[實(shí)用新型]用于測(cè)試T-CON板差分電阻的測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201820865608.4
• 申請(qǐng)日: 2018-06-05
• 公開（公告）號(hào): CN208443919U
• 公開（公告）日: 2019-01-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 尹龍珍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 惠州高盛達(dá)科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02
• 代理公司: 廣州市華學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245
• 代理人: 葉敏明;劉羽

本實(shí)用新型公開一種用于測(cè)試T?CON板差分電阻的測(cè)試裝置，包括底座、測(cè)試下壓組件、定位組件及電阻測(cè)試組件，測(cè)試下壓組件和定位組件分別設(shè)置于底座上，電阻測(cè)試組件設(shè)置于下壓組件上；電阻測(cè)試組件包括測(cè)試支架、測(cè)試電表、蜂鳴器、針腳固定板及測(cè)試針腳，測(cè)試電表、針腳固定板和蜂鳴器分別設(shè)置于測(cè)試支架上，測(cè)試針腳設(shè)置于針腳固定板上，測(cè)試針腳分別與測(cè)試電表、蜂鳴器電連接。本實(shí)用新型為一種用于測(cè)試T?CON板差分電阻的測(cè)試裝置，通過設(shè)置定位組件和測(cè)試針腳，能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)試前的定位，并保證能夠準(zhǔn)確測(cè)出T?CON板上的差分阻值的大小，防止差分阻值的錯(cuò)誤引起差分信號(hào)輸出異常，以保證輸入屏端差分信號(hào)的正確性，提高測(cè)試覆蓋率，從而提升產(chǎn)品良品率。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及測(cè)試結(jié)構(gòu)領(lǐng)域，特別是涉及一種用于測(cè)試T-CON板差分電阻的測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

隨著光電技術(shù)的興起及迅速的發(fā)展趨勢(shì)，市場(chǎng)的激烈競(jìng)爭(zhēng)，優(yōu)良、穩(wěn)定的品質(zhì)從中起著至關(guān)重要的作用。而穩(wěn)定、優(yōu)良的品質(zhì)不僅取決于關(guān)鍵數(shù)據(jù)的卡控，其它細(xì)節(jié)方面的數(shù)據(jù)也要嚴(yán)格把關(guān)，做到防范于未然。作為液晶屏控制板--T-CON光電板的生產(chǎn)商，在生產(chǎn)T-CON光電板時(shí)，按照常規(guī)要求的外觀及關(guān)鍵點(diǎn)性能檢測(cè)進(jìn)行嚴(yán)格管控后，出貨到終端客戶，仍然存在由于T-CON光電板引起一定比例的不良，造成了客訴、或是客戶要退貨的風(fēng)險(xiǎn)。

傳統(tǒng)的T-CON光電板常規(guī)性能檢測(cè)，空載測(cè)量了VAA、HVAA、VGL、VCOM、VDD、VREF、VGHF及Gamma各14組電壓，帶載測(cè)試了四個(gè)畫面，垂直256灰階+WRGB水平256灰階、MotionBar、灰階+惠科/CSOT+四框、垂直256灰階”雖然我們已經(jīng)是按照行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)來測(cè)試，但這還是不能完全保證產(chǎn)品出貨到客戶端每一批次都100％合格的，如輸出的LVDS差分信號(hào)上的電阻貼錯(cuò)，按照廠內(nèi)的常規(guī)測(cè)試不能100％檢出這種問題，所以出貨后就會(huì)有一定比例的不良品。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處，提供一種用于測(cè)試T-CON板差分電阻的測(cè)試裝置，通過設(shè)置定位組件和測(cè)試針腳，能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)試前的定位，并保證能夠準(zhǔn)確測(cè)出T-CON板上的差分阻值的大小，防止差分阻值的錯(cuò)誤引起差分信號(hào)輸出異常，以保證輸入屏端差分信號(hào)的正確性，提高測(cè)試覆蓋率，從而提升產(chǎn)品良品率。

本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的：

一種用于測(cè)試T-CON板差分電阻的測(cè)試裝置，包括：底座、測(cè)試下壓組件、定位組件及電阻測(cè)試組件，所述測(cè)試下壓組件和所述定位組件分別設(shè)置于所述底座上，所述電阻測(cè)試組件設(shè)置于所述下壓組件上；

所述電阻測(cè)試組件包括測(cè)試支架、測(cè)試電表、蜂鳴器、針腳固定板及測(cè)試針腳，所述測(cè)試支架設(shè)置于所述測(cè)試下壓組件上，所述測(cè)試電表、所述針腳固定板和所述蜂鳴器分別設(shè)置于所述測(cè)試支架上，所述測(cè)試針腳設(shè)置于所述針腳固定板上，所述測(cè)試針腳分別與所述測(cè)試電表、所述蜂鳴器電連接；

所述定位組件包括定位板及多個(gè)定位柱，各所述定位柱分別設(shè)置于所述定位板上，所述定位板上開設(shè)有定位槽，所述定位槽用于放置待測(cè)試的T-CON板。

作為進(jìn)一步優(yōu)選的方案，所述測(cè)試下壓組件包括下壓固定支架、轉(zhuǎn)動(dòng)板、下壓把手、轉(zhuǎn)動(dòng)軸套、連接件及下壓桿，所述下壓固定支架設(shè)置于所述底座上，所述轉(zhuǎn)動(dòng)板的第一端轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置于所述下壓固定支架上，所述下壓把手可轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置于所述轉(zhuǎn)動(dòng)板的第二端上，所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸套設(shè)置于所述下壓固定支架上，所述連接件的第一端與所述轉(zhuǎn)動(dòng)板的第二端連接，所述連接件的第二端與所述下壓桿的第一端相固定，所述測(cè)試支架設(shè)置于所述下壓桿的第二端上，所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸套上開設(shè)有限位通孔，所述下壓桿穿設(shè)所述限位通孔。

作為進(jìn)一步優(yōu)選的方案，所述下壓固定支架包括測(cè)試安裝板、固定板、第一固定桿及第二固定桿，所述測(cè)試安裝板設(shè)置于所述底座上，所述固定板設(shè)置于所述測(cè)試安裝板上，所述第一固定桿的第一端和所述第二固定桿的第一端分別設(shè)置于所述固定板上，所述第一固定桿的第二端與所述轉(zhuǎn)動(dòng)板的第一端連接，所述第二固定桿的第二端與所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸套連接。