[實(shí)用新型]缺陷檢測系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821042291.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN208350673U | 公開(公告)日: | 2019-01-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 章能;謝添華;周明賢;徐娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣州興森快捷電路科技有限公司;深圳市興森快捷電路科技股份有限公司;宜興硅谷電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/95 | 分類號(hào): | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 黃曉慶 |
| 地址: | 510663 廣東省廣州市廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 缺陷檢測系統(tǒng) 缺陷檢測裝置 控制器連接 待檢測物 控制器 打印機(jī) 工位 缺陷檢測結(jié)果 存儲(chǔ)缺陷 工作效率 檢測裝置 人力資源 通信連接 服務(wù)器 打印 檢測 節(jié)約 申請(qǐng) | ||
本申請(qǐng)涉及一種缺陷檢測系統(tǒng)。缺陷檢測系統(tǒng)包括:控制器;設(shè)置在設(shè)定工位,與控制器連接的打印機(jī);控制器用于在檢測到待檢測物到達(dá)設(shè)定工位后,控制打印機(jī)打印待檢測物的識(shí)別編碼;與控制器連接的缺陷檢測裝置;與缺陷檢測裝置通信連接,存儲(chǔ)缺陷檢測裝置的缺陷檢測結(jié)果和對(duì)應(yīng)識(shí)別編碼的服務(wù)器。采用本系統(tǒng)能夠提高工作效率節(jié)約人力資源。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及電路板生產(chǎn)領(lǐng)域,特別是涉及一種缺陷檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著電路板生產(chǎn)技術(shù)的發(fā)展,電路板生產(chǎn)過程中需要對(duì)電路板進(jìn)行缺陷檢測。通常使用AOI(Automatic Optic Inspection,自動(dòng)光學(xué)檢測器)進(jìn)行電路板的缺陷檢測。
然而,目前工廠中缺陷檢測方法大多當(dāng)AOI檢測出缺陷后采用人工使用筆刀劃記的方式標(biāo)記缺陷的位置。由于使用人工操作筆刀劃記的方式標(biāo)記缺陷位置速度慢,導(dǎo)致效率低下且浪費(fèi)人力資源。
實(shí)用新型內(nèi)容
基于此,有必要針對(duì)上述技術(shù)問題,提供一種能夠提高效率且節(jié)約人力資源的缺陷檢測系統(tǒng)。
一種缺陷檢測系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:
控制器;
設(shè)置在設(shè)定工位,與所述控制器連接的打印機(jī);所述控制器,用于在檢測到待檢測物到達(dá)設(shè)定工位后,控制打印機(jī)打印待檢測物的識(shí)別編碼;
與所述控制器連接的缺陷檢測裝置;
與所述缺陷檢測裝置通信連接,存儲(chǔ)所述缺陷檢測裝置的缺陷檢測結(jié)構(gòu)和對(duì)應(yīng)識(shí)別編碼的服務(wù)器。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述缺陷檢測裝置包括:
用于采集待檢測物圖片的光學(xué)成像組件;
與所述光學(xué)成像組件連接,根據(jù)采集的圖片識(shí)別缺陷位置的微處理器;
與所述微處理器連接的掃碼器。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述缺陷檢測裝置還包括與所述微處理器連接的顯示模塊。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述缺陷檢測裝置還包括用于與所述控制器和服務(wù)器連接的通信模塊。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述光學(xué)成像組件包括攝像機(jī)和光源。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述掃碼器為條形碼掃碼器。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述掃碼器為二維碼掃碼器。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述顯示模塊包括LCD顯示屏或LED顯示屏。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述通信模塊包括WIFI模塊、4G模塊或藍(lán)牙模塊。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述攝像機(jī)包括線陣相機(jī)或面陣相機(jī)。
上述缺陷檢測系統(tǒng),通過控制器控制打印機(jī)打印待檢測物的識(shí)別編碼,缺陷檢測裝置對(duì)已經(jīng)打印過識(shí)別編碼的待檢測物進(jìn)行缺陷檢測,缺陷檢測裝置檢測待檢測物的缺陷后將缺陷結(jié)果發(fā)送給服務(wù)器,服務(wù)器通過識(shí)別編碼將缺陷結(jié)果存儲(chǔ)到待檢測相應(yīng)的缺陷文件中。上述系統(tǒng)通過服務(wù)器存儲(chǔ)缺陷不需要利用人工用筆刀劃記進(jìn)行標(biāo)記缺陷位置,提高效率且節(jié)約人力資源。
附圖說明
圖1為一個(gè)實(shí)施例中缺陷檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖;
圖2為一個(gè)實(shí)施例中缺陷檢測裝置的結(jié)構(gòu)圖;
圖3為另一個(gè)實(shí)施例中缺陷檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖;
圖4為一個(gè)實(shí)施例中PCB板制作流程圖;
圖5為一個(gè)實(shí)施例中內(nèi)外層板識(shí)別編碼示意圖;
圖6為一個(gè)實(shí)施例中識(shí)別編碼示意圖;
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G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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