[實用新型]一種測量高量程濁度的光路結構

有效

• 申請號: 201820932901.8
• 申請日: 2018-06-15
• 公開（公告）號: CN208334194U
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發明（設計）人: 阮小東;陳云龍;邊寶麗;李蔚;劉少飛
• 申請（專利權）人: 北京華科儀科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/51
• 分類號: G01N21/51
• 代理公司: 北京天悅專利代理事務所(普通合伙) 11311
• 代理人: 田明;任曉航

1.一種測量高量程濁度的光路結構，其特征在于，所述光路結構包括：通過連接器件固定的光源(1)、透鏡(2)、前向散射接收單元(3)、比色瓶(4)、90°散射接收單元(5)和后向散射接收單元(6)，以及透射接收單元(7)，所述比色瓶(4)內裝有待測樣品；

所述光源(1)和所述透鏡(2)均安裝在所述比色瓶(4)的一側，所述透射接收單元(7)安裝在所述比色瓶(4)的另一側，所述光源發出的光依次穿過所述透鏡的中心、所述比色瓶(4)的中心和所述透射接收單元(7)的中心，形成主光路；

所述前向散射接收單元(3)、所述90°散射接收單元(5)和所述后向散射接收單元(6)沿同一直線依次排列布置，該直線與所述主光路平行，所述透鏡(2)的中心與所述比色瓶(4)的中心形成的連線與所述比色瓶(4)的中心與所述90°散射接收單元(5)的中心形成的連線之間的夾角為90°，所述前向散射接收單元(3)位于靠近所述透鏡(2)一側，所述后向散射接收單元(6)位于靠近所述透射接收單元(7)一側。

2.根據權利要求1所述的一種測量高量程濁度的光路結構，其特征在于，所述透鏡(2)的中心與所述比色瓶(4)的中心形成的連線與所述比色瓶(4)的中心與所述前向散射接收單元(3)的中心形成的連線之間的夾角為45°。

3.根據權利要求1所述的一種測量高量程濁度的光路結構，其特征在于，所述透鏡(2)的中心與所述比色瓶(4)的中心形成的連線與所述比色瓶(4)的中心與所述后向散射接收單元(6)的中心形成的連線之間的夾角為135°。

4.根據權利要求1-3任一項所述的一種測量高量程濁度的光路結構，其特征在于，所述光源(1)發出的光為850nm單色光。