[實用新型]材料定位裝置及材料電磁反散射系數(shù)測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821007363.8 | 申請日: | 2018-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN208921619U | 公開(公告)日: | 2019-05-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王宇涵;王龍河 | 申請(專利權(quán))人: | 王宇涵 |
| 主分類號: | G01N21/47 | 分類號: | G01N21/47 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 116000 遼寧省大連市高新園區(qū)*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 聚焦透鏡天線 定位裝置 夾具 待測材料 反散射 系數(shù)測量裝置 電動位移臺 電動旋轉(zhuǎn)臺 距離傳感器 豎直軸線 電磁波 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 本實用新型 電磁波能量 電動旋轉(zhuǎn) 定向天線 方向垂直 系數(shù)測量 轉(zhuǎn)動過程 驅(qū)動 發(fā)射 轉(zhuǎn)動 | ||
本實用新型公開了一種用于材料電磁反散射系數(shù)測量的材料定位裝置,包括電動位移臺、第一電動旋轉(zhuǎn)臺、夾具和距離傳感器,電動位移臺用于驅(qū)動第一電動旋轉(zhuǎn)臺遠(yuǎn)離或靠近聚焦透鏡天線,第一電動旋轉(zhuǎn)臺上設(shè)置有夾具并用于驅(qū)動夾具繞豎直軸線轉(zhuǎn)動,距離傳感器用于測定聚焦透鏡天線與待測材料表面的距離,并通過聚焦透鏡天線發(fā)射并接收電磁波,待測材料繞豎直軸線轉(zhuǎn)動過程中,當(dāng)聚焦透鏡天線接收的電磁波能量最大時,聚焦透鏡天線電磁波的發(fā)射方向垂直于待測材料表面。該材料定位裝置及包括該材料定位裝置的材料電磁反散射系數(shù)測量裝置,實現(xiàn)了精確確定材料到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀所連接的聚焦透鏡天線的距離以及聚焦透鏡天線和定向天線與材料的夾角。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及材料的電磁反散射系數(shù)測量技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種材料定位裝置及材料電磁反散射系數(shù)測量裝置。
背景技術(shù)
在無線信道仿真與建模中,仿真環(huán)境中材料的反散射系數(shù)對仿真有著重要的意義,其材料參數(shù)的準(zhǔn)確性直接關(guān)乎仿真的正確性。目前材料的反散射系數(shù)的測量方法是:將材料固定于某個位置后,利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,用帶有聚焦功能的透鏡天線即聚焦透鏡天線連接于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的一個端口上作為發(fā)射機發(fā)射電磁波,用定向天線連接于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的另一個端口上作為接收機接收電磁波,在接收機與待測材料表面上掃描半個圓周過程中,使接收機與待測材料表面定位于某一角度的情況下,使發(fā)射機在垂直于材料的水平面上旋轉(zhuǎn)掃描半個圓周,記錄電磁反散射參數(shù),最后通過軟件分析這些電磁反散射參數(shù),得到材料的反散射系數(shù)。在上述方法中,要求聚焦透鏡天線的焦點恰好位于待測材料的表面上,而且聚焦透鏡天線和定向天線與待測材料表面的夾角必須要準(zhǔn)確,這要求測量中必須精確地對材料到透鏡天線的距離以及聚焦透鏡天線和定向天線與材料的夾角進(jìn)行定位。由于待測材料大小,厚度不同,手動放置的材料很難恰好使得聚焦透鏡電線的焦點打在材料表面上,更不能夠準(zhǔn)確得知聚焦透鏡天線和定向天線與材料的夾角。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的是提供一種材料定位裝置及材料電磁反散射系數(shù)測量裝置,以解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,能夠?qū)崿F(xiàn)材料電磁反散射系數(shù)測量過程中,精確確定待測材料到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀所連接的聚焦透鏡天線的距離以及聚焦透鏡天線和定向天線與待測材料的夾角。
為實現(xiàn)上述目的,本實用新型提供了如下方案:
本實用新型提供一種用于材料電磁反散射系數(shù)測量的材料定位裝置,包括:電動位移臺、第一電動旋轉(zhuǎn)臺、夾具和距離傳感器,所述電動位移臺用于驅(qū)動所述第一電動旋轉(zhuǎn)臺遠(yuǎn)離或靠近聚焦透鏡天線,所述第一電動旋轉(zhuǎn)臺上設(shè)置有所述夾具并用于驅(qū)動所述夾具繞豎直軸線轉(zhuǎn)動,所述夾具用于夾持待測材料,所述距離傳感器用于測定聚焦透鏡天線與待測材料表面的距離,通過聚焦透鏡天線發(fā)射電磁波至待測材料的表面并接收待測材料表面反射或散射的電磁波,待測材料繞豎直軸線轉(zhuǎn)動過程中,當(dāng)聚焦透鏡天線接收的電磁波能量最大時,聚焦透鏡天線電磁波的發(fā)射方向垂直于待測材料表面。
優(yōu)選的,還包括一發(fā)射支架,所述聚焦透鏡天線固定設(shè)置于所述發(fā)射支架上。
優(yōu)選的,所述距離傳感器設(shè)置于所述發(fā)射支架上。
優(yōu)選的,所述距離傳感器為激光距離傳感器。
優(yōu)選的,所述第一電動旋轉(zhuǎn)臺包括第一轉(zhuǎn)臺、第一固定部和第一驅(qū)動組件,所述第一驅(qū)動組件固定設(shè)置于所述第一固定部上并用于驅(qū)動所述第一轉(zhuǎn)臺繞豎直軸線轉(zhuǎn)動;所述第一電動旋轉(zhuǎn)臺內(nèi)還設(shè)置有第一限位開關(guān),當(dāng)所述第一轉(zhuǎn)臺與所述第一限位開關(guān)接觸時,所述第一轉(zhuǎn)臺復(fù)位至第一機械原點,所述第一轉(zhuǎn)臺位于第一機械原點時所述聚焦透鏡天線電磁波的發(fā)射方向與待測材料表面呈第一固定角度;且所述第一轉(zhuǎn)臺外表面周向設(shè)置有第一刻度,所述第一固定部上設(shè)置有指向所述第一刻度的第一刻度指針。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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