[實用新型]一種用于超聲掃描顯微鏡的定位系統

有效

• 申請號: 201821279322.4
• 申請日: 2018-08-08
• 公開（公告）號: CN208636260U
• 公開（公告）日: 2019-03-22
• 發明（設計）人: 秦襄培;王洪嬌;李俊林
• 申請（專利權）人: 武漢工程大學
• 主分類號: G01N29/265
• 分類號: G01N29/265
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立;徐蘇明

1.一種用于超聲掃描顯微鏡的定位系統，其特征在于，包括固定設置于超聲掃描顯微鏡的水槽(2)前方且與所述水槽(2)的前面板平行的X方向定位組件(4)，以及固定設置于所述水槽(2)側方且與所述水槽(2)的側面板平行的YZ方向定位組件(5)，所述X方向定位組件(4)和所述YZ方向定位組件(5)分別與處理器電連接。

2.根據權利要求1所述的用于超聲掃描顯微鏡的定位系統，其特征在于，所述X方向定位組件(4)包括第一導軌(41)、第一激光筆(42)、第一滑塊(43)、第一滑動變阻器(44)和第一滑片(45)；所述第一導軌(41)固定設置于所述水槽(2)前方且與所述水槽(2)的前面板平行，所述第一滑塊(43)滑動設置于所述第一導軌(41)的滑槽內，所述第一導軌(41)面向所述水槽(2)的側面設置有第一條形通孔(411)，背向所述水槽(2)的側面固定設置有所述第一滑動變阻器(44)，所述第一激光筆(42)滑動設置于所述第一條形通孔(411)內，所述第一激光筆(42)的一端垂直指向所述前面板，另一端固定于所述第一滑塊(43)上，所述第一滑片(45)的一端固定于所述第一滑塊(43)上，另一端與所述第一滑動變阻器(44)的電阻絲抵接；所述第一滑動變阻器(44)與所述處理器電連接。

3.根據權利要求2所述的用于超聲掃描顯微鏡的定位系統，其特征在于，所述第一滑動變阻器(44)的長度與所述前面板的長度相同，且所述第一滑動變阻器(44)的兩端與所述前面板的橫向兩端對齊，所述第一導軌(41)的表面上設置有與所述第一滑動變阻器(44)長度匹配的刻度尺。

4.根據權利要求1至3任一項所述的用于超聲掃描顯微鏡的定位系統，其特征在于，所述YZ方向定位組件(5)包括兩個平行且間隔設置的第二導軌(51)、兩個平行且間隔設置的支撐桿(52)、第二滑動變阻器(53)、第二滑片(54)和包括指向所述水槽(2)的第二激光筆(56)的Z方向定位組件；兩個所述第二導軌(51)均設置于所述水槽(2)的一側，并與所述水槽(2)的側面板平行，且兩個所述第二導軌(51)與所述側面板的距離相同，兩個所述第二導軌(51)的兩端分別通過兩個所述支撐桿(52)固定連接，一個所述第二導軌(51)背向所述水槽(2)的側面固定設置有所述第二滑動變阻器(53)，所述Z方向定位組件的兩端分別滑動設置于兩個所述第二導軌(51)的滑槽內，所述第二滑片(54)的一端固定于所述Z方向定位組件上，另一端與所述第二滑動變阻器(53)的電阻絲抵接；所述第二滑動變阻器(53)與所述處理器電連接。

5.根據權利要求4所述的用于超聲掃描顯微鏡的定位系統，其特征在于，所述第二滑動變阻器(53)的長度與所述側面板的長度相同，且所述第二滑動變阻器(53)的兩端與所述側面板的橫向兩端對齊，所述第二導軌(51)的表面上設置有與所述第二滑動變阻器(53)長度匹配的刻度尺。

6.根據權利要求4所述的用于超聲掃描顯微鏡的定位系統，其特征在于，所述Z方向定位組件還包括第三導軌(55)、第二滑塊(57)、第三滑動變阻器(58)和第三滑片(59)；所述第三導軌(55)的兩端分別滑動設置于兩個所述第二導軌(51)的滑槽內，所述第二滑塊(57)滑動設置于所述第三導軌(55)的滑槽內，所述第二滑塊(57)上固定設置有垂直指向所述側面板的所述第二激光筆(56)，所述第三導軌(55)的側面固定設置有所述第三滑動變阻器(58)，所述第三滑片(59)的一端固定于所述第二滑塊(57)上，另一端與所述第三滑動變阻器(58)的電阻絲抵接，所述第二滑片(54)的一端固定于所述第三導軌(55)上，另一端與所述第二滑動變阻器(53)的電阻絲抵接；所述第三滑動變阻器(58)與所述處理器電連接。

7.根據權利要求6所述的用于超聲掃描顯微鏡的定位系統，其特征在于，所述第三導軌(55)的側面設置有第二條形通孔(551)，所述第二滑塊(57)面向所述第二條形通孔(551)的表面設置有螺紋孔(571)，所述第三導軌(55)與所述第二滑塊(57)通過穿過所述第二條形通孔(551)并旋緊于所述螺紋孔(571)內的螺栓固定連接。