[實用新型]一種測試針組件及其組成的測試接觸片

有效

• 申請號: 201820971578.5
• 申請日: 2018-06-23
• 公開（公告）號: CN208270625U
• 公開（公告）日: 2018-12-21
• 發明（設計）人: 周峰
• 申請（專利權）人: 四川峰哲精密設備有限公司
• 主分類號: G01R1/06
• 分類號: G01R1/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種測試針組件及其組成的測試接觸片。測試針組件包括至少兩組并排設置的測試針組，所述測試針組包括第一測試針主體和設置在第一測試針主體上方的第二測試針主體；所述第一測試針主體上設有第一測試針頭，所述第二測試針主體上設有位于第一測試針頭右側的第二測試針頭，所述第一測試針主體與第二測試針主上均設有測試板接觸面。測試接觸片，包括測試接觸片基板，及其上設置的至少一個上述測試針組件。本實用新型結構簡單，成本低廉，使用時測試針組的兩個測試針頭同時與產品引腳相接觸并進行測試，而測試針組件至少包括兩組并排設置的測試針組，測試時則至少有四個測試針頭與產品引腳相接觸，極大地解決了測試針組件與產品引腳接觸失效的問題。

技術領域

本實用新型涉及一種用于半導體產品測試的機械結構，尤其涉及一種由其組成的測試接觸片。

背景技術

在半導體產品制造工藝完成前，需要進入最終測試階段，最終測試是利用測試機臺（Tester）,分選機(Handler)，測試板(DUT Board)與測試接觸片（Test Finger）之間的搭配組合來測試每一個產品，測試機的測試線連接到測試板上的線路上，測試板上的線路連接到測試接觸片的測試針的一端，測試針的另一端再與半導體產品的引腳直接接觸，進而對產品進行測試。在制造過程中引腳與測試針的接觸面上容易產生毛刺，同時引腳的接觸面也容易生成不規則面，從而容易導致測試針與引腳接觸失效，產品則被誤判為不合格，因此降低了產品的合格率，對產品也造成了極大的浪費。

發明內容

本實用新型的目的之一在于針對上述不足，提供一種測試針組件，以期待解決現有測試半導體產品時測試針與產品引腳的接觸失效問題。本實用新型還提供一種測試針組件組成的測試接觸片。

實用新型的目的通過下述技術方案實現：

一種測試針組件，包括至少兩組并排設置的測試針組，所述測試針組包括第一測試針主體和設置在第一測試針主體上方的第二測試針體；所述第一測試針主體上設有第一測試針頭，所述第二測試針主體上設有位于第一測試針頭右側的第二測試針頭，所述第一測試針主體與第二測試針主體上均設有測試板接觸面。

進一步的，所述第一測試針頭上設有第一測試針頭接觸面，所述第二測試針頭上設有第二測試針頭接觸面。

再進一步的，所述第一測試針頭接觸面與第二測試針頭接觸面之間的高度差為h，且0≦h≦2mm。

一種測試接觸片，包括測試接觸片基板，所述測試接觸片基板上設有至少一個測試針組件，所述測試針組件包括至少兩組并排設置的測試針組，所述測試針組包括均設置在測試接觸片基板上的第一測試針主體和位于第一測試針主體上方的第二測試針主體；所述第一測試針主體上設有第一測試針頭，所述第二測試針主體上設有位于第一測試針頭右側的第二測試針頭，所述第一測試針主體與第二測試針主體上均設有測試板接觸面。

進一步的，所述第一測試針主體與第二測試針主體之間填充有絕緣介質。

本實用新型較現有技術相比，具有以下優點及有益效果：

（1）本實用新型不僅結構簡單，而且成本低廉，使用時測試針組的兩個測試針頭上同時與產品引腳相接觸并進行測試，而測試針組件至少包括兩組并排設置的測試針組，測試時則至少有四個測試針頭與產品引腳相接觸，因此極大地降低了測試針組件與產品引腳接觸失效的問題，從而提高了產品測試結果的準確率，并提高了產品的合格率。

（2）本實用新型的第一測試針頭上設有第一測試針頭接觸面，第二測試針頭上設有第二測試針頭接觸面，測試時每個測試針頭均通過接觸面與產品引腳相接觸，從而能增大測試針頭與產品引腳的有效接觸面積，即可提高產品測試結果的準確率。

（3）本實用新型的第一測試針頭接觸面與第二測試針頭接觸面之間的高度差為h，且0≦h≦2mm，測試時通過壓緊力使每個針頭的接觸面與產品引腳相接觸，以便于能更好的與產品引腳的不規則接觸面相接觸。