[實(shí)用新型]探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820684913.3 | 申請(qǐng)日: | 2018-05-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN208283312U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙博震;王鈞效;李樹(shù)偉;鄒湘;翟興亮;張文劍;朱維彬;張清軍;趙自然 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 同方威視技術(shù)股份有限公司;清華大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N23/04 | 分類號(hào): | G01N23/04 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人: | 艾春慧 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 信號(hào)輸入連接件 探測(cè)器 板體 封罩 探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu) 信號(hào)輸入?yún)^(qū) 第一表面 本實(shí)用新型 探測(cè)器組件 信號(hào)輸出 連接件 封蓋 數(shù)據(jù)采集電路板 環(huán)境適應(yīng)性能 第一連接件 連接探測(cè)器 探測(cè)器連接 第二表面 密封元件 使用壽命 貼合 罩設(shè) 密封 | ||
1.一種探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:
探測(cè)器組件(6),包括探測(cè)器(61)和與所述探測(cè)器(61)連接的信號(hào)輸出連接件(62);
數(shù)據(jù)采集電路板(5),包括板體和信號(hào)輸入連接件(511),所述板體的第一表面具有信號(hào)輸入?yún)^(qū)(51),所述信號(hào)輸入連接件(511)設(shè)置于所述信號(hào)輸入?yún)^(qū)(51),所述信號(hào)輸出連接件(62)與所述信號(hào)輸入連接件(511)連接;
第一封蓋(1),貼合于所述板體的與所述第一表面相對(duì)的第二表面;
探測(cè)器封罩,罩設(shè)于所述探測(cè)器組件(6)和所述信號(hào)輸入連接件(511)外;
第一連接件,連接所述探測(cè)器封罩、所述板體和所述第一封蓋(1);和
第一密封元件,設(shè)置于所述探測(cè)器封罩與所述第一表面之間,用于密封所述探測(cè)器封罩和所述信號(hào)輸入?yún)^(qū)(51)所形成的區(qū)域。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu),其特征在于,
所述第一連接件為第一螺紋連接件(81),所述探測(cè)器封罩、所述板體和所述第一封蓋(1)通過(guò)所述第一螺紋連接件(81)可拆卸地連接;和/或,
所述第一密封元件為第一密封圈(71),所述探測(cè)器封罩與所述第一表面相對(duì)的端面設(shè)置有第一密封槽(421),所述第一密封圈(71)安裝于所述第一密封槽(421)內(nèi)并抵壓于所述第一表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu),其特征在于,所述板體的第一表面還具有信號(hào)處理區(qū)(52),所述數(shù)據(jù)采集電路板(5)還包括設(shè)置于所述信號(hào)處理區(qū)(52)的信號(hào)處理元件(521),所述探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu)還包括:
第二封蓋(2),罩設(shè)于所述信號(hào)處理元件(521)外;
第二連接件,連接所述第二封蓋(2)、所述板體和所述第一封蓋(1);和
第二密封元件,設(shè)置于所述第二封蓋(2)與所述板體的第一表面之間,用于密封所述第二封蓋(2)和所述信號(hào)處理區(qū)(52)所形成的區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu),其特征在于,
所述第二連接件為第二螺紋連接件(82),所述第二封蓋(2)、所述板體和所述第一封蓋(1)通過(guò)所述第二螺紋連接件(82)可拆卸地連接;和/或,
所述第二密封元件為第二密封圈(72),所述第二封蓋(2)與所述第一表面相對(duì)的端面設(shè)置有第二密封槽,所述第二密封圈(72)安裝于所述第二密封槽內(nèi)并抵壓于所述第一表面。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu),其特征在于,所述探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu)包括第三密封元件,所述第三密封元件設(shè)置于所述第一封蓋(1)與所述第二表面之間,用于密封所述第一封蓋(1)和所述第二表面的與所述信號(hào)輸入?yún)^(qū)(51)相對(duì)的部分所形成的區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu),其特征在于,所述第三密封元件為第三密封圈(73),所述第一封蓋(1)的與所述第二表面相對(duì)的端面設(shè)置有第三密封槽(11),所述第三密封圈(73)安裝于所述第三密封槽(11)內(nèi)并抵壓于所述第二表面。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu),其特征在于,所述探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu)包括第四密封元件,所述第四密封元件設(shè)置于所述第一封蓋(1)與所述第二表面之間,用于密封所述第一封蓋(1)和所述第二表面的與所述信號(hào)處理區(qū)(52)相對(duì)的部分所形成的區(qū)域。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu),其特征在于,所述第四密封元件為第四密封圈(74),所述第一封蓋(1)與所述第二表面相對(duì)的端面設(shè)置有第四密封槽(12),所述第四密封圈(74)安裝于所述第四密封槽(12)內(nèi)并抵壓于所述第二表面。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的探測(cè)器模塊結(jié)構(gòu),其特征在于,所述探測(cè)器封罩包括:
過(guò)渡支架(4),所述第一連接件連接所述過(guò)渡支架(4)、所述板體和所述第一封蓋(1),所述第一密封元件設(shè)置于所述過(guò)渡支架(4)的端面與所述板體的第一表面之間;和
罩體(3),套裝于所述過(guò)渡支架(4)外并與所述過(guò)渡支架(4)密封連接。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





