[實用新型]用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置

有效

• 申請號: 201820990109.8
• 申請日: 2018-06-26
• 公開（公告）號: CN208420367U
• 公開（公告）日: 2019-01-22
• 發明（設計）人: 孫崗;滕明;陳允;崔博源;邊智;韓占杰;孟理華;黃爽
• 申請（專利權）人: 中國航空綜合技術研究所;國家電網有限公司;中國電力科學研究院有限公司;國網江蘇省電力有限公司電力科學研究院
• 主分類號: G01M13/005
• 分類號: G01M13/005
• 代理公司: 北京孚睿灣知識產權代理事務所(普通合伙) 11474
• 代理人: 韓燕

1.一種用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：包括上板、下板和塞圈，所述塞圈包括第一塞圈和第二塞圈，

所述上板的第一表面上設置有第一溝槽和第一定位結構，所述下板的第一表面上設置有第二溝槽和第二定位結構，所述第二定位結構與上板上的第一定位結構相互配合，所述第一溝槽的寬度與所述第二溝槽的寬度相等，在所述第二溝槽的第一側壁設置所述第一塞圈，所述第二溝槽的第二側壁上設置所述第二塞圈，且所述第一塞圈的直徑小于所述第二塞圈的直徑；所述上板和所述下板上分別設置定位角，所述上板設置有觀察口，所述觀察口上方設置防護罩，所述觀察口沿著第一溝槽的直徑方向設置且所述觀察口沿著所述第一溝槽直徑方向的尺寸大于所述第一溝槽的寬度，以及

所述上板的第一溝槽內設置均勻分布的測試孔。

2.如權利要求1所述的用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：所述第一定位結構為定位孔，且所述定位孔在與所述下板相互接觸的所述上板的第一表面上均勻分布。

3.如權利要求2所述的用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：所述第二定位結構為定位銷且在與所述上板相互接觸的所述下板的第一表面上均勻分布。

4.如權利要求1所述的用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：所述第一溝槽的深度為H1，所述第二溝槽的深度為H2，且所述下板上的第二溝槽和所述上板上的第一溝槽的溝槽加工深度之和H為受測密封圈最初試驗前原始狀態的截面直徑。

5.如權利要求4所述的用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：所述第二溝槽與所述第一溝槽的深度比例H2：H1為7：3。

6.如權利要求5所述的用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：所述第一溝槽和所述第二溝槽均為矩形槽且所述第一溝槽的寬度與所述第二溝槽的寬度相等。

7.如權利要求2或3所述的用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：所述定位孔的數量為四個，且各定位孔的尺寸相同，平均分布在上板第一表面的四角處，在下板第一表面處與上板上的定位孔位置相同處設置四個與各定位孔相配合的定位銷。

8.如權利要求1所述的用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：所述觀察口為觀察窗或觀察孔。

9.如權利要求8所述的用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：所述定位角包括第一定位角和第二定位角，所述上板上設置第一定位角，所述下板上設置第二定位角，所述第一定位角和所述第二定位角分別為在上板和下板的一個角上設置的倒角。

10.如權利要求1所述的用于密封圈老化壽命試驗的測試裝置，其特征在于：所述測試孔的數量為4個。