[實(shí)用新型]一種帶有吸附功能手動(dòng)直針測(cè)試插座

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201821174825.5
• 申請(qǐng)日: 2018-07-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN208399555U
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔣澄燦;劉鑫培;柳慧敏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州創(chuàng)瑞機(jī)電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 蘇州名飛揚(yáng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 32290
• 代理人: 楊林

本實(shí)用新型公開(kāi)了一種帶有吸附功能手動(dòng)直針測(cè)試插座，包括下座件和上蓋件，兩者通過(guò)轉(zhuǎn)軸連接；下座件上設(shè)有測(cè)試基座，測(cè)試基座上設(shè)有芯片定位槽，芯片定位槽內(nèi)設(shè)有多個(gè)吸附件安裝通孔，吸附件安裝通孔內(nèi)設(shè)有吸盤(pán)，下座件在吸附件安裝通孔下側(cè)設(shè)有氣路通孔；上蓋件上設(shè)有與測(cè)試基座作用的壓板，壓板上與芯片定位槽對(duì)應(yīng)的位置設(shè)有浮板。本實(shí)用新型將芯片的吸附方式由傳統(tǒng)的磁鐵吸附改為吸盤(pán)吸附，解決人工安裝磁鐵出現(xiàn)的正反面安裝錯(cuò)誤的問(wèn)題，并且解決磁鐵回路干擾檢測(cè)的問(wèn)題，達(dá)到較好的檢測(cè)效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及芯片測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種帶有吸附功能手動(dòng)直針測(cè)試插座。

背景技術(shù)

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，電子芯片已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各種電子產(chǎn)品中。在完成芯片大批量生產(chǎn)后，需要對(duì)芯片的合格性進(jìn)行檢測(cè)，以此來(lái)挑選出不合格的芯片，從而保留合格的芯片。

而芯片的測(cè)試插座是一種在集成電路測(cè)試、電子系統(tǒng)調(diào)試、可編程芯片燒錄、電路失效分析等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用的電氣連接設(shè)備，在芯片測(cè)試中直接與被測(cè)芯片相連起到測(cè)試信號(hào)傳輸?shù)墓δ堋?/p>

特別是在集成電路測(cè)試行業(yè)中，測(cè)試插座作為測(cè)試機(jī)系統(tǒng)與被測(cè)芯片之間的接口，是保證測(cè)試良率、提高測(cè)試效率的關(guān)鍵之一，其性能如接觸電阻、測(cè)試良品率、機(jī)械性能等，都會(huì)直接影響到測(cè)試效果。

目前，國(guó)內(nèi)外的測(cè)試插座普遍采用磁鐵吸附的形式來(lái)保證芯片在檢測(cè)過(guò)程中的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性，但是在安裝和檢測(cè)的過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)諸多的問(wèn)題：

由于芯片測(cè)試插座都是批量生產(chǎn)，產(chǎn)量較大，工人在安裝過(guò)程中難免會(huì)混淆磁鐵的正反面，導(dǎo)致芯片檢測(cè)結(jié)果的不準(zhǔn)確性；

對(duì)于高度集成化的芯片，在芯片安裝過(guò)程中，磁鐵的上表面有可能會(huì)劃傷芯片，導(dǎo)致芯片的損壞；在檢測(cè)過(guò)程中，磁鐵的回路可能會(huì)干擾到檢測(cè)過(guò)程，導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果的不準(zhǔn)確性。

顯然采用磁鐵吸附的形式在插座安裝和芯片檢測(cè)過(guò)程中存在諸多問(wèn)題，不利于工業(yè)生產(chǎn)的要求。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型為解決上述問(wèn)題，提供一種具有磁鐵吸附功能手動(dòng)直針測(cè)試插座，將芯片的吸附方式由傳統(tǒng)的磁鐵吸附改為吸盤(pán)吸附，解決人工安裝磁鐵出現(xiàn)的正反面安裝錯(cuò)誤的問(wèn)題，并且解決磁鐵回路干擾檢測(cè)的問(wèn)題，達(dá)到較好的檢測(cè)效果。

為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是：一種帶有吸附功能手動(dòng)直針測(cè)試插座，包括下座件和上蓋件，兩者通過(guò)轉(zhuǎn)軸連接；

下座件上設(shè)有測(cè)試基座，測(cè)試基座上設(shè)有芯片定位槽，芯片定位槽內(nèi)設(shè)有多個(gè)吸附件安裝通孔，吸附件安裝通孔內(nèi)設(shè)有吸盤(pán)，下座件在吸附件安裝通孔下側(cè)設(shè)有氣路通孔；

上蓋件上設(shè)有與測(cè)試基座作用的壓板，壓板上與芯片定位槽對(duì)應(yīng)的位置設(shè)有浮板。

進(jìn)一步地，下座件上設(shè)有鎖緊扣，上蓋件上設(shè)有彈簧扣。

進(jìn)一步地，吸附件安裝通孔個(gè)數(shù)優(yōu)選為2。

進(jìn)一步地，吸盤(pán)包括前端的吸盤(pán)口和后端的導(dǎo)氣管。

綜上所述，本實(shí)用新型具備以下優(yōu)點(diǎn)：

本實(shí)用新型采用塑料吸盤(pán)吸附芯片，不僅能夠解決磁鐵在安裝過(guò)程中發(fā)生的錯(cuò)誤，同時(shí)又能夠解決磁鐵吸附對(duì)測(cè)試過(guò)程中一定影響的問(wèn)題。

本實(shí)用新型具體采用塑料吸盤(pán)吸附芯片，在安裝過(guò)程中避免了磁鐵正反面的安裝錯(cuò)誤；

而且，由于芯片、壓板、浮板均存在微動(dòng)，在合上插座的同時(shí)，會(huì)對(duì)芯片進(jìn)行擠壓，并通過(guò)外部的裝置對(duì)吸盤(pán)內(nèi)部進(jìn)行抽氣，使得吸盤(pán)內(nèi)部形成真空，最終吸牢芯片。

檢測(cè)完畢后，通過(guò)外部的裝置對(duì)吸盤(pán)內(nèi)部進(jìn)行放氣，使得吸盤(pán)降低對(duì)芯片的吸引力，最終取下芯片。

在整個(gè)檢測(cè)過(guò)程中，吸盤(pán)最終對(duì)芯片不會(huì)產(chǎn)生影響，對(duì)芯片的檢測(cè)結(jié)果也不會(huì)產(chǎn)生影響。