[實用新型]一種針對晶圓、印制線路板的處理系統有效
| 申請號: | 201820973915.4 | 申請日: | 2018-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN208400815U | 公開(公告)日: | 2019-01-18 |
| 發明(設計)人: | 何志剛;黃雷 | 申請(專利權)人: | 昆山成功環保科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/677 |
| 代理公司: | 蘇州華博知識產權代理有限公司 32232 | 代理人: | 黃珩 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 線路板 晶圓 印制 清洗腔體 清洗 等離子活化 機械手 處理系統 本實用新型 等離子清洗 產品品質 常溫常壓 電鍍裝置 二次氧化 機械手夾 清洗效果 在線清洗 自然條件 電鍍 非密封 單片 料盒 腔體 暫存 遮擋 污染 保證 | ||
1.一種針對晶圓、印制線路板的處理系統,其特征在于,包括:
等離子活化裝置,用于對晶圓或印制線路板進行表面清洗及活化;
電鍍裝置,用于對所述晶圓或所述印制線路板進行電鍍處理;
機械手,用于對所述晶圓或所述印制線路板進行位置轉移;
所述等離子活化裝置包括清洗腔體,用來對通過所述機械手夾持的所述晶圓或所述印制線路板進行在線清洗;所述清洗腔體為非密封腔體,處于自然條件下常溫常壓狀態。
2.根據權利要求1所述的針對晶圓、印制線路板的處理系統,其特征在于,在所述清洗腔體的正上方設置有做往復運動的線型等離子噴頭,且其寬度大于所述晶圓或所述印制線路板的寬度。
3.根據權利要求2所述的針對晶圓、印制線路板的處理系統,其特征在于,所述線型等離子噴頭距離所述晶圓或所述印制線路板的預清洗表面5~15mm。
4.根據權利要求1所述的針對晶圓、印制線路板的處理系統,其特征在于,所述等離子活化裝置的工作氣體為普通大氣。
5.根據權利要求1所述的針對晶圓、印制線路板的處理系統,其特征在于,所述等離子活化裝置的工作氣體為四氟化碳和氧氣等組成的混合氣體。
6.根據權利要求5所述的針對晶圓、印制線路板的處理系統,其特征在于,所述四氟化碳和所述氧氣之間的流量比率為1∶30。
7.根據權利要求1-6中任一項所述的針對晶圓、印制線路板的處理系統,其特征在于,還包括浸潤角測量裝置,用來對經過所述等離子活化裝置處理后的所述晶圓或所述印制線路板進行浸潤角測量。
8.根據權利要求7所述的針對晶圓、印制線路板的處理系統,其特征在于,還包括等離子干燥裝置,其設置于所述電鍍裝置的后道工序,用于對電鍍后的所述晶圓或所述印制線路板進行在線干燥處理。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





