[實用新型]一種SF6低濕快速測量的光程池

有效

• 申請號: 201821192017.1
• 申請日: 2018-07-26
• 公開（公告）號: CN208520746U
• 公開（公告）日: 2019-02-19
• 發明（設計）人: 苑吉河;岳運奇;孫朝洪;夏文禹;張曦
• 申請（專利權）人: 國網重慶市電力公司南岸供電分公司;河南省日立信股份有限公司;國家電網有限公司
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 文芳

本實用新型公開了一種SF6低濕快速測量的光程池，包括有激光電氣盒、封閉的氣室、平面鏡和凹面鏡，所述氣室上設置有進氣端和出氣端，所述氣室內部設置有相對的平面鏡和凹面鏡，所述激光電氣盒設置在氣室外一端，所述激光電氣盒設置有激光入射端和激光出射端，所述激光入射端和激光出射端通過光纖與氣室連接。本實用新型的有益效果為可快捷探測氣體SF6中的水分的濃度等信息。

技術領域

本實用新型涉及氣體檢測領域，具體是一種SF6低濕快速測量的光程池。

背景技術

六氟化硫(SF6)氣體作為優良的絕緣介質和滅弧介質，被廣泛的應用于六氟化硫氣體絕緣斷路器、GIS、變壓器、互感器、電力電纜等各種電氣設備中。目前國內超高壓輸變電工程中所采用的斷路器幾乎全是SF6開關設備,但是,這類設備的性能與其絕緣介質SF6氣體的質量關系很大,尤其以氣體含水量影響最大。因此,SF6電氣設備中的氣體含水量,是監督設備安全運行的一項重要指標。SF6氣體中水份含量過高,不僅會降低設備的絕緣能力,而且會對設備產生化學腐蝕。同時水份的存在對設備來說,經電弧分解而產生的有害物質將增多,因此，對于SF6氣體中微量水份必須進行嚴格監測和控制。

由于SF6氣體中水份含量是影響設備安全運行的一個重要指標,因此,各國都對SF6氣體含水量情況特別重視，并制定了相應的微水指標,作為判斷氣體質量以及設備正常運行監督的依據

但是在傳統的方法中，介質中水份的測量，無論是測量原理還是從實際的運行狀況中，都存在對其分析結果的干擾和精確度較差的問題，從而造成測量誤差。

實用新型內容

針對以上不足點，本實用新型的目的就是提供一種SF6低濕快速測量的光程池，可快捷探測氣體SF6中的水分的濃度等信息。

本實用新型的目的是通過這樣的技術方案實現的，一種SF6低濕快速測量的光程池，它包括有激光電氣盒、封閉的氣室、平面鏡和凹面鏡，所述氣室上設置有進氣端和出氣端，所述氣室內部設置有相對的平面鏡和凹面鏡，所述激光電氣盒設置在氣室外一端，所述激光電氣盒設置有激光入射端和激光出射端，所述激光入射端和激光出射端通過光纖與氣室連接。

進一步，所述氣室還設置有干燥器，所述氣室的上端面由第一蓋板和第二蓋板固接構成，所述第一蓋板設置有安裝口，所述干燥器位于所述安裝口處，所述第二蓋板設置有用于干燥器滑動的開口，所述第二蓋板位于開口處還設置有若干個通孔，所述干燥器底端固接滑動板，所述滑動板與所述開口滑動配合，所述滑動板上設置有用于與通孔配合使用的干燥孔。

進一步，所述安裝口的外緣處設置有第一密封圈，所述通孔的外緣處設置有第二密封圈，所述干燥器的底座設置有第三密封圈。

進一步，所述激光電氣盒包括探測器和激光器，所述激光入射端設置有用于向氣室射入激光的激光器，所述激光出射端設置有用于接受處理激光的探測器。

進一步，所述激光器的光源為可調諧半導體激光光源。

進一步，所述探測器還配置有信號放大器，所述探測器與所述信號放大器電連接。

進一步，所述氣室為扁平狀，所述平面鏡和凹面鏡位于氣室內部的兩端，所述平面鏡位于激光電氣盒的一端。

由于采用了上述技術方案，本實用新型具有如下的優點：通過氣室上設置有進氣端和出氣端，所述氣室內部設置有相對的平面鏡和凹面鏡，所述激光電氣盒設置在氣室外一端，所述激光電氣盒設置有激光入射端和激光出射端，所述激光入射端和激光出射端通過光纖與氣室連接。通過激光器入射至氣室內，在經過多次反射，根據可調諧半導體激光器的窄線寬和波長隨注入電流改變的特性實現對分子的單個吸收線進行測量；具有可應用于各類強腐蝕性測量環境；可在高溫、高壓環境下測量，不受背景氣體、粉塵及光學視窗污染干擾。