[實用新型]電子元器件測試設備及其上料裝置

有效

• 申請號: 201821277644.5
• 申請日: 2018-08-08
• 公開（公告）號: CN208747032U
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發明（設計）人: 劉丹
• 申請（專利權）人: 深圳市易勝德機械設備有限公司
• 主分類號: B65G47/10
• 分類號: B65G47/10;B65G47/91
• 代理公司: 深圳市華勤知識產權代理事務所(普通合伙) 44426
• 代理人: 隆毅

本實用新型公開一種電子元器件測試設備的上料裝置，該上料裝置包括工作臺、自動進出盤部件、自動上料部件以及原料轉送部件；其中，自動進出盤部件包括布置有直線導軌的兩支撐板、位于兩支撐板之間的撥盤機構、位于進盤口處的分盤機構以及位于出盤口處的收盤機構；自動上料部件包括吸附機構，該吸附機構包括吸嘴、可轉動的圓盤治具及與吸嘴連接的第一擺臂組件；原料轉送部件包括具有多個吸頭的吸盤以及與吸盤連接的第二擺臂組件。本實用新型電子元器件測試設備的上料裝置能夠有效的提高電子元器件的測試效率。此外，本實用新型還公開一種電子元器件測試設備。

技術領域

本實用新型涉及電子元器件測試領域，具體涉及一種電子元器件測試設備及其上料裝置。

背景技術

近年來，隨著電子元器件的高度集成及不斷的升級細化，使得電子產品朝著小型化、低能耗、高精度及智能化的方向發展。而作為電子產品組成基礎的各類電子元器件，在工廠生產加工后，需對其電性能參數進行測試，以保證電子元器件的安全性、穩定性及可靠性，進而保證電子產品的質量。

然而，傳統電子元器件的電性能測試，其主要依靠人工將待檢測電子元器件與對應的測試儀器進行電連接，通過測試儀器的顯示屏，顯示正在檢測的電子元器件的電性能參數，以供檢測人員參考。此種檢測方式，雖可滿足對電子元器件的電性能參數測試，但其自動化程度較低，導致了測試效率相對較低的缺陷，其無法滿足市場對于各類電子元器件的產量需求。因此，亟需一種自動化程度較高的電子元器件測試設備。

實用新型內容

本實用新型的主要目的在于提出一種電子元器件測試設備的上料裝置，以解決傳統測試設備因需人工上料而導致的測試效率相對較低的技術問題。

為解決上述技術問題，本實用新型提出一種電子元器件測試設備的上料裝置，該上料裝置包括工作臺、自動進出盤部件、橫跨于所述自動進出盤部件上方的自動上料部件以及設于所述自動上料部件周側的原料轉送部件；其中，所述自動進出盤部件包括布置有直線導軌的兩支撐板、位于兩支撐板之間用于驅動原料盤在所述直線導軌上沿進盤口至出盤口方向移動的撥盤機構、位于所述進盤口處用于自疊放的原料盤中分離一原料盤至所述直線導軌上的分盤機構、以及位于所述出盤口處用于將所述直線導軌上的空原料盤疊放至預設位置的收盤機構；所述自動上料部件包括可沿垂直原料盤移動方向往復運動的吸附機構，所述吸附機構包括吸嘴、可轉動的圓盤治具及與所述吸嘴連接用于帶動所述吸嘴自原料盤中吸取原料并置于所述圓盤治具中的第一擺臂組件；所述原料轉送部件包括具有多個吸頭的吸盤以及與所述吸盤連接用于帶動所述吸盤自所述圓盤治具中吸取原料的第二擺臂組件。

優選地，所述分盤機構包括分別設置在所述兩支撐板上用于疊放原料盤的承載組件以及用于舉升或下降所述原料盤至預設高度的第一升降組件；其中，所述原料盤的兩側設有凹槽；所述承載組件包括可沿垂直支撐板的方向往復運動的聯動板，所述聯動板包括在原料盤移動方向上間隔設置并位于所述支撐板的上端面之上的兩連接部以及設置在所述連接部上的定位凸板，所述定位凸板與所述凹槽相匹配；所述第一升降組件包括可沿垂直所述工作臺的方向往復運動的傳動板以及設于所述傳動板上且貫穿所述工作臺的導柱，在所述導柱的頂端設置有升降板。

優選地，所述收盤機構包括在所述支撐板上并沿原料盤移動方向上間隔設置的定位支撐組件，以及與所述定位支撐組件的位置相對應的第二升降組件，所述第二升降組件與第一升降組件的結構相同；所述定位支撐組件包括固定座、貫穿所述固定座設置的旋轉軸以及套設在所述旋轉軸上的旋轉凸板，所述旋轉凸板可在位于其下方的原料盤的推動下朝向所述支撐板的外側翻轉至預設角度并復位。

優選地，所述撥盤機構包括布置在所述工作臺上的線性模組以及與所述線性模組的執行端連接的撥桿。