[實用新型]一種用于納米載體制備的激光粒徑分析儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820709538.3
• 申請日: 2018-05-14
• 公開（公告）號: CN208420619U
• 公開（公告）日: 2019-01-22
• 發(fā)明（設計）人: 金鑫;張又文;車道標;童德銀;楊青;蔡寧
• 申請（專利權）人: 宿遷市第一人民醫(yī)院
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 蘇州市方略專利代理事務所(普通合伙) 32267
• 代理人: 劉燕嬌

1.一種用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：包括激光測量器（1）、電控箱（2）、樣品池（3）、攪拌池（4）、機座（5）和機箱（6），所述機箱（6）設置在機座（5）的上端面上，所述機箱（6）的側壁上設有支撐架（61），所述電控箱（2）設置在支撐架（61）上，所述激光測量器（1）設置在機箱（6）內(nèi)，所述樣品池（3）設置在激光測量器（1）內(nèi)，所述攪拌池（4）與樣品池（3）連接，并且攪拌池（4）設置在機箱（6）的頂板上，所述電控箱（2）和激光測量器（1）電性連接。

2.根據(jù)權利要求1所述的用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：所述激光測量器（1）包括從左至右依次設置在機箱（6）上的激光器（11）、擴束鏡（12）、傅里葉透鏡（13）和光電探測器（14），所述樣品池（3）設置在傅里葉透鏡（13）和光電探測器（14）之間，所述激光器（11）和光電探測器（14）與電控箱（2）電性連接。

3.根據(jù)權利要求1所述的用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：所述樣品池（3）的兩側壁上設有超聲波發(fā)生器（31）。

4.根據(jù)權利要求3所述的用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：所述樣品池（3）上設有樣品進液口（32）和樣品出液口（33），所述樣品進液口（32）和攪拌池（4）之間設有輸液管（34），所述樣品出液口（33）和攪拌池（4）之間設有回流管（35）。

5.根據(jù)權利要求4所述的用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：所述回流管（35）上設有廢液回收管（36），所述廢液回收管（36）的末端設有廢液回收桶（7）。

6.根據(jù)權利要求5所述的用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：所述機箱（6）內(nèi)還設有純凈水桶（8），所述純凈水桶（8）和攪拌池（4）之間設有水管（81），所述水管（81）、輸液管（34）和回流管（35）上均設有水泵（9）。

7.根據(jù)權利要求1所述的用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：所述攪拌池（4）內(nèi)設有中間旋轉軸（41），所述中間旋轉軸（4）上設有一組攪拌葉片（42），所述中間旋轉軸（41）通過電機（43）驅動，所述攪拌池（4）的底部設有超聲波分散器（44）。

8.根據(jù)權利要求1所述的用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：所述機箱（6）上設有觀察窗（62）。

9.根據(jù)權利要求1所述的用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：所述機座（5）的下端面設有滾輪（51）。

10.根據(jù)權利要求2所述的用于納米載體制備的激光粒徑分析儀，其特征在于：所述樣品池（3）、傅里葉透鏡（13）和光電探測器（14）的下端部設置在滑動裝置（10）上，所述滑動裝置（10）包括螺桿（101）、滑塊（102）和伺服電機（103），所述螺桿（101）和伺服電機（103）連接，所述滑塊（102）套設在螺桿（101）上，所述樣品池（3）、傅里葉透鏡（13）和光電探測器（14）分別設置在滑塊（102）上。