[實用新型]太赫茲波內調制裝置

有效

• 申請號: 201821047409.9
• 申請日: 2018-07-02
• 公開（公告）號: CN208705630U
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發明（設計）人: 徐德剛;閆超;王與燁;唐隆煌;賀奕焮;李長昭;孫忠誠;鐘凱;姚建銓
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G02F1/35
• 分類號: G02F1/35;G02F1/01
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 李坤

1.一種太赫茲波內調制裝置，其特征在于，包括：

激光源(100)，用于產生激光；

光調制單元(200)，用于將激光源(100)輸入的激光轉化為時域調制光和基頻光的組合光；

光學非線性增益單元(300)，用于將光調制單元(200)所輸入的組合光中的基頻光轉換為太赫茲波，同時此非線性頻率變換過程受到組合光中的時域調制光的調制；以及

太赫茲探測器(400)，對光學非線性增益單元(300)所輸出的太赫茲波進行測量。

2.根據權利要求1所述的太赫茲波內調制裝置，其特征在于，所述激光源(100)包括調制激光器(110)和泵浦激光器(120)，所述光調制單元(200)包括：

光調制組件(260)，將調制激光器(110)所輸入的激光進行調制生成時域調制光并輸出；以及

合束鏡(280)，用于將光調制組件(260)所輸出的時域調制光和泵浦激光器(120)所發出的基頻光合束并輸出。

3.根據權利要求1所述的太赫茲波內調制裝置，其特征在于，所述激光源(100)為單個激光器，所述光調制單元(200)還包括：

分束鏡(210)，將激光源(100)輸入的激光分為兩束基頻光；

倍頻晶體(220)，將輸入的基頻光轉換為倍頻光；

第一反射鏡(230)，將分束鏡(210)所分出的其中一束基頻光反射到倍頻晶體(220)；

濾波單元(240)，用于過濾和收集所述倍頻晶體(220)輸出的、沒有被轉換為倍頻的基頻光；

第二反射鏡(250)，用于反射所述倍頻晶體(220)所輸出的經濾波單元(240)后的倍頻光至所述光調制組件(260)；以及

第三反射鏡(270)，用于反射分束鏡(210)所分出的另一束基頻光至合束鏡(280)。

4.根據權利要求2所述的太赫茲波內調制裝置，其特征在于，所述光調制組件(260)，包括電控振鏡(261)、數據采集卡以及計算機，所述電控振鏡(261)經由計算機控制，對輸入的光進行調制。

5.根據權利要求1所述的太赫茲波內調制裝置，其特征在于，所述光學非線性增益單元(300)，包括：

非線性晶體(310)，受激產生太赫茲波和斯托克斯光；

前腔鏡(320)和后腔鏡(330)，使所述非線性晶體(310)受激發產生的斯托克斯光在所述前腔鏡(320)和后腔鏡(330)組成的諧振腔內發生振蕩；以及

第二光束收集器(340)，用于收集未耗盡的泵浦光。

6.根據權利要求3所述的太赫茲波內調制裝置，其特征在于，所述濾波單元(240)，包括：

濾波鏡(241)，用于過濾沒有被倍頻晶體(220)所倍頻的基頻光；以及

第一光束收集器(242)，用于收集所述濾波鏡(241)所過濾后的基頻光。

7.根據權利要求5所述的太赫茲波內調制裝置，其特征在于，所述非線性晶體(310)為等腰梯形切割，所述等腰梯形的底角為60°～70°。

8.根據權利要求1所述的太赫茲波內調制裝置，其特征在于，所述光學非線性增益單元(300)中的前腔鏡(320)和后腔鏡(330)組成的諧振腔為駐波諧振腔，所述前腔鏡(320)和后腔鏡(330)分別與所述非線性晶體(310)的兩側邊平行。

9.根據權利要求1所述的太赫茲波內調制裝置，其特征在于，所述太赫茲探測器(400)包括高萊探測器、熱釋電探測器、液氦冷卻低溫超導輻射熱計、肖特基二極管、光電導開關或電光晶體。