[實用新型]一種校正裝置及點膠機

有效

• 申請號: 201821023059.2
• 申請日: 2018-06-29
• 公開（公告）號: CN208712086U
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發明（設計）人: 吳加富;繆磊;林杰;文太平;馬紀飛;朱平
• 申請（專利權）人: 蘇州富強科技有限公司
• 主分類號: B05C5/02
• 分類號: B05C5/02;B05C11/00
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 安志嬌

1.一種校正裝置，適于對點膠針頭的點膠位置的坐標值進行校正，其特征在于，包括殼體，及：

傳感器組件，安裝于所述殼體中，包括用于測量所述點膠針頭X軸坐標的X軸光傳感器(12)，用于測量所述點膠針頭Y軸坐標的Y軸光傳感器(13)，以及用于測量所述點膠針頭Z軸坐標的Z軸光傳感器(3)；所述X軸光傳感器(12)和所述Y軸光傳感器(13)發出的光束位于所述殼體的頂部表面，所述Z軸光傳感器(3)發出的光束位于所述殼體內部，并位于所述X軸光傳感器(12)與所述Y軸光傳感器(13)發出的光束下方；

輔助機構，設于所述Z軸光傳感器(3)上方，包括設于所述殼體中的輔助本體，及設于所述輔助本體與所述殼體之間的偏壓件；所述輔助本體具有位于所述Z軸光傳感器(3)發出的光束的上方的初始位置，及在所述點膠針頭的作用下遮擋所述Z軸光傳感器(3)發出的光束的檢測位置；所述偏壓件施加給所述輔助本體一個使所述輔助本體恢復至所述初始位置的偏壓力。

2.根據權利要求1所述的校正裝置，其特征在于：

所述殼體包括內殼(7)，所述內殼(7)在其頂面及所述Z軸光傳感器(3)發出的光束之間設有容置腔(15)，所述容置腔(15)在靠近所述內殼(7)的頂面的一端設有開口，在靠近所述Z軸光傳感器(3)發出的光束的一端設置有安裝板(10)，所述安裝板(10)上成型有安裝通孔(11)；

所述輔助本體包括容置于所述容置腔(15)中的傳動桿件(14)，及設于所述傳動桿件(14)遠離所述Z軸光傳感器(3)一端的探測部；所述傳動桿件(14)的另一端為穿過所述安裝通孔(11)、并可遮擋所述Z軸光傳感器(3)發出的光束的遮擋端(1)，所述探測部遠離所述傳動桿件(14)的一側具有適于與所述點膠針頭接觸的探測平面(4)；

所述偏壓件為壓簧(2)，所述壓簧(2)套設于所述遮擋端(1)上，且所述壓簧(2)的底端與所述安裝板(10)相抵，頂端固定在所述傳動桿件(14)上。

3.根據權利要求2所述的校正裝置，其特征在于：所述探測部的外徑大于所述傳動桿件(14)的外徑，所述校正裝置還包括限位結構，所述限位結構包括：

套筒(5)，可拆卸地固定套設于所述傳動桿件(14)外部，且遠離所述安裝板(10)設置；

限位槽(17)，形成于所述套筒(5)與所述探測部之間；

限位板(9)，一端固定設置于所述內殼(7)的頂面上，另一端容置于所述限位槽(17)中，且所述限位板(9)的厚度小于所述限位槽(17)的槽寬。

4.根據權利要求3所述的校正裝置，其特征在于：所述容置腔(15)的橫截面大小及形狀與所述套筒(5)的橫截面大小及形狀相匹配，所述安裝通孔(11)的孔徑小于所述套筒(5)的外徑。

5.根據權利要求4所述的校正裝置，其特征在于：所述X軸光傳感器(12)發出的光束與所述X軸垂直，所述Y軸光傳感器(13)發出的光束與所述Y軸垂直，所述Z軸光傳感器(3)發出的光束與所述Z軸垂直。

6.根據權利要求5所述的校正裝置，其特征在于：

所述X軸、所述Y軸以及所述Z軸分別為空間直角坐標系上的三個坐標軸；

所述X軸光傳感器(12)發出的光束與所述Y軸光傳感器(13)發出的光束，相互垂直且位于同一水平面內。

7.根據權利要求6所述的校正裝置，其特征在于：所述X軸光傳感器(12)發出的光束與所述Y軸光傳感器(13)發出的光束不相交。

8.根據權利要求7所述的校正裝置，其特征在于：所述殼體還包括外殼(8)，套設于所述內殼(7)外部，所述外殼(8)的頂面上成型有：

L型凹槽通道，可供所述點膠針頭在其中運動，包括與所述X軸光傳感器(12)發出的光束垂直的第一支通道(18)，及與所述Y軸光傳感器(13)發出的光束垂直、并與所述第一支通道(18)連通的第二支通道(19)；

讓位通孔(20)，設于所述探測平面(4)上方，可供所述點膠針頭穿過以與所述探測平面(4)接觸。