[實用新型]用于LM3射頻智能標簽模塊測試的屏蔽罩

有效

• 申請號: 201820981054.4
• 申請日: 2018-06-25
• 公開（公告）號: CN208383941U
• 公開（公告）日: 2019-01-15
• 發明（設計）人: 周宗濤
• 申請（專利權）人: 諾得卡（上海）微電子有限公司
• 主分類號: G01R1/18
• 分類號: G01R1/18
• 代理公司: 上海兆豐知識產權代理事務所(有限合伙) 31241
• 代理人: 屠軼凡

本實用新型公開了用于LM3射頻智能標簽模塊測試的屏蔽罩，包括屏蔽單元，所述屏蔽單元包括兩塊垂直于裝載LM3射頻智能標簽模塊的條帶頂面的，與所述條帶寬度方向平行的橫向隔板，兩塊橫向隔板的間距與所述條帶軸向上相鄰兩塊LM3射頻智能標簽模塊之間的步距對應，兩塊所述橫向隔板的長度均大于所述條帶的寬度；兩塊所述橫向隔板之間設有一塊與所述條帶的軸向平行的，垂直于所述條帶頂面的軸向隔板，使所述屏蔽單元的水平截面形狀為H形；所述軸向隔板將所述屏蔽單元分為兩個全等的背對背開口的屏蔽槽，每個屏蔽槽對應條帶上的一塊LM3射頻智能標簽模塊。

技術領域

本實用新型涉及微電子封裝領域的用于LM3射頻智能標簽模塊測試的屏蔽罩。

背景技術

射頻智能標簽模塊廣泛地應用在各行各業。13.56MHz頻率的射頻智能標簽模塊一般尺寸都比較大，外形尺寸類似于身份證大小。生產廠家必須要對每一片射頻智能標簽模塊進行測試，以保證每一片射頻智能標簽模塊是合格的產品。測試是一種一一對應的非接觸射頻測試，由于其面積大，而且大多數都是單排排列，在規模生產中不會有問題。對于這種普通的射頻智能標簽模塊，采用非接觸射頻測試，不存在任何互相之間的干擾問題。一般不需要采取任何特殊的措施來保證測試的有效性。

裝載LM3射頻智能標簽模塊的條帶沿用裝載M3接觸式智能標簽模塊條帶的標準外形尺寸，LM3射頻智能標簽模塊在寬度d0為35毫米的G10玻璃纖維布制成的條帶上排列成兩排，條帶軸向上相鄰LM3射頻智能標簽模塊之間的步距為9.5mm,比LM4射頻智能標簽模塊還要縮小30％。每個LM3射頻智能標簽模塊對應條帶軸向上的兩個齒孔。

普通的M3接觸式智能標簽模塊的接觸面上，有六組觸點。在常規的智能卡模塊測試機上，利用六根接觸式導電探針直接歐姆接觸M3接觸式智能標簽模塊的接觸面上相對應的觸點，進行各種讀寫及參數測試。相鄰的M3接觸式智能標簽模塊互相之間獨立地進行測試。M3接觸式智能標簽模塊的測試雖然在寬度為35毫米條帶上利用接觸式導電探針快速進行，相鄰M3接觸式智能標簽模塊的測試不會產生任何干擾、互不影響測試的結果。

LM3射頻智能標簽模塊是一種帶有13.56MHz射頻天線的智能標簽模塊。相鄰LM3射頻智能標簽模塊在條帶軸向上的距離b，以及相鄰LM3射頻智能標簽模塊在條帶寬度方向上的距離c都僅僅只有1～2mm.因此由LM3射頻智能標簽模塊之間相互靠近，而且LM3射頻智能標簽模塊的尺寸僅僅是LM4射頻智能標簽模塊的67％，所以不能用通常的方法對如此高密度排列的LM3射頻智能標簽模塊進行一一對應的測試。

LM3射頻智能標簽模塊沒有觸點，是一種非接觸式的測試。它不能類似M3接觸式智能標簽模塊，利用接觸式導電探針直接進行歐姆接觸方法進行測試，而是利用13.56MHz頻率的射頻進行非接觸測試。

在非接觸射頻測試時，由于相鄰的LM3射頻智能標簽模塊相互之間會產生射頻干擾，不采取良好而有效的射頻信號隔離措施，通常無法對LM3射頻智能標簽模塊進行有效的在線射頻測試。

實用新型內容

本實用新型的目的是為了克服現有技術的不足，提供用于LM3射頻智能標簽模塊測試的屏蔽罩，其能夠保證非接觸式智能模塊測試機上的測試頭能完整進入對應的屏蔽槽，測試對應的LM3射頻智能標簽模塊，在對LM3射頻智能標簽模塊進行13.56MHz射頻測試時，有效防止相鄰LM3射頻智能標簽模塊的干擾，可以對條帶上的LM3射頻智能標簽模塊進行可靠的一一對應的有效測試。

實現上述目的的一種技術方案是：用于LM3射頻智能標簽模塊測試的屏蔽罩，包括屏蔽單元，所述屏蔽單元包括兩塊垂直于裝載LM3射頻智能標簽模塊的條帶頂面的，與所述條帶寬度方向平行的橫向隔板，兩塊橫向隔板的間距與所述條帶軸向上相鄰兩塊LM3射頻智能標簽模塊之間的步距對應，兩塊所述橫向隔板的長度均大于所述條帶的寬度；

兩塊所述橫向隔板之間設有一塊與所述條帶的軸向平行的，垂直于所述條帶頂面的軸向隔板，使所述屏蔽單元的水平截面形狀為H形；