[實用新型]一種多晶硅碇自動劃線設備有效
| 申請號: | 201821056777.X | 申請日: | 2018-07-04 |
| 公開(公告)號: | CN208513863U | 公開(公告)日: | 2019-02-19 |
| 發明(設計)人: | 孫超 | 申請(專利權)人: | 上海新時達機電科技有限公司 |
| 主分類號: | B23K26/362 | 分類號: | B23K26/362;B23K26/70;B25H7/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201802 上海市嘉定區科福*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 劃線 劃線裝置 轉運裝置 本實用新型 多晶硅 工位 出料工位 劃線區域 進料工位 控制裝置 檢測 左右兩側 殘留 達標 | ||
本實用新型公開了一種多晶硅碇自動劃線設備,包括檢測工位、轉運裝置、劃線裝置、進料工位、出料工位和控制裝置;所述進料工位和出料工位分別固定在所述轉運裝置的左右兩側,所述劃線裝置位于所述轉運裝置的前側,所述檢測工位固定在所述劃線裝置的前側,所述控制裝置分別與所述轉運裝置、劃線裝置和檢測工位連接。本實用新型的優點和有益效果在于:本實用新型提供一種多晶硅碇自動劃線設備,不僅簡化了操作,提高了劃線效率,還提高了晶碇的劃線精度,避免出現劃線區域過小而導致純度不達標的部分仍殘留在晶碇上,或因劃線區域過大而導致晶碇浪費的情況。
技術領域
本實用新型涉及晶碇制造領域,特別涉及一種多晶硅碇自動劃線設備。
背景技術
X射線衍射儀用于晶碇純度檢測,然而現有的晶碇純度檢測需要工人將晶碇依次放置在X射線衍射儀內,并利用X射線衍射儀逐一進行檢測,在識別出晶碇的純度不達標的區域后,再利用劃線器對晶碇進行劃線,最后利用切割裝置對晶碇的劃線區域進行切割,不僅工藝繁瑣,效率低下,而且工人在劃線過程中也很容易出現誤差,造成劃線區域過小而導致純度不達標的部分仍殘留在晶碇上,或因劃線區域過大而導致晶碇的浪費。
實用新型內容
為了解決上述問題,本實用新型提供一種多晶硅碇自動劃線設備。本技術方案通過利用檢測工位、劃線裝置和轉運裝置,精確的對晶碇的各個切面進行檢測,識別出晶碇中不符合純度閾值的部分,并對其進行劃線;因此不僅簡化了操作,提高了劃線效率,還提高了劃線精度,避免出現劃線區域過小而導致純度不達標的部分仍殘留在晶碇上,或因劃線區域過大而導致晶碇浪費的情況。
本實用新型中的一種多晶硅碇自動劃線設備,包括檢測工位、轉運裝置、劃線裝置、進料工位、出料工位和控制裝置;所述進料工位和出料工位分別固定在所述轉運裝置的左右兩側,所述劃線裝置位于所述轉運裝置的前側,所述檢測工位固定在所述劃線裝置的前側,所述控制裝置分別與所述轉運裝置、劃線裝置和檢測工位連接。
上述方案中,所述檢測工位包括檢測臺、X射線衍射儀和檢測控制器;所述檢測臺固定在地面上,所述X射線衍射儀固定在所述檢測臺的頂部,所述檢測控制器分別與所述X射線衍射儀和控制裝置連接。
上述方案中,所述劃線裝置包括激光劃線機、移動車和劃線控制器;所述激光劃線機和劃線控制器分別固定在所述移動車上,所述劃線控制器還分別與所述移動車、激光劃線機和控制裝置連接。
上述方案中,所述轉運裝置包括機械手臂和轉運控制器,所述轉運控制器與所述機械手臂連接,用于控制所述機械手臂;所述轉運控制器還與所述控制裝置連接。
上述方案中,所述進料工位包括進料臺和進料傳送機,所述進料臺固定在地面上,所述進料傳送機固定在所述進料臺的頂部并用于傳送晶碇。
上述方案中,所述出料工位包括出料臺和出料傳送機,所述出料臺固定在地面上,所述出料傳送機固定在所述出料臺的頂部并用于傳送晶碇。
上述方案中,所述控制裝置為單片機。
本實用新型的優點和有益效果在于:本實用新型提供一種多晶硅碇自動劃線設備,不僅簡化了操作,提高了劃線效率,還提高了晶碇的劃線精度,避免出現劃線區域過小而導致純度不達標的部分仍殘留在晶碇上,或因劃線區域過大而導致晶碇浪費的情況。
附圖說明
為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動性的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本實用新型一種多晶硅碇自動劃線設備的結構示意框圖。
圖中:1、檢測工位 2、轉運裝置 3、劃線裝置 4、進料工位
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