[實(shí)用新型]玻璃介電常數(shù)測試用電極裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821008715.1 | 申請日: | 2018-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN208283328U | 公開(公告)日: | 2018-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔣子安 | 申請(專利權(quán))人: | 成都光明光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N27/22 | 分類號: | G01N27/22 |
| 代理公司: | 成都虹橋?qū)@聞?wù)所(普通合伙) 51124 | 代理人: | 敬川 |
| 地址: | 610100 四川省*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電極部件 玻璃介電 測試樣品 測試 彈性元件 電極裝置 電極 上殼 體內(nèi) 伸縮調(diào)節(jié)部件 本實(shí)用新型 下電極部件 玻璃測試 夾緊固定 接觸不良 接觸電阻 可活動 內(nèi)頂面 上殼體 | ||
本實(shí)用新型屬于玻璃測試技術(shù)領(lǐng)域,具體公開了一種利于提高玻璃介電常數(shù)測試精度的電極裝置。該玻璃介電常數(shù)測試用電極裝置通過在上殼體內(nèi)設(shè)置包括有彈性元件的伸縮調(diào)節(jié)部件,同時使上電極部件可活動地設(shè)置在上殼體內(nèi),并將彈性元件設(shè)置于上殼體的內(nèi)頂面和上電極部件之間,進(jìn)而當(dāng)下電極部件與上電極部件之間放置有測試樣品進(jìn)行測試時,可以利用彈性元件的彈力將測試樣品夾緊固定,使得上電極部件的電極部分及下電極部件的電極部分均與測試樣品接觸良好,可以消除電極和測試樣品之間因接觸不良而產(chǎn)生的接觸電阻,利于提高玻璃介電常數(shù)的測試精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于玻璃測試技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種電極裝置。
背景技術(shù)
介電常數(shù)是光學(xué)玻璃的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),全面而準(zhǔn)確地掌握這種特性,對分析、改進(jìn)光學(xué)玻璃的性能十分重要。一般都希望光學(xué)玻璃具有一致性,通過測定介電常數(shù)等參數(shù),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗的各種因素,用于對光學(xué)玻璃新材料性能的應(yīng)用研究、研發(fā)評估,為提高光學(xué)玻璃的性能提供依據(jù);可以分析光學(xué)玻璃組成之間的變化關(guān)系,研究光學(xué)玻璃基質(zhì)中不同組份配比對相應(yīng)性質(zhì)的影響。
目前,一般采用電橋法或頻率法測定光學(xué)玻璃的介電常數(shù)。測試過程中,通常需要利用電極裝置提供電力,利用LCR測試儀或Q表等儀器等對光學(xué)玻璃的介電常數(shù)進(jìn)行檢測。現(xiàn)有的電極裝置,其電極與測試樣品之間往往因接觸不良而產(chǎn)生接觸電阻,導(dǎo)致測試精度降低;另外,現(xiàn)有的測試裝置在同一測試條件下多次測量的系統(tǒng)誤差一致性不好,不利于對測試系統(tǒng)進(jìn)行修正,得出較為準(zhǔn)確的測試結(jié)果。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種利于提高玻璃介電常數(shù)測試精度的電極裝置。
本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:玻璃介電常數(shù)測試用電極裝置,包括下殼體、設(shè)置在下殼體內(nèi)的下電極部件、設(shè)置在下殼體上側(cè)的上殼體、以及上電極部件;還包括設(shè)置在上殼體內(nèi)的伸縮調(diào)節(jié)部件,所述伸縮調(diào)節(jié)部件包括彈性元件;所述上電極部件設(shè)置在上殼體內(nèi),并能夠沿上殼體的高度方向運(yùn)動;所述彈性元件設(shè)置于上殼體的內(nèi)頂面和上電極部件之間,當(dāng)下電極部件與上電極部件之間放置有測試樣品時,彈性元件處于壓縮狀態(tài)。
進(jìn)一步的是,所述下電極部件包括下電極固定塊、下電極絕緣體和下平板電極,所述下電極固定塊設(shè)置在下殼體內(nèi),下電極固定塊的上側(cè)設(shè)有下電極固定槽,所述下電極絕緣體設(shè)置在下電極固定槽中,下電極絕緣體的上側(cè)設(shè)有下電極安裝槽,所述下平板電極設(shè)置在下電極安裝槽中。
進(jìn)一步的是,所述下電極固定塊的側(cè)部設(shè)置有楔形槽,與楔形槽相對應(yīng)的下殼體部位上設(shè)置有微調(diào)螺桿,所述微調(diào)螺桿的旋擰端位于下殼體外側(cè),微調(diào)螺桿的調(diào)節(jié)端伸入至楔形槽內(nèi)。
進(jìn)一步的是,所述上電極部件包括上電極固定塊、上電極絕緣體和上平板電極,所述上電極固定塊設(shè)置在上殼體內(nèi),上電極固定塊的下側(cè)設(shè)有上電極固定槽,所述上電極絕緣體設(shè)置在上電極固定槽中,上電極絕緣體的下側(cè)設(shè)有上電極安裝槽,所述上平板電極設(shè)置在上電極安裝槽中并與下平板電極相對應(yīng)。
進(jìn)一步的是,所述伸縮調(diào)節(jié)部件還包括伸縮筒和提桿,所述伸縮筒設(shè)置在上殼體內(nèi)其兩端分別與上殼體的內(nèi)頂面和上電極固定塊的上表面密封連接,所述彈性元件設(shè)置在伸縮筒中其兩個接觸端分別與上殼體的內(nèi)頂面和上電極固定塊的上表面相對應(yīng),所述提桿的一端穿過上殼體的頂部伸入至伸縮筒中并與上電極固定塊連接,提桿的另一端處于上殼體外。
進(jìn)一步的是,所述伸縮筒由波紋管制成。
進(jìn)一步的是,所述彈性元件為螺旋彈簧,所述上殼體的內(nèi)頂面和上電極固定塊的上表面上分別設(shè)有上連接柱和下連接柱,所述螺旋彈簧的兩端分別套裝上連接柱和下連接柱上。
進(jìn)一步的是,所述提桿從螺旋彈簧中穿過。
進(jìn)一步的是,該玻璃介電常數(shù)測試用電極裝置還包括電器箱,所述電器箱包括箱體、設(shè)置在箱體上側(cè)的操作臺板、以及設(shè)置在箱體底部的地腳螺釘。
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