[實(shí)用新型]一種提高太赫茲參量振蕩源測(cè)量穩(wěn)定性的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820808417.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-05-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN208805465U | 公開(公告)日: | 2019-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐德剛;唐隆煌;王與燁;李長(zhǎng)昭;閆超;賀奕焮;孫忠誠(chéng);鐘凱;姚建銓 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天津大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/3581 | 分類號(hào): | G01N21/3581;G01N21/27 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責(zé)任專利代理事務(wù)所 12201 | 代理人: | 劉子文 |
| 地址: | 300072*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 斯托克斯光 太赫茲參量振蕩器 泵浦光 本實(shí)用新型 光束收集器 折射率漸變 參量振蕩 太赫茲波 激光器 測(cè)量 太赫茲探測(cè)器 非線性晶體 數(shù)據(jù)采集卡 不穩(wěn)定性 參量過程 電磁耦子 散射作用 正比關(guān)系 參考光 諧振腔 探測(cè)器 參量 入射 計(jì)算機(jī) | ||
1.一種提高太赫茲參量振蕩源測(cè)量穩(wěn)定性的裝置,其特征在于,包括激光器、太赫茲參量振蕩器、太赫茲探測(cè)器、斯托克斯光探測(cè)器、光束收集器、樣品、數(shù)據(jù)采集卡、計(jì)算機(jī)和折射率漸變鏡,所述太赫茲參量振蕩器包括非線性晶體和斯托克斯光諧振腔,所述激光器產(chǎn)生泵浦光經(jīng)過折射率漸變鏡入射至所述太赫茲參量振蕩器,一部分泵浦光通過光束收集器收集,另一部分泵浦光基于受激電磁耦子散射作用產(chǎn)生斯托克斯光和太赫茲波,斯托克斯光在斯托克斯光諧振腔內(nèi)形成振蕩的同時(shí)部分斯托克斯光被斯托克斯光反射鏡反射出斯托克斯光諧振腔,被反射出的斯托克斯光被斯托克斯光探測(cè)器測(cè)量并將信號(hào)發(fā)送至數(shù)據(jù)采集卡;所述太赫茲波垂直于非線性晶體表面輸出后被太赫茲探測(cè)器測(cè)量并將信號(hào)發(fā)送至數(shù)據(jù)采集卡;數(shù)據(jù)采集卡將接收的信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)后輸送至計(jì)算機(jī)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種提高太赫茲參量振蕩源測(cè)量穩(wěn)定性的裝置,其特征在于,所述斯托克斯光諧振腔包括斯托克斯光腔鏡A和斯托克斯光腔鏡B,所述非線性晶體為等腰梯形結(jié)構(gòu),斯托克斯光腔鏡A和斯托克斯光腔鏡B分別設(shè)置于非線性晶體的側(cè)面且分別與非線性晶體的側(cè)面平行。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一種提高太赫茲參量振蕩源測(cè)量穩(wěn)定性的裝置,其特征在于,所述非線性晶體的底角為65°。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一種提高太赫茲參量振蕩源測(cè)量穩(wěn)定性的裝置,其特征在于,所述非線性晶體置于斯托克斯光諧振腔內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種提高太赫茲參量振蕩源測(cè)量穩(wěn)定性的裝置,其特征在于,所述樣品設(shè)置于太赫茲探測(cè)器和非線性晶體之間。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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