[實用新型]半導體器件有效
| 申請號: | 201820698915.8 | 申請日: | 2017-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN209434177U | 公開(公告)日: | 2019-09-24 |
| 發明(設計)人: | 吳澄瑋 | 申請(專利權)人: | 吳澄瑋 |
| 主分類號: | H01L23/488 | 分類號: | H01L23/488 |
| 代理公司: | 北京寰華知識產權代理有限公司 11408 | 代理人: | 林柳岑;賀亮 |
| 地址: | 中國臺灣臺北市中*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 金屬柱 半導體器件 第一端 腰部 重分布結構 處理器芯片 側表面 向內 | ||
揭示一種半導體器件。所述半導體器件包括重分布結構、處理器芯片和金屬柱。所述金屬柱具有第一端和第二端。所述金屬柱的第一端連接到所述重分布結構。所述第一端具有第一寬度。所述第二端具有第二寬度。所述金屬柱具有腰部寬度。所述第一寬度大于所述腰部寬度。所述第二寬度大于所述腰部寬度。所述金屬柱具有一側表面。所述側表面向內彎曲或向外彎曲。
技術領域
本實用新型涉及半導體封裝技術領域,尤其涉及一種晶圓級芯片尺寸封裝(waferlevel chip scale packages(WLCSP))。
背景技術
在半導體產業中,芯片(die)內的集成密度成長迅速。芯片包括大量的主動與被動電子器件,因此可在所述芯片中執行多種功能。可在硅晶圓上通過半導體制程來行程所述電子器件。在完成所述電子器件的制程后,可將所述晶圓分離成多個芯片。之后對每一芯片進行封裝處理,進而在所述芯片外形成保護性封裝。所述芯片封裝也可作為芯片和印刷電路板間的連接介面。積體電路的常見應用包括行動電話系統、電視系統、個人電腦系統與網路系統。
已發展出多種封裝類型,例如雙列直插管腳封裝(DIP)、四方形平面封裝(QFP)、球柵陣列(BGA)及晶圓級芯片尺寸封裝(WLCSP)。DIP在兩平行側邊上有連接管腳。DIP通常使用通孔安裝或插座,以供放置于印刷電路板上。DIP通常包括填充于金屬引線框架的絕緣材料。
QFP通常會有翅狀引線由所述封裝的四周延伸。QFP的接點只能位于所述封裝的周邊區域,因此其管腳數目受限。BGA可使用整個表面以形成接點陣列,而使得其能夠提供更高的球數。所述接點陣和所述芯片間的長度較短,這對高速信號傳輸更為有利。WLCSP的封裝器件尺寸和芯片尺寸幾乎相等。WLCSP通常小于BGA封裝。但是,現存的WLCSP的結構形狀不佳,造成信號完整性(integrity)以及結構穩定性不好。所以,業界非常需要新的WLCSP,來達到較佳的信號完整性以及結構穩定性。
實用新型內容
發明人在觀察到上述的技術問題后,提出了本實用新型,以解決上述的一個或多個技術問題。
本實用新型的一個目的在于提供一種半導體器件,其金屬柱兩端有較大的連接區域,可達到較佳的信號完整性以及結構穩定性。
本實用新型的另一個目的是提供一種半導體器件,其金屬柱能夠通過焊料凸塊連接到DRAM模塊,可提供更好的擴充性。
根據本實用新型一態樣,揭示一種半導體器件。所述半導體器件包括重分布結構、處理器芯片以及金屬柱。所述處理器芯片具有有源側和背側。所述有源側朝向第一方向。所述處理器芯片的有源側連接到所述重分布結構。
所述金屬柱具有第一端、第二端和腰部。所述金屬柱的第一端連接到所述重分布結構。所述第一端朝向所述第一方向。所述第一端具有第一寬度。所述第二端具有第二寬度。所述腰部具有腰部寬度。所述第一寬度大于所述腰部寬度。所述第二寬度大于所述腰部寬度。所述金屬柱具有側表面。所述側表面向內彎曲。
根據本實用新型另一態樣,揭示一種半導體器件。所述半導體器件包括重分布結構、處理器芯片以及金屬柱。所述處理器芯片具有有源側和背側。所述有源側朝向第一方向。所述處理器芯片的有源側連接到所述重分布結構。
所述金屬柱具有第一端、第二端及腰部。所述金屬柱的第一端連接到所述重分布結構。所述第一端朝向所述第一方向。所述第一端具有第一寬度。所述第二端具有第二寬度。所述腰部具有腰部寬度。所述第一寬度大于所述第二寬度。所述第二寬度大于所述腰部寬度。所述金屬柱具有側表面。所述側表面向內彎曲。
相比于現有技術,本實用新型的技術方案具備以下有益效果:金屬柱兩端有較大的連接區域,可達到較佳的信號完整性以及結構穩定性。金屬柱能夠通過焊料凸塊連接到DRAM模塊,可提供更好的擴充性。
附圖說明
附圖1是半導體器件一實施方式的示意圖;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于吳澄瑋,未經吳澄瑋許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201820698915.8/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:半導體器件
- 下一篇:半導體結構及測試系統





