[實用新型]一種電源芯片壽命測試裝置

有效

• 申請號: 201820751954.X
• 申請日: 2018-05-21
• 公開（公告）號: CN208171335U
• 公開（公告）日: 2018-11-30
• 發明（設計）人: 高書鵬;黎華偉
• 申請（專利權）人: 深圳市弘沛電子有限公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02
• 代理公司: 深圳匯策知識產權代理事務所(普通合伙) 44487
• 代理人: 遲芳

本實用新型公開了一種電源芯片壽命測試裝置，它涉及電源用具技術領域；測試箱的上端通過固定螺栓安裝有上蓋，上蓋兩側的螺紋孔內安裝有調節螺栓，調節螺栓的下端安裝有T形轉塊，T形轉塊安裝在轉套的轉孔內，轉套的底部安裝有緩沖彈簧，緩沖彈簧的底部與壓板體的上表面連接，壓板體的內部安裝有PTC加熱片，PTC加熱片通過導線與安裝在電氣盒內部的單片機輸出端連接，單片機的輸入端與溫度傳感器連接，溫度傳感器安裝在壓板體的底部；本實用新型能實現電源芯片的快速安裝，且能實現快速調節，在使用時，能實現加熱溫度與壓迫式檢測，使得測試數據準確，能節省時間；在安裝時快速方便，而且操作簡便，能實時觀察測試數據，提高了效率。

技術領域：

本實用新型屬于電源用具技術領域，具體涉及一種電源芯片壽命測試裝置。

背景技術：

常見的電源是干電池(直流電)與家用的110V-220V交流電源。電源自“磁生電”原理，由水力、風力、海潮、水壩水壓差、太陽能等可再生能源，及燒煤炭、油渣等產生電力來源。但是現有的電源芯片在使用時需要對其壽命進行測試，而現有的電源芯片在測試時均是在常溫下進行，其沒有考慮外界因素，如芯片的在不同溫度下測試，同時芯片在受壓迫的情況下進行測試，導致現有的測試裝置測試的數據不準確。

實用新型內容：

為解決現有的電源芯片在測試時均是在常溫下進行，其沒有考慮外界因素，如芯片的在不同溫度下測試，同時芯片在受壓迫的情況下進行測試，導致現有的測試裝置測試的數據不準確的問題；本實用新型的目的在于提供一種電源芯片壽命測試裝置。

本實用新型的一種電源芯片壽命測試裝置，它包括測試箱、上蓋、固定螺栓、調節螺栓、T形轉塊、轉套、緩沖彈簧、壓板體、PTC加熱片、溫度傳感器、絕緣安裝板、電氣盒、單片機、顯示屏；測試箱的上端通過固定螺栓安裝有上蓋，上蓋兩側的螺紋孔內安裝有調節螺栓，調節螺栓的下端安裝有T形轉塊，T形轉塊安裝在轉套的轉孔內，轉套的底部安裝有緩沖彈簧，緩沖彈簧的底部與壓板體的上表面連接，壓板體的內部安裝有PTC加熱片，PTC加熱片通過導線與安裝在電氣盒內部的單片機輸出端連接，單片機的輸入端與溫度傳感器連接，溫度傳感器安裝在壓板體的底部，電氣盒的外表面安裝有顯示屏，顯示屏與單片機的輸入、輸出端連接，測試箱的內底部安裝有絕緣安裝板。

作為優選，所述上蓋的內側設置有與測試箱相配合的限位槽，限位槽內設置有密封墊，密封墊與測試箱的上表面相配合。

作為優選，所述電氣盒內部安裝有散熱機構。

作為優選，所述溫度傳感器為貼片式溫度傳感器。

作為優選，所述緩沖彈簧的外側套接有防塵套。

作為優選，所述測試箱為保溫式測試箱，測試箱的前側壁上安裝有觀察窗，觀察窗內部安裝有鋼化玻璃，鋼化玻璃的內側設置有防護網體。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果為：

一、能實現電源芯片的快速安裝，且能實現快速調節，效率高；

二、在使用時，能實現加熱溫度與壓迫式檢測，使得測試數據準確，能節省時間；

三、在安裝時快速方便，而且操作簡便，能實時觀察測試數據，提高了效率。

附圖說明：

為了易于說明，本實用新型由下述的具體實施及附圖作以詳細描述。

圖1為本實用新型的結構示意圖；

圖2為本實用新型中上蓋的俯視圖；

圖3為本實用新型中測試箱的結構示意圖。