[實用新型]熒光免疫分析儀用托盤組件及與其配合使用的試劑卡

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820804457.1
• 申請日: 2018-05-28
• 公開（公告）號: CN208607149U
• 公開（公告）日: 2019-03-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫月鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 中秀科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N33/53
• 代理公司: 北京鼎宏元正知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 11458
• 代理人: 鄧金濤

本實用新型公開了一種熒光免疫分析儀用托盤組件及與其配合使用的試劑卡，其中托盤組件包括托盤和位于托盤上的轉(zhuǎn)盤，所述托盤上設(shè)置有與托盤同軸設(shè)置的限位環(huán)，所述限位環(huán)上設(shè)置有用于試劑卡進出的缺口；所述托盤與轉(zhuǎn)盤同軸設(shè)置，且轉(zhuǎn)盤與能夠帶動轉(zhuǎn)盤自轉(zhuǎn)的步進電機連接；所述轉(zhuǎn)盤上沿徑向設(shè)置有兩個以上用于夾持試劑卡的卡槽，所述卡槽從槽底至槽口的寬度逐漸增加，且每個所述卡槽的槽底均設(shè)置有電磁鐵；所述限位環(huán)內(nèi)壁和卡槽內(nèi)壁能夠與試劑卡接觸的地方均設(shè)置有凹槽，所述凹槽的寬度與試劑卡邊緣的厚度相適配。本申請不需要特定的推卡機構(gòu)就可以將測試完畢的試劑卡取出，結(jié)構(gòu)簡單，提高裝配效率且降低成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及熒光免疫分析技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及熒光免疫分析儀用托盤組件及與其配合使用的試劑卡。

背景技術(shù)

熒光免疫檢測技術(shù)具有專一性強、靈敏度高、實用性好等優(yōu)點，因此它被用于測量含量很低的生物活性化合物，例如酶、接受體、抗體、甾族化合物、甲狀腺激素、酞激素、藥物及微生物等，適用范圍非常廣，所以應用較為廣泛。

現(xiàn)有熒光免疫分析儀在退卡時多需要設(shè)置特定的推卡機構(gòu)以便將測試完畢的試劑卡取出，結(jié)構(gòu)復雜，降低裝配效率且提高成本，所以一種新型的不需要外加推卡機構(gòu)的托盤組件尤其必要。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的在于提供一種熒光免疫分析儀用托盤組件及與其配合使用的試劑卡，解決現(xiàn)有熒光免疫分析儀在退卡時多需要設(shè)置特定的推卡機構(gòu)以便將測試完畢的試劑卡取出，結(jié)構(gòu)復雜，降低裝配效率且提高成本的問題。

為解決上述的技術(shù)問題，本實用新型采用以下技術(shù)方案：

一種熒光免疫分析儀用托盤組件，包括托盤和位于托盤上的轉(zhuǎn)盤，

所述托盤上設(shè)置有與托盤同軸設(shè)置的限位環(huán)，所述限位環(huán)上設(shè)置有用于試劑卡進出的缺口；

所述托盤與轉(zhuǎn)盤同軸設(shè)置，且轉(zhuǎn)盤與能夠帶動轉(zhuǎn)盤自轉(zhuǎn)的步進電機連接；

所述轉(zhuǎn)盤上沿徑向設(shè)置有兩個以上用于夾持試劑卡的卡槽，所述卡槽從槽底至槽口的寬度逐漸增加，且每個所述卡槽的槽底均設(shè)置有電磁鐵；

所述限位環(huán)內(nèi)壁和卡槽內(nèi)壁能夠與試劑卡接觸的地方均設(shè)置有凹槽，所述凹槽的寬度與試劑卡邊緣的厚度相適配。

本申請中的熒光免疫分析儀用托盤組件使用時，將試劑卡從缺口處插入卡槽，然后開啟電磁鐵的電源，試劑卡上的磁性快就會與電磁鐵相互吸引，起到定位的作用，然后步進電機帶動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動，轉(zhuǎn)到下一個卡槽與缺口對準，再次插入試劑卡，以此類推。試劑卡跟隨轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動，當試劑卡轉(zhuǎn)動到指定位置時，掃碼對試劑卡上的項目信息進行識別、核對，核對無誤，進行測試，分析，然后繼續(xù)轉(zhuǎn)動，再次轉(zhuǎn)動到缺口處，關(guān)閉電磁鐵的電源，由于卡槽從槽底至槽口的寬度逐漸增加，而轉(zhuǎn)盤本身會給試劑卡一個夾持力，所以沒有了電磁鐵與磁性塊的引力以及限位環(huán)對試劑卡的支撐力之后，試劑卡會沿徑向向外彈出，實現(xiàn)退卡。

本申請中的電磁鐵可以使每個卡槽單獨設(shè)置有一個電磁鐵單獨控制，也可以一起控制，因為當試劑卡沒有對準缺口時，有限位環(huán)的支撐試劑卡也不會發(fā)生位移。

另外，在限位環(huán)內(nèi)壁和卡槽內(nèi)壁能夠與試劑卡接觸的地方均設(shè)置有凹槽，試劑卡可以沿凹槽滑動，防止試劑卡發(fā)生傾斜或與卡槽脫離。

作為優(yōu)選的，所述缺口外側(cè)沿轉(zhuǎn)盤的徑向設(shè)置有退卡滑槽。

缺口外側(cè)設(shè)置有退卡滑槽，用來收集試劑卡。

作為優(yōu)選的，所述退卡滑槽槽壁的頂部向內(nèi)彎曲形成擋板，防止試劑卡向上彈出，偏離預設(shè)軌道，降低受損率。

作為優(yōu)選的，所述退卡滑槽槽壁內(nèi)側(cè)設(shè)置有緩沖層，減小試劑卡滑處過程中與槽壁之間的撞擊，降低受損率。