[實(shí)用新型]一種產(chǎn)品在線回波損耗監(jiān)控及回波損耗光路調(diào)零裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820930948.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN208508946U | 公開(公告)日: | 2019-02-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 智春瑋;智健;杜永建;郭征東;嚴(yán)安全 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣州奧鑫通訊設(shè)備有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04B10/079 | 分類號(hào): | H04B10/079;H04B10/071 |
| 代理公司: | 深圳市科吉華烽知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44248 | 代理人: | 胡吉科 |
| 地址: | 510925 廣*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 回波損耗 耦合器 光全反射 光路 本實(shí)用新型 單點(diǎn)光源 調(diào)零裝置 光功率計(jì) 測(cè)試準(zhǔn)確性 測(cè)試參數(shù) 測(cè)試光路 測(cè)試光源 插入損耗 調(diào)試效率 設(shè)備成本 依次相連 光源線 輸出端 輸入端 監(jiān)控 歸零 熔接 光纖 測(cè)試 節(jié)約 | ||
本實(shí)用新型提供了一種產(chǎn)品在線回波損耗監(jiān)控及回波損耗光路調(diào)零裝置,包括單點(diǎn)光源(1)、2×2耦合器(2)、光全反射器件(4)、光功率計(jì)(5),所述單點(diǎn)光源(1)、所述2×2耦合器(2)、所述光全反射器件(4)依次相連,所述2×2耦合器(2)輸出端與所述光功率計(jì)(5)輸入端相連。本實(shí)用新型的有益效果是:1、通過耦合器搭建回波損耗測(cè)試光路,節(jié)約了設(shè)備成本;2、通過一種光全反射器件對(duì)搭建光路進(jìn)行歸零,大大提高了測(cè)試準(zhǔn)確性并使測(cè)試參數(shù)更明確;3、通過耦合器進(jìn)行回波損耗,插入損耗光源線與回波損耗測(cè)試光源線為一條光纖,免去了測(cè)試回波損耗需要重新熔接的步驟,大大提高了產(chǎn)品的調(diào)試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及光通信領(lǐng)域,尤其涉及一種產(chǎn)品在線回波損耗監(jiān)控及回波損耗光路調(diào)零裝置。
背景技術(shù)
隨著通信行業(yè)的不斷發(fā)展,光無源器件的種類也是越來越多,特別是不同元件的集成器件及陣列型器件得到了很大的推廣及運(yùn)用;但由于元器件集成太多,中間反光面也是越來越多,這樣多的反光面也使得這種集成器件的回波損耗很不穩(wěn)定,產(chǎn)品回波損耗參數(shù)的良率波動(dòng)較大;本專利主要是在對(duì)效率影響極低、投入成本較低、測(cè)試準(zhǔn)確性高的情況下通過在線監(jiān)控回波損耗的方式提高此類產(chǎn)品回波損耗參數(shù)的良率。
如圖1所示,現(xiàn)有市面上回波損耗測(cè)試比較準(zhǔn)確的是回波損耗測(cè)試儀,同時(shí)此類設(shè)備測(cè)試量程也很高,但設(shè)備成本較高一般用于產(chǎn)品出貨前的性能測(cè)試,但在生產(chǎn)過程中采用此種設(shè)備進(jìn)行回波損耗監(jiān)控,由于產(chǎn)品調(diào)試效率較低此類成本較高的設(shè)備利用率較低,投入太大不適合批量生產(chǎn)使用;
如圖3所示,另外一種回波損耗測(cè)試是采用2×2的50/50的耦合器搭建回波損耗測(cè)試光路進(jìn)行回波損耗測(cè)試,但此類測(cè)試光路由于光路中本身存在3~4dB的損耗,而不同耦合器的損耗也有一定的差別,同時(shí)由于整個(gè)光路還需要熔接光源線等,同樣會(huì)導(dǎo)致光路損耗變大,而一般運(yùn)用中實(shí)際不會(huì)測(cè)試整個(gè)光路的損耗,只是把預(yù)估的3dB損耗減去,這樣測(cè)試出來的回波損耗準(zhǔn)確性太低,員工的操作問題更是有可能產(chǎn)生不良品流出。
如圖2所示的現(xiàn)有調(diào)零方式存在耦合器本身的損耗及光路中其他損耗沒有清掉,導(dǎo)致整個(gè)測(cè)試產(chǎn)品偏大,并需要人為預(yù)估損耗值,并在測(cè)試的參數(shù)上減掉這個(gè)預(yù)估的損耗。
在圖1中,1是插回?fù)p測(cè)試儀、2是熔接點(diǎn)、3是待測(cè)器件、4是光源線。
在圖2中,1是單點(diǎn)光源、2是50/50 2×2耦合器、3是功率計(jì)。
在圖3中,1是單點(diǎn)光源、2是50/50 2×2耦合器、3是熔接點(diǎn)、4是待測(cè)器件、5和6是功率計(jì)。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型提供了一種產(chǎn)品在線回波損耗監(jiān)控及回波損耗光路調(diào)零裝置,包括單點(diǎn)光源、2×2耦合器、光全反射器件、光功率計(jì),所述單點(diǎn)光源、所述2×2耦合器、所述光全反射器件依次相連,所述2×2耦合器輸出端與所述光功率計(jì)輸入端相連。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述2×2耦合器輸出端與所述光全反射器件輸入端通過光纖熔接相連。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述2×2耦合器輸出端與所述光全反射器件輸入端之間構(gòu)成熔接點(diǎn)。
本實(shí)用新型的有益效果是:1、通過耦合器搭建回波損耗測(cè)試光路,節(jié)約了設(shè)備成本;2、通過一種光全反射器件對(duì)搭建光路進(jìn)行歸零,大大提高了測(cè)試準(zhǔn)確性并使測(cè)試參數(shù)更明確;3、通過耦合器進(jìn)行回波損耗,插入損耗光源線與回波損耗測(cè)試光源線為一條光纖,免去了測(cè)試回波損耗需要重新熔接的步驟,大大提高了產(chǎn)品的調(diào)試效率。
附圖說明
圖1是背景技術(shù)的插回?fù)p儀測(cè)試產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖;
圖2是背景技術(shù)的調(diào)零光路產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖;
圖3是背景技術(shù)的回波損耗測(cè)試光路產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖;
圖4是本實(shí)用新型產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖。
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