[實用新型]一種光學量測儀支架

有效

• 申請號: 201821047288.8
• 申請日: 2018-07-03
• 公開（公告）號: CN208418013U
• 公開（公告）日: 2019-01-22
• 發明（設計）人: 高天昊;宋俊苗
• 申請（專利權）人: 昆山龍騰光電有限公司
• 主分類號: F16M11/04
• 分類號: F16M11/04
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本實用新型公開一種光學量測儀支架，涉及光學測量技術領域。光學測量儀支架包括用于支撐光學量測儀的支腿，還包括：卡環，卡環套設在光學量測儀的外壁上，卡環周向設置至少三個支腿，每個支腿與卡環鉸接，且每個支腿能沿光學量測儀的外壁周向滑動，支腿可彎折。該光學量測儀支架能夠方便地對光學量測儀進行固定，通用性高，同時光學量測儀在被測工件上更加穩定，不易摔倒。

技術領域

本實用新型涉及光學測量設備技術領域，尤其涉及一種光學量測儀支架。

背景技術

常用的光學量測儀主要用于測量亮度、透光率等光學數據，在使用過程中要求光學量測儀的測量頭必須垂直于被測工件的表面。為此，現有的光學量測儀通常配合支架使用，支架一方面要支撐光學量測儀，另一方面保證光學量測儀的測量頭垂直于被測工件的表面。

現有技術中，常用支架的結構形式如圖1所示，光學量測儀100'放置在被測工件200'上，其測量頭與被測工件200'接觸，在光學量測儀100'的一側固定兩個支腿1'，通過支腿1'與光學量測儀100'形成三角形結構，以穩定整個光學量測儀100'。這種支架的可調角度范圍極其有限，通用性低，且實際使用中穩定性極差，儀器輕微觸碰或震動就會摔倒，致使測量中斷；而測試一旦停止，所有數據需全部重測，給使用者造成極大的不便利。更嚴重的是，光學量測儀的摔倒很容易導致被測產品的破損，或者光學量測儀摔倒地上導致儀器本身損壞，而光學量測儀本身屬于高精密儀器，稍有破損就會導致精度下降甚至無法使用。

實用新型內容

針對上述問題，本實用新型提出一種光學量測儀支架，該光學量測儀支架能夠方便地對光學量測儀進行固定，通用性高，且穩定不易摔倒。

本實用新型采用以下技術方案：

一種光學量測儀支架，包括：用于支撐光學量測儀的支腿，還包括：

卡環，所述卡環套設在所述光學量測儀的外壁上，所述卡環周向設置至少三個所述支腿，每個所述支腿與所述卡環鉸接，且每個所述支腿能沿所述光學量測儀的外壁周向滑動，所述支腿可彎折。

作為本實用新型的一種優選方案，所述卡環包括至少三個子卡環，相鄰兩個所述子卡環之間能卡合并相對轉動，每個子卡環上鉸接至少一個支腿。

作為本實用新型的一種優選方案，所述卡環包括沿所述光學量測儀的外壁設置的第一子卡環、第二子卡環和第三子卡環，所述第一子卡環和所述第三子卡環對稱設置在所述第二子卡環的兩側。

作為本實用新型的一種優選方案，所述第二子卡環的兩側均凸設有卡邊，所述第一子卡環和所述第三子卡環上設置有卡槽，所述第一子卡環和所述第三子卡環上的卡槽分別從所述第二子卡環凸的兩側與對應的所述卡邊卡合。

作為本實用新型的一種優選方案，所述第二子卡環內設置有多個卡片，每個所述卡片對應設置有擰緊桿，所述擰緊桿能穿過所述第二子卡環外壁使所述卡片抵緊在所述光學量測儀的外壁上。

作為本實用新型的一種優選方案，所述卡片能夠與所述光學量測儀的外壁表面貼合。

作為本實用新型的一種優選方案，所述擰緊桿外壁上設置有螺紋，所述第二子卡環側壁上設置有螺紋孔，所述擰緊桿遠離所述卡片的一端設置有把手。

作為本實用新型的一種優選方案，每個所述支腿包括第一支腿和第二支腿，所述第一支腿與所述卡環鉸接，所述第二支腿與被測工件抵接，所述第一支腿和第二支腿之間鉸接。

作為本實用新型的一種優選方案，所述第一支腿和/或第二支腿的長度可調。

作為本實用新型的一種優選方案，所述第二支腿上與被測工件抵接的一端設置有防滑套。

本實用新型的有益效果為：