[實用新型]背照式圖像傳感器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821149284.0 | 申請日: | 2018-07-19 |
| 公開(公告)號: | CN208548351U | 公開(公告)日: | 2019-02-26 |
| 發(fā)明(設計)人: | 韓昌勛 | 申請(專利權)人: | DBHiTek株式會社 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 上海和躍知識產權代理事務所(普通合伙) 31239 | 代理人: | 余文娟 |
| 地址: | 韓國首爾*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 像素區(qū)域 襯底 背照式圖像傳感器 深溝槽隔離 隔離區(qū)域 濾色器層 淺溝槽隔離區(qū)域 微透鏡陣列 背側表面 前側表面 布線層 電隔離 電連接 配置 | ||
1.背照式圖像傳感器,包括:
像素區(qū)域,其設置在襯底中;
布線層,其設置在所述襯底的前側表面上并與所述像素區(qū)域電連接;
濾色器層,其設置在所述襯底的背側表面上;
微透鏡陣列,其設置在所述濾色器層上;和
隔離區(qū)域,其被配置為將所述像素區(qū)域彼此電隔離,
其中,每個所述隔離區(qū)域包括深溝槽隔離區(qū)域和設置在所述深溝槽隔離區(qū)域上的淺溝槽隔離區(qū)域。
2.如權利要求1所述的背照式圖像傳感器,其中所述深溝槽隔離區(qū)域包括摻雜雜質的多晶硅。
3.如權利要求1所述的背照式圖像傳感器,其中所述淺溝槽隔離區(qū)域包括氧化硅。
4.如權利要求1所述的背照式圖像傳感器,其中所述淺溝槽隔離區(qū)域包括襯墊絕緣層和設置在所述襯墊絕緣層上的氧化硅區(qū)域。
5.如權利要求1所述的背照式圖像傳感器,其中所述深溝槽隔離區(qū)域從所述淺溝槽隔離區(qū)域延伸到所述襯底的背側表面。
6.如權利要求1所述的背照式圖像傳感器,其中每個所述像素區(qū)域包括:
電荷累積區(qū)域,其設置在所述襯底中;和
前側釘扎層,其設置在所述襯底的前側表面和所述電荷累積區(qū)域之間。
7.如權利要求6所述的背照式圖像傳感器,其中每個所述像素區(qū)域還包括設置在所述襯底的背側表面和所述電荷累積區(qū)域之間的背側釘扎層。
8.如權利要求1所述的背照式圖像傳感器,進一步包括:
抗反射層,其設置在所述襯底的背側表面上;
阻光圖案,其設置在所述抗反射層上并且具有對應于所述像素區(qū)域的開口;和
鈍化層,其設置在所述抗反射層和所述阻光圖案上,
其中,所述濾色器層設置在鈍化層上。
9.背照式圖像傳感器,包括:
像素區(qū)域,其設置在襯底中;
布線層,其布置在所述襯底的前側表面上并與所述像素區(qū)域電連接;
濾色器層,其設置在所述襯底的背側表面上;
微透鏡陣列,其設置在所述濾色器層上;
隔離區(qū)域,其被配置為將所述像素區(qū)域彼此電隔離;和
吸雜區(qū)域,其從所述隔離區(qū)域向所述襯底的背側表面延伸并且收集所述襯底中的污染物。
10.如權利要求9所述的背照式圖像傳感器,其中所述吸雜區(qū)域包括摻雜雜質的多晶硅。
11.如權利要求9所述的背照式圖像傳感器,其中所述隔離區(qū)域設置在所述襯底的前側表面部分中,并且所述吸雜區(qū)域延伸到所述襯底的背側表面。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





