[實用新型]一種激光物證儀有效
| 申請號: | 201820878687.2 | 申請日: | 2018-06-07 |
| 公開(公告)號: | CN208206801U | 公開(公告)日: | 2018-12-07 |
| 發明(設計)人: | 楊偉 | 申請(專利權)人: | 成都自序電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G02B27/09 |
| 代理公司: | 北京市領專知識產權代理有限公司 11590 | 代理人: | 張玲;代平 |
| 地址: | 610041 四川省成都市中國(四川)自由*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 激光準直鏡 激光 半導體激光器陣列 柱面鏡 慢軸 半導體激光器 物證儀 勻化器 快軸 本實用新型 二維陣列 高均勻度 合成效果 平頂激光 平行設置 依次設置 照明光斑 高功率 激光束 準直 垂直 | ||
1.一種激光物證儀,其特征在于,包括半導體激光器陣列、快軸激光準直鏡、慢軸激光準直鏡以及激光勻化器,其中,
所述半導體激光器陣列包括若干半導體激光器,所述半導體激光器按照m×n二維陣列布置,m和n均為正整數;
所述快軸激光準直鏡包括m個相互平行設置的柱面鏡,所述慢軸激光準直鏡包括n個相互平行設置的柱面鏡;
所述快軸激光準直鏡、慢軸激光準直鏡以及激光勻化器依次設置在所述半導體激光器陣列的光路上,快軸激光準直鏡中的柱面鏡與慢軸激光準直鏡中的柱面鏡相互垂直,且所述柱面鏡分別對應所述半導體激光器陣列中的一行或一列半導體激光器,所述快軸激光準直鏡及慢軸激光準直鏡分別用于對半導體激光器的快軸和慢軸進行準直,所述激光勻化器用于使激光均勻分布。
2.根據權利要求1所述的激光物證儀,其特征在于,所述柱面鏡采用的是平凸柱面鏡。
3.根據權利要求2所述的激光物證儀,其特征在于,所述激光勻化器為微透鏡陣列或勻光衍射器件。
4.根據權利要求3所述的激光物證儀,其特征在于,所述激光勻化器為微透鏡陣列,所述微透鏡陣列中微透鏡的層數為一層或多層。
5.根據權利要求4所述的激光物證儀,其特征在于,所述快軸激光準直鏡和/或所述慢軸激光準直鏡和/或所述激光勻化器采用的是圓形結構,或矩形結構,或正多邊形結構,或橢圓形結構。
6.根據權利要求1-5任一所述的激光物證儀,其特征在于,所述快軸激光準直鏡和/或慢軸激光準直鏡是由若干柱面鏡拼接而成,或采用一體化的陣列柱面鏡。
7.根據權利要求6所述的激光物證儀,其特征在于,所述快軸激光準直鏡或所述慢軸激光準直鏡包括回字型框架和若干柱面鏡,所述回字型框架的側壁面上設置有螺紋孔,所述螺紋孔用于快軸激光準直鏡或慢軸激光準直鏡的固定,所述回字型框架中的一對相互平行的側壁面上,分別設置有槽口,所述槽口用于安裝所述柱面鏡。
8.根據權利要求7所述的激光物證儀,其特征在于,所述槽口的拐角處,分別設置有一孔,所述孔用于切除所述槽口的拐角。
9.根據權利要求8所述的激光物證儀,其特征在于,所述孔的深度等于所述槽口的深度,所述孔為圓柱孔。
10.根據權利要求9所述的激光物證儀,其特征在于,所述半導體激光器陣列包括九個半導體激光器,所述九個半導體激光器按照3×3二維陣列布置。
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