[實(shí)用新型]電路板檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821149234.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN208488394U | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周翔;李秀懂;李小明;羅濤 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 深圳市鷹眼在線電子科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/892 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/892;G01N21/01;G01B21/08 |
| 代理公司: | 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287 | 代理人: | 胡海國(guó) |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 厚度檢測(cè)器 控制器 電路板 圖像采集器 圖像信息 電路板檢測(cè)裝置 本實(shí)用新型 厚度數(shù)據(jù) 焦距 厚度檢測(cè)信號(hào) 采集電路板 標(biāo)準(zhǔn)件 發(fā)送控制 控制圖像 采集器 精準(zhǔn)度 數(shù)據(jù)發(fā) 檢測(cè) 測(cè)量 采集 清晰 | ||
本實(shí)用新型提供了一種電路板檢測(cè)裝置,電路板檢測(cè)裝置包括:機(jī)架;厚度檢測(cè)器以及圖像采集器,厚度檢測(cè)器和圖像采集器位于機(jī)架上;控制器,控制器分別與厚度檢測(cè)器和圖像采集器連接,控制器在接收到厚度檢測(cè)器的厚度檢測(cè)信號(hào)后,控制圖像采集器調(diào)節(jié)焦距。本實(shí)用新型技術(shù)方案通過(guò)在采集電路板圖像信息之前,厚度檢測(cè)器對(duì)電路板的厚度進(jìn)行檢測(cè),得到電路板的厚度數(shù)據(jù),并將該數(shù)據(jù)發(fā)送給控制器;控制器對(duì)電路板的厚度數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,發(fā)送控制信號(hào)至圖像采集器,對(duì)其焦距進(jìn)行調(diào)整,使其能夠采集到所述電路板更加清晰的圖像信息。從而提高了圖像信息的清晰度,提高檢測(cè)時(shí)與標(biāo)準(zhǔn)件圖像信息對(duì)比的精準(zhǔn)度,從而提高測(cè)量精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電路板檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種電路板檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中,通常利用圖像采集技術(shù)檢測(cè)電路板是否存在缺陷,在電路板生產(chǎn)線上設(shè)置相機(jī),在電路板經(jīng)過(guò)該相機(jī)下方時(shí),相機(jī)拍攝電路板圖像,以根據(jù)所拍攝的圖像判斷電路板是否存在缺陷,現(xiàn)有技術(shù)中,一般將相機(jī)固定在一個(gè)固定位置,根據(jù)相機(jī)與電路板的距離調(diào)節(jié)相機(jī)的焦距,以保證相機(jī)拍攝到的電路板圖像清晰,然而,由于實(shí)際電路板之間的厚度各不相同,甚至同一批次生產(chǎn)的電路板,各個(gè)電路板的厚度也各有差異,如此,電路板之間的厚度存在差異,使得在圖像采集的過(guò)程中,相機(jī)需要對(duì)焦的位置產(chǎn)生偏差,導(dǎo)致采集的圖像不清楚,降低檢測(cè)的精度。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的是提供一種電路板檢測(cè)裝置,旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中電路板之間的厚度存在差異,相機(jī)需要對(duì)焦的位置產(chǎn)生偏差,導(dǎo)致采集的圖像不清楚,降低檢測(cè)的精度問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提出的一種電路板檢測(cè)裝置,其特征在于,所述電路板檢測(cè)裝置包括:機(jī)架;厚度檢測(cè)器以及圖像采集器,所述厚度檢測(cè)器和所述圖像采集器位于所述機(jī)架上;控制器,所述控制器分別與所述厚度檢測(cè)器和圖像采集器連接,所述控制器在接收到厚度檢測(cè)器的厚度檢測(cè)信號(hào)后,控制所述圖像采集器調(diào)節(jié)焦距。
優(yōu)選的,所述厚度檢測(cè)器包括支撐組件、下壓測(cè)桿及測(cè)桿底座,所述支撐組件設(shè)置于所述機(jī)架上,所述支撐組件設(shè)置于所述電路板上方,所述測(cè)桿底座懸掛于所述支撐組件上,所述下壓測(cè)桿設(shè)置于所述測(cè)桿底座上,所述下壓測(cè)桿下降與所述電路板接觸以測(cè)量所述電路板的厚度。
優(yōu)選地,所述支撐組件包括一支撐桿及兩塊支撐板,所述支撐桿裝設(shè)于所述兩塊支撐板之間,所述測(cè)桿底座穿設(shè)于所述支撐桿上。
優(yōu)選地,所述圖像采集器塊包括定位相機(jī)組件、相機(jī)支撐底座及移動(dòng)組件,所述移動(dòng)組件設(shè)置于所述相機(jī)支撐底座上,所述定位相機(jī)組件設(shè)置于所述移動(dòng)組件上,所述移動(dòng)組件移動(dòng)時(shí)帶動(dòng)所述定位相機(jī)組件在與所述電路板傳輸方向垂直的方向上下移動(dòng)。
優(yōu)選地,所述移動(dòng)組件包括導(dǎo)軌、第一絲桿及滑臺(tái),所述導(dǎo)軌設(shè)置于所述相機(jī)支撐底座上,所述滑臺(tái)可移動(dòng)設(shè)置于所述導(dǎo)軌上,所述第一絲桿設(shè)置于所述相機(jī)支撐底座上,并與所述滑臺(tái)連接以帶動(dòng)所述滑臺(tái)移動(dòng),所述定位相機(jī)組件設(shè)置于所述滑臺(tái)上。
優(yōu)選地,所述定位相機(jī)組件包括若干定位相機(jī),若干所述定位相機(jī)在與所述電路板傳輸方向垂直的方向上間隔排列。
優(yōu)選地,所述定位相機(jī)組件還包括光源,所述光源設(shè)置于所述定位相機(jī)下方。
優(yōu)選地,所述電路板檢測(cè)裝置還包括用于傳輸所述電路板的輥道,所述輥道與所述機(jī)架對(duì)接。
優(yōu)選地,所述電路板檢測(cè)裝置還包括定位器,所述定位器設(shè)置于所述機(jī)架上以對(duì)所述電路板進(jìn)行定位。
優(yōu)選地,所述定位器包括第二絲桿及推板,所述第二絲桿橫跨設(shè)置于所述輥道上,所述推板設(shè)置于所述第二絲桿上,所述第二絲桿帶動(dòng)所述推板沿垂直所述輥道傳動(dòng)方向上移動(dòng)時(shí)推動(dòng)所述電路板。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





