[實用新型]一種檢偏器

有效

• 申請號: 201821216086.1
• 申請日: 2018-07-27
• 公開（公告）號: CN208654017U
• 公開（公告）日: 2019-03-26
• 發明（設計）人: 廖永建;周里華;張福亮
• 申請（專利權）人: 惠磊光電科技（上海）有限公司
• 主分類號: G01N21/21
• 分類號: G01N21/21;G01L5/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型屬于光學儀器技術領域，涉及一種檢偏器，包括架體，所述架體上設置有第一放置臺,所述第一放置臺的正下方設置有第二放置臺，所述第二放置臺上設置有燈泡，所述第一放置臺的正上方設置有第三放置臺，所述第一放置臺與第三放置臺上均開設有供光線穿過的呈圓形的通孔，所述第一放置臺上于所述通孔上蓋設有偏振片，所述第三放置臺上于所述通孔上蓋設有檢振片，所述第三放置臺上設置有用于轉動所述檢振片的轉動組件。檢驗晶體時，將晶體放置在偏振片上，然后燈泡照射晶體，并照射至蓋設在位于第三放置臺上的檢振片上，然后工作人員通過轉動組件轉動檢振片，判斷該晶體是否符合生產要求，更加方便且節約人力。

技術領域

本實用新型涉及光學儀器技術領域，尤其涉及一種檢偏器。

背景技術

當材料在外力作用下不能產生位移時，它的幾何形狀和尺寸將會發生變化，這種形變稱為應變。材料發生形變時內部產生了大小相等但方向相反的反作用力來抵抗外力，定義單位面積上這種反作用力叫做應力。

晶體在長晶過程中不可避免的會出現應力，應力的存在會影響到后續的壘晶層，在生產晶體的時候，為了檢測生產出的晶體是否存在應力或晶體內的應力分布，通常需要在晶體的前方放置一塊檢振片，然后人工手持手電筒對晶體進行照射，使得燈光透過晶體照射至檢振片上，然后保持手電筒位置固定，轉動位于晶體前方的檢振片，觀察透過晶體照射至檢振片上的光束，若光束明亮，則沒有應力，若光束較暗，則含有應力。

但是在上述的檢測過程中，需要人工手持手電筒并保持不動，較為麻煩，且浪費人力。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種檢偏器，具有節約人力的優點。

本實用新型的上述目的是通過以下技術方案得以實現的：

一種檢偏器，包括架體，所述架體上設置有第一放置臺,所述第一放置臺的正下方設置有第二放置臺，所述第二放置臺上設置有燈泡，所述第一放置臺的正上方設置有第三放置臺，所述第一放置臺與第三放置臺上均開設有供光線穿過的呈圓形的通孔，兩個所述通孔同心設置，所述第一放置臺上于所述通孔上蓋設有偏振片，所述第三放置臺上于所述通孔上蓋設有檢振片，所述第三放置臺上設置有用于轉動所述檢振片的轉動組件。

實施上述技術方案，檢驗晶體時，將晶體放置在位于第一放置臺上的通孔處的偏振片上，然后使得燈泡照射晶體，此時由燈泡發出的光線將會通過第一放置臺上的晶體，照射至蓋設在位于第三放置臺上的檢振片上，然后工作人員通過轉動組件轉動檢振片，以觀察透過晶體照射至檢振片上的光束是否為明暗相間的同心圓，從而判斷該晶體內是否存在應力，若觀察到的同心圓內有缺失，即明暗不是相間排布的同心圓，則該晶體不合格，反之則合格；該檢偏器使得在檢驗的過程中，僅需要工作人員通過轉動組件轉動檢振片即可，不需要人工手持手電筒并保持不動，不僅更加方便且節約人力。

進一步，所述轉動組件包括開設在第三放置臺遠離第一放置臺側的滑槽和滑移連接在所述滑槽內的滑塊，所述滑槽和所述滑塊均呈環形，所述檢振片可拆卸連接在所述滑塊上。

實施上述技術方案，轉動滑塊，使得滑塊在滑槽內轉動，以帶動檢振片轉動，然后觀察透過晶體照射至檢振片上的光束，判斷該晶體是否符合生產要求，這樣在檢驗的過程中，工作人員轉動滑塊即可使得檢振片轉動，更加方便且節約人力。

進一步，所述滑塊上設置有用于供手持握住以轉動滑塊的凸起。

實施上述技術方案，在旋轉滑塊時，用手捏住凸起進行旋轉，以便于旋轉滑塊。

進一步，所述凸起設置有4個，4個所述凸起均勻設置在所述滑塊上。

實施上述技術方案，4個凸起均勻分布在滑塊上，不僅更便于旋轉滑塊，且在轉動滑塊的時候，手不會對檢振片造成遮擋，這樣更方便工作人員通過檢振片觀察光束的明暗變化。