[實用新型]一種多通道電阻測量的電路

有效

• 申請號: 201821204555.8
• 申請日: 2018-07-27
• 公開（公告）號: CN208477016U
• 公開（公告）日: 2019-02-05
• 發明（設計）人: 鄧榮
• 申請（專利權）人: 深圳市迅科達智能科技有限公司
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 馮筠

本實用新型涉及一種多通道電阻測量的電路，其特征在于，包括MCU、ADC、DAC、儀表放大器、限流電阻R、恒流源MOS管、通道切換MOS管、模擬電子開關、以及TP測試端子；所述ADC、DAC均與所述MCU連接，所述恒流源MOS管分別與所述限流電阻R、所述DAC連接及所述通道切換MOS管連接；所述TP測試端子與所述通道切換MOS管和所述模擬電子開關連接；所述儀表放大器與所述模擬電子開關和所述ADC連接。本實用新型實現了多路電阻測試，且成本低；可應用于各種多通道電阻測試場景，提高了實用性。

技術領域

本實用新型涉及電阻測量領域，更具體地說是指一種多通道電阻測量的電路。

背景技術

在科學技術高度發展的今天，現代精密測量技術對一個國家的發展起到十分重要的作用。如果沒有先進的測量技術與測量手段，就很難設計和制造出性能優良的產品，更談不上發展現代高新尖端技術，因此，世界各個工業發達國家都很重視和發展現代精密測量技術。

現有的，電阻測量大多是單路測試，無法滿足應用于各種線材等的電阻測試場景中去；即使有多路電阻測量，但是，測試復雜且成本高。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服現有技術的缺陷，提供一種多通道電阻測量的電路。

為實現上述目的，本實用新型采用以下技術方案：

一種多通道電阻測量的電路，包括MCU、ADC、DAC、儀表放大器、限流電阻R、恒流源MOS管、通道切換MOS管、模擬電子開關、以及TP測試端子；所述ADC、DAC均與所述MCU連接，所述恒流源MOS管分別與所述限流電阻R、所述DAC連接及所述通道切換MOS管連接；所述TP測試端子與所述通道切換MOS管和所述模擬電子開關連接；所述儀表放大器與所述模擬電子開關和所述ADC連接。

其進一步技術方案為：所述MCU的型號為STM32F407，用于數據的控制和處理，完成對所述ADC和DAC的控制，以及測量和采樣通道的切換。

其進一步技術方案為：所述DAC的型號為AD5761R，用于輸出穩定的電壓信號，控制所述恒流源MOS管的電流大小；所述恒流源MOS管，用于生成恒流源；所述限流電阻R，用于對恒流源進行限流。

其進一步技術方案為：所述通道切換MOS管，用于實現多通道的測量。

其進一步技術方案為：所述模擬電子開關，用于對多通道電壓采樣切換，由所述MCU進行切換控制。

其進一步技術方案為：所述多通道的數量為2-6。

其進一步技術方案為：所述儀表放大器，用于將采樣電壓信號進行放大，并傳送至所述ADC進行采樣。

其進一步技術方案為：所述ADC的型號為ADS1115，用于對被測電阻的兩端電壓進行采樣。

其進一步技術方案為：所述采樣的精度大于等于16bit。

其進一步技術方案為：所述TP測試端子包括TP+和TP-；測試所述TP+和TP-兩端的電壓，將測試電壓傳送到所述儀表放大器進行放大，然后傳送到所述ADC進行采樣分析。

本實用新型與現有技術相比的有益效果是：實現了多路電阻測試，且成本低；可應用于各種多通道電阻測試場景，提高了實用性。

下面結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步描述。

附圖說明

圖1為多通道電阻測量的電路的方框示意圖；

圖2為恒流源電路的原理圖；

圖3為限流電阻R的電路原理圖；

圖4為恒流源MOS管的電路原理圖；