[實用新型]一種平整度測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820814580.1 | 申請日: | 2018-05-29 |
| 公開(公告)號: | CN208223421U | 公開(公告)日: | 2018-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉欣 | 申請(專利權(quán))人: | 成都市漢桐集成技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/30 | 分類號: | G01B11/30 |
| 代理公司: | 成都睿道專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51217 | 代理人: | 陶紅 |
| 地址: | 610000 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 載物板 探測器 預(yù)設(shè) 載物 第一驅(qū)動機構(gòu) 檢測組件 驅(qū)動機構(gòu) 支撐臺架 平整度測試裝置 本實用新型 驅(qū)動探測器 探測器連接 被檢測物 電子器件 方便檢測 方向垂直 檢測裝置 往返運動 組件包括 垂直的 檢測 驅(qū)動 | ||
本實用新型公開了一種平整度測試裝置,包括支撐臺架、檢測組件和載物組件,檢測組件設(shè)于支撐臺架的頂部,載物組件設(shè)于支撐臺架的底部;檢測組件包括第一驅(qū)動機構(gòu)和探測器,第一驅(qū)動機構(gòu)與探測器與探測器連接,第一驅(qū)動機構(gòu)驅(qū)動探測器沿第一預(yù)設(shè)方向運動;載物組件包括第二驅(qū)動機構(gòu)和載物板,第二驅(qū)動機構(gòu)與載物板與載物板連接,第二驅(qū)動機構(gòu)驅(qū)動載物板沿第二預(yù)設(shè)方向運動;探測器位于載物板上方,探測器用以檢測載物板的載物面上的被檢測物,第一預(yù)設(shè)方向與第二預(yù)設(shè)方向垂直。本實用新型的檢測裝置中,探測器和載物板可在相互垂直的兩個方向上往返運動,方便檢測載物板上的電子器件,使用方便、快捷,檢測效率高。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型屬于電子封裝技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種用于電子器件的平整度的測試裝置。
背景技術(shù)
部分電子電子器件的精度要求高,在電子器件的生產(chǎn)過程中,通常會對電子器件的平整度進行檢查。現(xiàn)有的用于電子器件平整度檢查裝置的結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜,在檢查電子器件時,會有檢測死角,不能整體的檢測到電子器件的平整度,并且操作較為繁瑣。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于:解決現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種操作方便的用于檢測電子器件平整度的檢測裝置。
為了實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用的技術(shù)方案為:一種平整度測試裝置,包括支撐臺架、檢測組件和載物組件,所述檢測組件設(shè)于所述支撐臺架的頂部,所述載物組件設(shè)于所述支撐臺架的底部;所述檢測組件包括第一驅(qū)動機構(gòu)和探測器,所述第一驅(qū)動機構(gòu)與所述探測器連接,所述第一驅(qū)動機構(gòu)可驅(qū)動所述探測器沿第一預(yù)設(shè)方向運動;所述載物組件包括第二驅(qū)動機構(gòu)和載物板,所述第二驅(qū)動機構(gòu)與所述載物板連接,所述第二驅(qū)動機構(gòu)可驅(qū)動所述載物板沿第二預(yù)設(shè)方向運動;所述探測器位于所述載物板上方,所述探測器用以檢測所述載物板的載物面上的被檢測物,所述第一預(yù)設(shè)方向與所述第二預(yù)設(shè)方向垂直。
進一步的,所述支撐臺架包括支腳、底架、立柱和頂架,所述支腳設(shè)于所述底架的底部,所述立柱固定設(shè)于所述底架的頂部,所述頂架固定設(shè)于所述立柱的頂部,所述檢測組件設(shè)于所述頂架,所述載物組件設(shè)于所述底架。
進一步的,所述支腳為4個,4個所述支腳呈矩形陣列分布于所述底架。
進一步的,所述檢測組件還包括頂板和第一滑塊,所述頂板設(shè)于所述支撐臺架的頂部,所述頂板靠近所述載物組件的一板面設(shè)有第一滑軌,所述第一滑軌沿所述第一預(yù)設(shè)方向延伸,所述第一滑塊滑動設(shè)于所述第一滑軌,所述探測器與所述第一滑塊固定連接,所述第一驅(qū)動機構(gòu)與所述第一滑塊連接,所述第一驅(qū)動機構(gòu)驅(qū)動所述第一滑塊沿所述第一滑軌滑動。
進一步的,所述第一驅(qū)動機構(gòu)設(shè)于所述第一滑軌的一端,所述第一滑軌的另一端固定設(shè)有第一限位塊。
進一步的,所述載物組件還包括底板和第二滑塊,所述底板設(shè)于所述支撐臺架的底部,所述底板靠近所述檢測組件的一板面設(shè)有第二滑軌,所述第二滑塊與所述第二滑軌滑動連接,所述第二滑軌沿所述第二預(yù)設(shè)方向延伸,所述載物板與所述第二滑塊固定連接,所述第二滑塊與所述第二驅(qū)動機構(gòu)連接,所述第二驅(qū)動機構(gòu)驅(qū)動所述第二滑塊沿所述第二滑軌滑動。
進一步的,所述第二驅(qū)動機構(gòu)設(shè)于所述第二滑軌的一端,所述第二滑軌的另一端固定設(shè)有第二限位塊。
由于采用了上述技術(shù)方案,本實用新型的有益效果是:
本實用新型的檢測裝置中,將檢測組件設(shè)置在支撐臺架的頂部,載物組件設(shè)置在支撐臺架的底部,探測器位于載物板的上方,可快速的檢測載物板上的電子器件。在本實用新型中,探測器在第一驅(qū)動機構(gòu)的作用下,可沿第一預(yù)設(shè)方向往返運動,同時載物板可在第二驅(qū)動機構(gòu)的作用下,沿第二預(yù)設(shè)方向往返運動,第一驅(qū)動機構(gòu)與第二驅(qū)動機構(gòu)協(xié)同作用,探測器可檢測電子器件的不同位置,在使用時,只需將電子器件放置在載物板上,通過控制第一驅(qū)動機構(gòu)和第二驅(qū)動機構(gòu),即可將檢測整個電子器件的平整度,使用方便、快捷,提高檢測效率。
附圖說明
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