[實(shí)用新型]電路板功能測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820743333.7 | 申請日: | 2018-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN208420983U | 公開(公告)日: | 2019-01-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張治宇;鐘景維;石慶;馬保軍;鄭科;張龍;張思平;劉新強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市億道數(shù)碼技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市科吉華烽知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44248 | 代理人: | 孫偉 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 固定板 電路板 滑動板 電路板功能 測試裝置 升降機(jī)構(gòu) 頂針 本實(shí)用新型 第一定位柱 測試 測試過程 測試模塊 測試板 測試針 內(nèi)置 擠壓 | ||
本實(shí)用新型公開了一種電路板功能測試裝置,包括第一箱體、設(shè)置在第一箱體上的第一固定板、設(shè)置在第一固定板上的第一滑動板、設(shè)置在第一固定板上的具有若干頂針的測試板、設(shè)置在第一滑動板上的第一定位柱、設(shè)置在第一箱體上的升降機(jī)構(gòu)、設(shè)置在升降機(jī)構(gòu)上的第二固定板和設(shè)置在第二固定板底部的第二滑動板,所述第一箱體與第二箱體固定,所述第二箱體內(nèi)置有用于對電路板進(jìn)行測試的測試模塊。解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的,在對于電路板進(jìn)行測試過程中,容易擠壓造成測試針損壞的技術(shù)問題,并且也可對于多種尺寸的電路板進(jìn)行測試。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種電路板功能測試裝置。
背景技術(shù)
目前,隨著科技的逐漸進(jìn)步,在對于電路板進(jìn)行測試過程中,很多之前需要人工逐一檢測的環(huán)節(jié)逐漸被機(jī)器所替代,不僅效率方面得到了很大的提升,而且檢測精確度也有了很大的改進(jìn),良品率提高。電路板功能測試夾具是電路板檢測領(lǐng)域常用的治具,其結(jié)構(gòu)簡單,通過壓板壓合于放置有電路板的載板上,通過測試針即可對電路板進(jìn)行檢測,操作簡易,效率高。但是這種壓合的過程,容易造成測試針的損壞;而且常用的電路板功能測試治具都存在治具單一,通用性不強(qiáng),對于不同的電路板,需要重新制作測試架才能完成。隨著產(chǎn)品的不斷多樣化,相應(yīng)的測試夾具也越來越多。這不僅讓測試人員要掌握的測試治具也越多,操作也越來越困難,工作人員的作業(yè)強(qiáng)度大,造成的測試結(jié)果也越來越不準(zhǔn)確;還增加了額外的生產(chǎn)成本,延長了研發(fā)周期,減慢產(chǎn)品上線的時間,減弱了產(chǎn)品的市場競爭力,即對于不同尺寸或者不同的電路板,無法在一個測試裝置中完成。
因此,現(xiàn)有技術(shù)有待于改善。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的在于提出一種電路板功能測試裝置,以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的,在對于電路板進(jìn)行測試過程中,容易擠壓造成測試針損壞以及無法對不同電路板進(jìn)行測試的技術(shù)問題。
為了解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型的電路板功能測試裝置,包括第一箱體、設(shè)置在第一箱體上的第一固定板、設(shè)置在第一固定板上的第一滑動板、設(shè)置在第一固定板上的具有若干頂針的測試板、設(shè)置在第一滑動板上的第一定位柱、設(shè)置在第一箱體上的升降機(jī)構(gòu)、設(shè)置在升降機(jī)構(gòu)上的第二固定板和設(shè)置在第二固定板底部的第二滑動板,所述第一箱體與第二箱體固定,所述第二箱體內(nèi)置有用于對電路板進(jìn)行測試的測試模塊。
優(yōu)選地,所述測試模塊包括顯示屏測試模塊和攝像頭測試模塊。
本實(shí)用新型具有以下有益效果:
1、基于第一定位柱設(shè)置在第一滑動板上,有利于對被測電路板進(jìn)行精準(zhǔn)定位;并且第一滑動板可在豎直方向上移動,有利于對不同尺寸的電路板進(jìn)行調(diào)整,以適應(yīng)多種電路板的測試。
2、基于第一滑動板設(shè)置在第一固定板上,使得第一滑動板可在豎直方向上進(jìn)行移動,以減少被測電路板對測試頂針因擠壓過大而造成測試頂針的損壞現(xiàn)象。
3、第一箱體與第二箱體固定,且第一箱體和第二箱體呈并排設(shè)置,有利于擴(kuò)大測試者利用第一箱體進(jìn)行電路板測試時的活動空間,便于測試。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型的電路板功能測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
本實(shí)用新型目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例,參照附圖做進(jìn)一步說明。
具體實(shí)施方式
應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型,并不用于限定本實(shí)用新型。
需要注意的是,相關(guān)術(shù)語如“第一”、“第二”等可以用于描述各種組件,但是這些術(shù)語并不限制該組件。這些術(shù)語僅用于區(qū)分一個組件和另一組件。例如,不脫離本發(fā)明的范圍,第一組件可以被稱為第二組件,并且第二組件類似地也可以被稱為第一組件。術(shù)語“和/或”是指相關(guān)項(xiàng)和描述項(xiàng)的任何一個或多個的組合。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
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