[實用新型]電子元件表面缺陷檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820741232.6
• 申請日: 2018-05-18
• 公開（公告）號: CN208334214U
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 金建德
• 申請（專利權(quán)）人: 陜西海測電子技術(shù)服務(wù)有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 西安佩騰特知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61226
• 代理人: 王娜

本實用新型公開了電子元件表面缺陷檢測裝置，包括底座，底座的一側(cè)上設(shè)有定位座，定位座的對內(nèi)朝向面位置設(shè)有定位槽，定位座的頂部設(shè)有一對導(dǎo)向軸，導(dǎo)向軸呈豎直布置，導(dǎo)向軸的頂部之間設(shè)有頂板，頂板的中部位置設(shè)有液壓缸，液壓缸的下部設(shè)有活塞桿，活塞桿的下端設(shè)有升降架，升降架的下部設(shè)有放大鏡，放大鏡與升降架的一側(cè)之間設(shè)有滑管，滑管套裝在導(dǎo)向軸的外周面。本實用新型可以使放大鏡豎直滑動穩(wěn)定性更加好；通過放大鏡可以方便檢測者對電子元件的表面缺陷進行觀測，從而也方便操作者通過檢測儀器對電子元件的表面缺陷進行檢測。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及檢測裝置，特別涉及電子元件表面缺陷檢測裝置。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中，如專利ZL201610302273.0公開了檢測電子元件表面缺陷的裝置，屬于表面質(zhì)量檢查設(shè)備領(lǐng)域。目的是提供一種能準確反應(yīng)電子元件表面缺陷的尺寸的檢測電子元件表面缺陷的裝置。包括支座，安裝于支座的光源、放大鏡和攝像鏡頭，光源、放大鏡和攝像鏡頭由下至上依次布置；在光源下方設(shè)有電子元件檢測臺，電子元件檢測臺包括與支座可拆卸連接的反射本體，在反射本體上設(shè)有垂直貫穿反射本體的方形通孔，方形通孔的四個內(nèi)壁上均安裝有平面鏡，平面鏡的鏡面由下至上向外延伸；在通孔正下方設(shè)有安裝于支座的檢測平臺，檢測平臺的四周標有刻度，刻度在平面鏡的反射范圍內(nèi)。該檢測電子元件表面缺陷的裝置不方便對待檢測的電子元件兩側(cè)進行鎖接，對電子元件的表面進行觀測不方便；且對其進行檢測效率低。

實用新型內(nèi)容

本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供可以使放大鏡豎直滑動穩(wěn)定性更加好；通過放大鏡可以方便檢測者對電子元件的表面缺陷進行觀測，從而也方便操作者通過檢測儀器對電子元件的表面缺陷進行檢測的電子元件表面缺陷檢測裝置。

本實用新型是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的：

電子元件表面缺陷檢測裝置，包括底座，底座的底部一側(cè)設(shè)有第一安裝軸，第一安裝軸的兩端均設(shè)有第一移動輪，底座的底部另一側(cè)設(shè)有第二安裝軸，第二安裝軸的兩端均設(shè)有第二移動輪；底座的一側(cè)上設(shè)有第一定位座，第一定位座的對內(nèi)朝向面位置設(shè)有第一定位槽，底座的另一側(cè)上設(shè)有第二定位座，第二定位座的對內(nèi)朝向面位置設(shè)有第二定位槽，第二定位槽與第一定位槽對應(yīng)；第一定位座的頂部設(shè)有一對第一導(dǎo)向軸，第一導(dǎo)向軸呈豎直布置，第二定位座的頂部設(shè)有一對第二導(dǎo)向軸，第二導(dǎo)向軸呈豎直布置，第一導(dǎo)向軸與第二導(dǎo)向軸的頂部之間設(shè)有頂板，頂板的中部位置設(shè)有液壓缸，液壓缸的下部設(shè)有活塞桿，活塞桿的下端設(shè)有升降架，升降架的下部設(shè)有放大鏡，放大鏡與升降架的一側(cè)之間設(shè)有第一滑管，第一滑管套裝在第一導(dǎo)向軸的外周面，放大鏡與升降架的另一側(cè)之間設(shè)有第二滑管，第二滑管套裝在第二導(dǎo)向軸的外周面。

進一步地，所述第一導(dǎo)向軸的頂部與頂板的一側(cè)之間設(shè)有第一扣架，第二導(dǎo)向軸的頂部與頂板的另一側(cè)之間設(shè)有第二扣架。

進一步地，所述活塞桿的下端與升降架的頂部之間設(shè)有固定球。

進一步地，所述升降架的橫截面為弧形形狀。

進一步地，所述第一移動輪與第二移動輪均為萬向輪。

本實用新型的有益效果是：操作者可以將待檢測的電子元件放置在底座的頂面上，第一定位座通過第一定位槽以及第二定位座通過第二定位槽可以方便對待檢測的電子元件的兩側(cè)進行定位安裝；液壓缸通過活塞桿可以控制升降架實現(xiàn)豎直升降調(diào)節(jié)，升降架的豎直升降調(diào)節(jié)可以帶動放大鏡實現(xiàn)豎直升降調(diào)節(jié)，第一滑管沿著第一導(dǎo)向軸實現(xiàn)豎直滑動調(diào)節(jié)，第二滑管沿著第二導(dǎo)向軸實現(xiàn)豎直滑動調(diào)節(jié)，從而可以使放大鏡豎直滑動穩(wěn)定性更加好；通過放大鏡可以方便檢測者對電子元件的表面缺陷進行觀測，從而也方便操作者通過檢測儀器對電子元件的表面缺陷進行檢測。

附圖說明

為了易于說明，本實用新型由下述的具體實施例及附圖作以詳細描述。

圖1為本實用新型電子元件表面缺陷檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式