[實用新型]一種高精度陶瓷檢驗平臺

有效

• 申請號: 201820884664.2
• 申請日: 2018-06-07
• 公開（公告）號: CN208296867U
• 公開（公告）日: 2018-12-28
• 發明（設計）人: 郝敬博
• 申請（專利權）人: 郝敬博
• 主分類號: G01D11/30
• 分類號: G01D11/30
• 代理公司: 北京智客聯合知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11700
• 代理人: 李戍

1.一種高精度陶瓷檢驗平臺，包括檢測臺(1)和支腿(101)，所述檢測臺(1)底部固定連接有支腿(101)，其特征在于，所述檢測臺(1)一側上方固定連接有豎板(2)，所述豎板(2)與檢測臺(1)之間夾角呈九十度，所述豎板(2)內部嵌入設置有嵌槽(201)，且嵌槽(201)貫穿設置整個豎板(2)，所述嵌槽(201)內部活動連接有平衡板(3)，所述平衡板(3)與豎板(2)連接處設有轉軸，所述平衡板(3)內部嵌入設置有平衡檢測器(301)，所述平衡檢測器(301)位于平衡板(3)正中部，所述檢測臺(1)內部左右兩側均固定連接有軌道(4)，所述軌道(4)上方固定連接有穩定桿(402)，所述穩定桿(402)呈圓柱狀，所述軌道(4)底部左右兩側均嵌入設置有定位槽(401)，兩個所述定位槽(401)呈對稱設置，所述軌道(4)外部嵌套設置有光束檢測模塊(5)，所述光束檢測模塊(5)包括光束發射器(501)和光束接收板(502)，所述光束發射器(501)與光束接收板(502)分別與兩側軌道(4)之間活動連接，所述檢測臺(1)上表面、豎板(2)一側表面、平衡板(3)下表面均嵌入設置有刻度面(102)，所述光束檢測模塊(5)通過導線與外界電源之間電性連接。

2.根據權利要求1所述的一種高精度陶瓷檢驗平臺，其特征在于，所述檢測臺(1)表面與水平線呈平行。

3.根據權利要求1所述的一種高精度陶瓷檢驗平臺，其特征在于，所述檢測臺(1)與豎板(2)之間呈“L”狀。

4.根據權利要求1所述的一種高精度陶瓷檢驗平臺，其特征在于，所述光束發射器(501)和光束接收板(502)呈對稱設置。

5.根據權利要求1所述的一種高精度陶瓷檢驗平臺，其特征在于，所述軌道(4)下表面呈半圓狀。

6.根據權利要求1所述的一種高精度陶瓷檢驗平臺，其特征在于，所述豎板(2)與平衡板(3)之間轉軸轉動角度為九十度。

7.根據權利要求1所述的一種高精度陶瓷檢驗平臺，其特征在于，所述光束發射器(501)和光束接收板(502)之間的移動呈同步設置。