[實(shí)用新型]一種光分路器生產(chǎn)用光功率測(cè)試探頭

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201820904388.1
• 申請(qǐng)日: 2018-06-12
• 公開（公告）號(hào): CN208270067U
• 公開（公告）日: 2018-12-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 河南標(biāo)迪通信技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01J1/02
• 分類號(hào): G01J1/02;G01J1/04
• 代理公司: 鄭州優(yōu)盾知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 41125
• 代理人: 張紹琳;謝萍

本實(shí)用新型一種光分路器生產(chǎn)用光功率測(cè)試探頭，包括基座，在基座內(nèi)設(shè)置有安裝腔，PIN光電二極管安裝在安裝腔內(nèi)且PIN光電二極管的探頭卡設(shè)在基座的測(cè)試接收端的測(cè)試卡口內(nèi)，PIN光電二極管的插口外露于基座的測(cè)試傳輸端；在基座的測(cè)試接收端設(shè)置有卡槽，卡槽與測(cè)試卡口相通，可見光濾波片安裝在卡槽內(nèi)并將測(cè)試卡口覆蓋。而利用光功率測(cè)試探頭的測(cè)試系統(tǒng)，包括光功率主機(jī)、數(shù)據(jù)線、光功率測(cè)試探頭、光源、光源線、光分路器；在PIN光電二極管的外側(cè)增加可見光濾波片，減少測(cè)試過程中可見光對(duì)測(cè)試參數(shù)的影響，增大PIN光電二極管的感光面積，測(cè)試過程中對(duì)半成品插入損耗合格范圍進(jìn)行測(cè)試，增加測(cè)試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于光分路器生產(chǎn)用光功率計(jì)監(jiān)控探頭技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種光分路器生產(chǎn)用光功率測(cè)試探頭及測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

目前國內(nèi)三大運(yùn)營商百兆及千兆光纖帶寬網(wǎng)絡(luò)的推廣普及，特別是中國移動(dòng)光纖寬帶業(yè)務(wù)的開展，國內(nèi)FTTH（光纖到戶）固定寬帶接入網(wǎng)絡(luò)建設(shè)工程大規(guī)模展開。在FTTH光網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)中所需的將光信號(hào)進(jìn)行耦合、分配功能的器件即為光分路器，光分路器是光纖入戶鏈路中最重要光無源器件之一，是OLT（光線路終端）和ONU（光網(wǎng)絡(luò)單元）核心元器件。

目前光分路器生產(chǎn)中，將核心芯件和光信號(hào)引入端及輸出端采用紫外膠水進(jìn)行連接固定，之后進(jìn)行紫外加固和烘烤加固，此時(shí)光分路器芯件稱為主件，也稱為半成品。為適應(yīng)不同的安裝設(shè)施和安裝環(huán)境，光分路器一般分為盒式封裝，機(jī)架式封裝微型封裝托盤式封裝插片式封裝共5種封裝形式。上述5種封裝形式，是對(duì)光分路器半成品的深度加工。為保證光分路器成品良率，生產(chǎn)廠家先會(huì)對(duì)半成品進(jìn)行關(guān)鍵參數(shù)---插入損耗進(jìn)行測(cè)試，然后進(jìn)行成品封裝。依據(jù)光分路器相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，不同分路比的光分路器插入損耗存在一合格范圍值，因此在進(jìn)行半成品測(cè)試時(shí)，插入損耗只要滿足范圍值，即為合格，可以進(jìn)行后續(xù)封裝。但是目前插入損耗的檢測(cè)時(shí)容易受自然光的影響，導(dǎo)致測(cè)試不精確且測(cè)試效率低。

實(shí)用新型內(nèi)容

為解決目前插入損耗的檢測(cè)時(shí)容易受自然光的影響，導(dǎo)致測(cè)試不精確且測(cè)試效率低的技術(shù)問題，本實(shí)用新型提出一種光分路器生產(chǎn)用光功率測(cè)試探頭及測(cè)試系統(tǒng)。

為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案如下：

一種光分路器生產(chǎn)用光功率測(cè)試探頭，包括基座，在基座內(nèi)設(shè)置有安裝腔，PIN光電二極管安裝在安裝腔內(nèi)且PIN光電二極管的探頭卡設(shè)在基座的測(cè)試接收端的測(cè)試卡口內(nèi)，PIN光電二極管的插口外露于基座的測(cè)試傳輸端；在基座的測(cè)試接收端設(shè)置有卡槽，卡槽與測(cè)試卡口相通，可見光濾波片安裝在卡槽內(nèi)并將測(cè)試卡口覆蓋。在PIN光電二極管的外側(cè)增加可見光濾波片，減少測(cè)試過程中可見光對(duì)測(cè)試參數(shù)的影響，增大PIN光電二極管的感光面積，測(cè)試過程中對(duì)半成品插入損耗合格范圍進(jìn)行測(cè)試，增加測(cè)試效率。

一種利用光功率測(cè)試探頭的測(cè)試系統(tǒng)，包括光功率主機(jī)、數(shù)據(jù)線、光功率測(cè)試探頭、光源、光源線、光分路器；光功率主機(jī)通過數(shù)據(jù)線與光功率測(cè)試探頭中PIN光電二極管的插口連接，光源通過光源線與光分路器的輸入端連接，光分路器的各輸出端通過光源線依次插入光功率測(cè)試探頭中的卡槽內(nèi)并將光分路器輸出的光通過可見光濾波片過濾后傳輸?shù)絇IN光電二極管的探頭內(nèi)進(jìn)而傳輸?shù)焦夤β手鳈C(jī)內(nèi)。先將測(cè)試光源線對(duì)準(zhǔn)PIN光電二極管的探頭進(jìn)行光功率計(jì)歸零，然后將光分路器的輸入端與光源線連接，之后將光分路器的輸出端（多線路一側(cè)）用切割刀片切齊，逐一對(duì)準(zhǔn)PIN光電二極管，完成器件測(cè)試。

本實(shí)用新型增加可見光濾波片，消除了自然光對(duì)器件測(cè)試參數(shù)的影響，增大PD探測(cè)感光面積，保證測(cè)試精度，對(duì)光分路器半成品插入損耗合格范圍進(jìn)行測(cè)試，明顯增加光分路半成品測(cè)試效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。