[實用新型]航天運載器測量系統有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820808793.3 | 申請日: | 2018-05-25 |
| 公開(公告)號: | CN208254539U | 公開(公告)日: | 2018-12-18 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳志愿;王根榮;邱靖宇;趙鵬飛;徐俊瑞;鄭然;王澤宇;劉健;華楠;康永來 | 申請(專利權)人: | 藍箭航天技術有限公司 |
| 主分類號: | G01D21/02 | 分類號: | G01D21/02 |
| 代理公司: | 北京科石知識產權代理有限公司 11595 | 代理人: | 高元吉 |
| 地址: | 313000 浙江省湖*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測裝置 處理器 測量系統 航天運載器 環(huán)形網狀結構 信號獲取指令 本實用新型 地址信息 狀態(tài)參數 發(fā)送信號 故障電纜 獲取指令 通信正常 網絡結構 測量點 檢測 串聯 匹配 電纜 發(fā)送 返回 配置 | ||
本實用新型公開了一種航天運載器測量系統,包括處理器和多個檢測裝置。其中處理器和所述多個檢測裝置之間通過電纜彼此串聯以形成環(huán)形網狀結構,從而在環(huán)形網狀結構的通信正常時,處理器和多個檢測裝置的任一個發(fā)送的信號均可被配置于環(huán)形網絡結構中的其余設備所接收。多個檢測裝置用于檢測航天運載器的狀態(tài)參數信號,處理器用于向多個檢測裝置發(fā)送信號獲取指令,其中信號獲取指令中包含對應多個檢測裝置至少之一的地址信息。多個檢測裝置接收信號獲取指令,且與地址信息匹配的檢測裝置向處理器返回所檢測的狀態(tài)參數信號。本實用新型提出的測量系統,可以方便的進行測量點的擴充以及故障電纜的更換,極大的提高了測量系統的通用性。
技術領域
本實用新型涉及航天運載器的測量技術領域,具體涉及一種航天運載器測量系統。
背景技術
為了確保航天運載器工作正常,需要對其飛行過程中的各類參數進行檢測。例如,這些參數可以包括電量參數和非電量參數。其中,非電量參數包括溫度、壓力、振動和噪聲等。在非電量參數的檢測中,通常采用電測傳感器對非電量參數進行敏感,并將其變換為0-5V的標準電壓信號。航天運載器對非電量參數的采集一般采用分級就近采編的系統架構。即各子級配置換流器和采編器,以分別用于對本級的各傳感器進行供電和參數采編。經過采編后的非電量參數通過遙測設備無線下傳。
為了簡化線路,傳感器一般采用不平衡的單端信號輸出模式,即二次電源和非電量信號共地。例如,換流采編器可以同時具有二次電源輸出和信號采編功能,且各傳感器和換流器之間通過電纜網電氣連接。
然而,現有的航天運載器測量系統架構不靈活,且對于不同火箭,常常需要對測量系統的電纜網進行重新設計與布置,從而延長了研制周期,增加了生產成本。
實用新型內容
針對相關技術中的上述技術問題,本實用新型提出一種航天運載器的測量系統。該測量系統架構靈活、維修方便,可以方便的進行測量點的擴充以及故障電纜的更換。
本實用新型提供了一種航天運載器測量系統。該航天運載器測量系統包括處理器和多個檢測裝置;其中所述處理器和所述多個檢測裝置之間通過電纜彼此串聯以形成環(huán)形網絡結構,從而在所述環(huán)形網絡結構的通信正常時,所述處理器和所述多個檢測裝置的任一個發(fā)送的信號均可被配置于所述環(huán)形網絡結構中的其余設備所接收;其中,所述多個檢測裝置用于檢測航天運載器的狀態(tài)參數信號,所述處理器用于向所述多個檢測裝置發(fā)送信號獲取指令,其中所述信號獲取指令中包含對應所述多個檢測裝置至少之一的地址信息;所述多個檢測裝置接收所述信號獲取指令,并且與所述地址信息匹配的檢測裝置向所述處理器返回所檢測的狀態(tài)參數信號。
在一個實施例中,所述檢測裝置包括傳感器和模數轉換器;其中所述傳感器用于檢測航天運載器的狀態(tài)參數信號,所述模數轉換器用于將所述狀態(tài)參數信號轉化為數字量。
在一個實施例中,所述處理器包括分設于其兩個連接端口的主收發(fā)器和輔助收發(fā)器;所述處理器通過所述兩個連接端口接入至所述環(huán)形網絡結構;從而所述環(huán)形網絡結構的信號傳輸方向包括從所述主收發(fā)器向所述輔助收發(fā)器的第一方向以及從所述輔助收發(fā)器向所述主收發(fā)器的第二方向;所述主收發(fā)器用于沿所述第一方向上向所述多個檢測裝置發(fā)送信號獲取指令;所述輔助收發(fā)器在無法接收到所述主收發(fā)器發(fā)送的信號獲取指令時,沿所述第二方向上向所述多個檢測裝置發(fā)送信號獲取指令。
在一個實施例中,所述多個檢測裝置至少包括第一檢測裝置和第二檢測裝置,所述電纜包括第一段電纜、第二段電纜和第三段電纜;其中所述第一檢測裝置的一個接口通過第一段電纜連接至所述第二檢測裝置的一個接口,所述第二檢測裝置的另一接口通過所述第二段電纜連接至所述處理器的一個接口,所述處理器的另一接口通過所述第三段電纜連接至所述第一檢測裝置的另一個接口。
在一個實施例中,所述第一檢測裝置、所述第二檢測裝置和所述處理器的接口分別由三個集線器提供。
在一個實施例中,所述三個集線器分別與所述第一檢測裝置、所述第二檢測裝置和所述處理器為一體結構。
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