺及壓塊，載物臺上設置有用于放置待測件的定位凹槽，載物臺夾置于壓塊與底座之間，壓塊與底座上分別設置有射頻連接器，且射頻連接器向內側延伸形成有用于連接待測件射頻端口的連接端。本實用新型通過將待測件設置于載物臺上，并通過底座及壓塊將其夾緊固定，同時設置射頻連接器并引出連接端與待測件射頻端口直接連接，可實現片式微波元件的無損測試；且結構簡單，安裝、使用簡便，成本低廉，可靠性高。

技術領域

本實用新型涉及一種元器件測試裝置，特別是一種片式微波元件無損測試夾具。

背景技術

目前，片式微波元件，如兩端口片式微波元件，正面有兩個射頻輸入輸出端口，背面為接地端。現有技術中，類似此種封裝的產品，一般采用探針臺或者焊接到電路板后連入矢量網絡分析儀進行電參數測試。但是，采用探針臺進行電參數測試，設備成本較高；采用低成本的焊接方式無法實現無損測試。

實用新型內容

本實用新型的主要目的是克服現有技術的缺點，提供一種可實現片式微波元件的無損測試，且結構簡單，安裝、使用簡便，成本低廉，可靠性高的片式微波元件無損測試夾具。

本實用新型采用如下技術方案：

一種片式微波元件無損測試夾具，包括有底座、活動設置于底座上的載物臺及壓塊，載物臺上設置有用于放置待測件的定位凹槽，載物臺夾置于壓塊與底座之間，壓塊與底座上分別設置有射頻連接器，且射頻連接器向內側延伸形成有用于連接待測件射頻端口的連接端。

進一步地，所述底座上固定設置有定位塊，所述載物臺與壓塊上分別開設有與定位塊相配合的定位卡口，載物臺與壓塊通過定位卡口與定位塊配合定位安裝于底座上。

進一步地，所述載物臺及壓塊通過緊固件固定連接于底座上。

進一步地，所述緊固件為螺釘，所述底座、載物臺及壓塊上分別相對應開設有用于安裝螺釘的螺孔。

進一步地，所述射頻連接器內導體部分凸出于絕緣子表面形成連接端。

進一步地，所述連接端在待測件安裝后可與待測件兩側射頻端口緊密接觸并電性連接。

進一步地，所述射頻連接器設置于底座側板及壓塊外側，連接端凸出于底座側板及壓塊內側設置。

進一步地，所述底座包括底板和側板，所述定位塊設置于底板上，載物臺及壓塊通過定位卡塊定位安裝于底板上，且載物臺夾設于壓塊與側板之間。

進一步地，所述底座、載物臺及壓塊均采用金屬材料制成。

由上述對本實用新型的描述可知，與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：

通過將待測件設置于載物臺上，并通過底座及壓塊將其夾緊固定，同時設置射頻連接器并引出連接端與待測件射頻端口直接連接，可實現片式微波元件的無損測試；載物臺尺寸可根據實際需要進行替換，使用更靈活，適用性廣，且結構簡單，安裝、使用簡便，成本低廉，可靠性高。

附圖說明

圖1是本實用新型具體實施方式的待測片式微波元件的俯視結構示意圖；

圖2是本實用新型具體實施方式的整體安裝結構立體圖；

圖3是圖2中A處的放大圖；

圖4是本實用新型具體實施方式部分安裝結構立體圖；

圖5是本實用新型具體實施方式的底座的立體結構示意圖；

圖6是本實用新型具體實施方式的載物臺的立體結構示意圖；

圖7是本實用新型具體實施方式的壓塊的立體結構示意圖；